公开(公告)号：US07886247B2

公开(公告)日：2011-02-08

申请号：US12111634

申请日：2008-04-29

申请人： Hanif Fatemi ,  Chandramouli Visweswariah ,  Jinjun Xiong ,  Vladimir Zolotov

发明人： Hanif Fatemi ,  Chandramouli Visweswariah ,  Jinjun Xiong ,  Vladimir Zolotov

IPC分类号： G06F17/50

CPC分类号： G01R31/318371

摘要： In one embodiment, the invention is a method and apparatus for statistical path selection for at-speed testing. One embodiment of a method for selecting a path of an integrated circuit chip for at-speed testing includes computing a process coverage metric for a plurality of paths in the integrated circuit chip and selecting at least one path that maximizes the process coverage metric.

摘要翻译： 在一个实施例中，本发明是用于速度测试的统计路径选择的方法和装置。 用于选择用于高速测试的集成电路芯片的路径的方法的一个实施例包括计算集成电路芯片中的多个路径的处理覆盖度量度，并且选择使过程覆盖度量最大化的至少一个路径。

公开(公告)号：US20090271751A1

公开(公告)日：2009-10-29

申请号：US12111634

申请日：2008-04-29

申请人： HANIF FATEMI ,  Chandramouli Visweswariah ,  Jinjun Xiong ,  Vladimir Zolotov

发明人： HANIF FATEMI ,  Chandramouli Visweswariah ,  Jinjun Xiong ,  Vladimir Zolotov

IPC分类号： G06F17/50

CPC分类号： G01R31/318371

摘要： In one embodiment, the invention is a method and apparatus for statistical path selection for at-speed testing. One embodiment of a method for selecting a path of an integrated circuit chip for at-speed testing includes computing a process coverage metric for a plurality of paths in the integrated circuit chip and selecting at least one path that maximizes the process coverage metric.

摘要翻译： 在一个实施例中，本发明是用于速度测试的统计路径选择的方法和装置。 用于选择用于高速测试的集成电路芯片的路径的方法的一个实施例包括计算集成电路芯片中的多个路径的处理覆盖度量度，并且选择使过程覆盖度量最大化的至少一个路径。