公开(公告)号：US5754758A

公开(公告)日：1998-05-19

申请号：US638372

申请日：1996-04-26

申请人： Sang-Hyeon Baeg ,  Heon-cheol Kim ,  Ho-royng Kim ,  Chang-hyun Cho

发明人： Sang-Hyeon Baeg ,  Heon-cheol Kim ,  Ho-royng Kim ,  Chang-hyun Cho

IPC分类号： G06F12/16 ,  G06F13/00 ,  G11C29/32 ,  G01R31/28 ,  G06F11/22

CPC分类号： G11C29/32

摘要： A serial memory interface includes a register having a plurality of flip-flops forming a scan chain and coupled to both the input and output terminals of memory cells. An interlaced scan is established by interconnecting scan chains between multiple memory blocks. The interface structure provides a means for efficiently performing a built-in self test of an embedded memory while requiring minimal overhead in hardware structure.

摘要翻译： 串行存储器接口包括具有形成扫描链并耦合到存储器单元的输入和输出端的多个触发器的寄存器。 通过在多个存储器块之间互连扫描链来建立隔行扫描。 接口结构提供了一种有效地执行嵌入式存储器的内置自检的方式，同时在硬件结构中需要最小的开销。