公开(公告)号：US20060100844A1

公开(公告)日：2006-05-11

申请号：US10983817

申请日：2004-11-08

申请人： Keng-Chia Yang ,  Yi-Sheng Huang ,  Ben-Hui Yu ,  Chung-Lin Hsieh ,  Chien-Wei Wang ,  Tsung-Hsin Yang ,  Tzu-Cheng Huang

发明人： Keng-Chia Yang ,  Yi-Sheng Huang ,  Ben-Hui Yu ,  Chung-Lin Hsieh ,  Chien-Wei Wang ,  Tsung-Hsin Yang ,  Tzu-Cheng Huang

IPC分类号： G06F13/10

CPC分类号： G01R31/31718 ,  G01R31/318357

摘要： A system and method thereof for test time forecasting. The system comprises a storage device and a first program module. The storage device stores Circuit Probing (CP) test records individually storing information regarding a test time and a yield of a test unit corresponding to a test program. The first program module receives the CP test records and generates a new test time forecast model according to the CP test records. The new test time forecast model determines a dependent variable corresponding to the test time by utilizing an independent variable corresponding to the yield.

摘要翻译： 一种用于测试时间预测的系统及其方法。 该系统包括存储装置和第一程序模块。 存储装置存储单独存储与测试程序对应的测试时间和测试单元的产量的信息的电路测试（CP）测试记录。 第一个程序模块接收CP测试记录，并根据CP测试记录生成新的测试时间预测模型。 新的测试时间预测模型通过利用与产量相对应的独立变量来确定与测试时间相对应的因变量。