公开(公告)号：US07639002B1

公开(公告)日：2009-12-29

申请号：US11410362

申请日：2006-04-25

申请人： Murari Kejariwal ,  Prisad Ammisetti ,  Axel Thomsen ,  John Laurence Melanson

发明人： Murari Kejariwal ,  Prisad Ammisetti ,  Axel Thomsen ,  John Laurence Melanson

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31707

摘要： A method of testing an integrated circuit including a plurality of test nodes includes initiating a test mode and, during a first time interval of the test mode, stepping a level of a supply current of the integrated circuit to a calibration level. Parameters are observed at the plurality of test nodes to detect errors during a second time interval of the test mode and the level of the supply current selectively stepped in response to a number of errors detected. The level of the supply current is decoded to identify the detected errors.

摘要翻译： 一种测试包括多个测试节点的集成电路的方法包括启动测试模式，并且在测试模式的第一时间间隔期间，使集成电路的电源电平的级别达到校准水平。 在多个测试节点处观察参数以在测试模式的第二时间间隔期间检测错误，并且响应于检测到的错误的数量选择性地步进电源电平。 电源电流的电平被解码以识别检测到的错误。