公开(公告)号：US08203875B2

公开(公告)日：2012-06-19

申请号：US13014917

申请日：2011-01-27

申请人： Nurul Amin ,  Insik Jim ,  Venugopalan Vaithyanathan ,  Wei Tian ,  YoungPil Kim

发明人： Nurul Amin ,  Insik Jim ,  Venugopalan Vaithyanathan ,  Wei Tian ,  YoungPil Kim

IPC分类号： G11C11/36

CPC分类号： H01L27/224 ,  G11C11/1659 ,  G11C13/0007 ,  G11C13/0011 ,  H01L27/1021

摘要： An anti-parallel diode structure and method of fabrication is presently disclosed. In some embodiments, an anti-parallel diode structure has a semiconductor region comprising a first insulator layer disposed between a first semiconductor layer and a second semiconductor layer. The semiconductor region can be bound on a first side by a first metal material and bound on a second side by a second metal material so that current below a predetermined value is prevented from passing through the semiconductor region and current above the predetermined value passes through the semiconductor region.

摘要翻译： 目前公开了一种反并联二极管结构和制造方法。 在一些实施例中，反并联二极管结构具有包括设置在第一半导体层和第二半导体层之间的第一绝缘体层的半导体区域。 半导体区域可以通过第一金属材料在第一侧上结合并且通过第二金属材料在第二侧上结合，使得防止低于预定值的电流通过半导体区域，并且超过预定值的电流通过 半导体区域。

公开(公告)号：US07974117B2

公开(公告)日：2011-07-05

申请号：US12497964

申请日：2009-07-06

申请人： Wei Tan ,  Nurul Amin ,  Insik Jim ,  Ming Sun ,  Venu Vaithyanathan ,  YoungPil Kim ,  Chulmin Jung

发明人： Wei Tan ,  Nurul Amin ,  Insik Jim ,  Ming Sun ,  Venu Vaithyanathan ,  YoungPil Kim ,  Chulmin Jung

IPC分类号： G11C11/00

CPC分类号： G11C13/003 ,  G11C13/0004 ,  G11C13/0007 ,  G11C13/0011 ,  G11C13/004 ,  G11C13/0069 ,  G11C2013/0073 ,  G11C2213/15 ,  G11C2213/31 ,  G11C2213/32 ,  G11C2213/56 ,  G11C2213/76

摘要： A non-volatile memory cell with a programmable unipolar switching element, and a method of programming the memory element are disclosed. In some embodiments, the memory cell comprises a programmable bipolar resistive sense memory element connected in series with a programmable unipolar resistive sense switching element. The memory element is programmed to a selected resistance state by application of a selected write current in a selected direction through the cell, wherein a first resistance level is programmed by passage of a write current in a first direction and wherein a second resistance level is programmed by passage of a write current in an opposing second direction. The switching element is programmed to a selected resistance level to facilitate access to the selected resistance state of the memory element.

摘要翻译： 公开了一种具有可编程单极开关元件的非易失性存储单元，以及编程存储器元件的方法。 在一些实施例中，存储单元包括与可编程单极性电阻感测开关元件串联连接的可编程双极性电阻读出存储元件。 通过在所选择的方向上通过单元施加选择的写入电流将存储元件编程为所选择的电阻状态，其中通过沿第一方向的写入电流来编程第一电阻电平，并且其中第二电阻电平被编程 通过在相反的第二方向上的写入电流。 开关元件被编程为所选择的电阻水平以便于访问存储元件的所选择的电阻状态。