公开(公告)号：US5731411A

公开(公告)日：1998-03-24

申请号：US483115

申请日：1995-06-07

申请人： Oleg Voloshin ,  Lijiang Wang ,  R. Daniel Camerini-Otero

发明人： Oleg Voloshin ,  Lijiang Wang ,  R. Daniel Camerini-Otero

IPC分类号： A61K38/00 ,  C07K14/245 ,  C07K17/08 ,  A61K38/10

CPC分类号： C07K14/245 ,  A61K38/00

摘要： A peptide having at least 15 consecutive amino acids of the amino acid sequence shown in SEQ ID NO:1 or conservative amino acid substitutions thereof. The peptide is capable of promoting pairing of a single-stranded DNA molecule and a double-stranded DNA molecule. The single-stranded DNA molecule is homologous to at least a portion of the double-stranded DNA molecule. The single-stranded DNA molecule and the double-stranded DNA molecule form a three-stranded DNA molecule.

摘要翻译： 具有SEQ ID NO：1所示氨基酸序列至少15个连续氨基酸的肽或其保守氨基酸取代的肽。 该肽能够促进单链DNA分子和双链DNA分子的配对。 单链DNA分子与至少一部分双链DNA分子同源。 单链DNA分子和双链DNA分子形成三链DNA分子。

公开(公告)号：US20050278663A1

公开(公告)日：2005-12-15

申请号：US10709807

申请日：2004-05-28

申请人： Douglas Kemerer ,  Daniel Maynard ,  Gustavo Tellez ,  Lijiang Wang ,  Peter Wissell

发明人： Douglas Kemerer ,  Daniel Maynard ,  Gustavo Tellez ,  Lijiang Wang ,  Peter Wissell

IPC分类号： G06F17/50

CPC分类号： G06F17/5081 ,  G06F2217/12 ,  Y02P90/265

摘要： A method and a system for improving manufacturing productivity of an integrated circuit. The method including: (a) generating a set of physical design rules, (b) assigning a rule scoring equation to each physical design rule of the set of physical design rules; (c) checking a physical design of the integrated circuit for deviations from each design rule; (d) computing a score for each physical design rule, using the corresponding rule scoring equation assigned to each physical design rule, for which one or more deviations were found in step (c); and (e) computing a productivity score for the integrated circuit design based on the scores computed in step (d).

摘要翻译： 一种用于提高集成电路的制造生产率的方法和系统。 该方法包括：（a）生成一组物理设计规则，（b）将规则评分方程分配给所述一组物理设计规则的每个物理设计规则; （c）检查集成电路的物理设计以偏离每个设计规则; （d）使用分配给每个物理设计规则的相应规则评分方程计算每个物理设计规则的分数，在步骤（c）中发现一个或多个偏差; 以及（e）基于步骤（d）中计算出的分数计算集成电路设计的生产率得分。

公开(公告)号：US20070209026A1

公开(公告)日：2007-09-06

申请号：US11276511

申请日：2006-03-03

申请人： Doublas Kemerer ,  Edward Seibert ,  Lijiang Wang

发明人： Doublas Kemerer ,  Edward Seibert ,  Lijiang Wang

IPC分类号： G06F17/50

CPC分类号： G06F17/5081

摘要： A method comprises tracing a first and second terminal of a junction through a circuit layout to associated power supplies to determine their respective defined bias values. The method further comprises comparing the defined bias values of each terminal in order to determine, based on the comparison, whether the junction is forward biased.

摘要翻译： 一种方法包括通过电路布局将结的第一和第二端跟踪到相关联的电源，以确定它们各自定义的偏置值。 该方法还包括比较每个端子的限定的偏置值，以便基于比较来确定该结是正向偏置的。