公开(公告)号：US20120030846A1

公开(公告)日：2012-02-02

申请号：US13194422

申请日：2011-07-29

申请人： Shamachary Sathish ,  Vijayaraghava Nalladega ,  Kumar V. Jata ,  Mark P. Blodgett

发明人： Shamachary Sathish ,  Vijayaraghava Nalladega ,  Kumar V. Jata ,  Mark P. Blodgett

IPC分类号： G01Q20/02 ,  G01Q10/00

CPC分类号： G01Q60/08

摘要： An atomic force microscope (AFM) system capable of imaging multiple physical properties of a sample material at the nanoscale level. The system provides an apparatus and method for imaging physical properties using an electromagnetic coil placed under the sample. Excitation of the coil creates currents in the sample, which may be used to image a topography of the sample, a physical property of the sample, or both.

摘要翻译： 原子力显微镜（AFM）系统能够在纳米尺度上对样品材料的多种物理特性进行成像。 该系统提供了使用放置在样品下方的电磁线圈对物理性质进行成像的装置和方法。 线圈的激发在样品中产生电流，其可用于对样品的形貌进行成像，样品的物理性质或两者。

公开(公告)号：US08726410B2

公开(公告)日：2014-05-13

申请号：US13194422

申请日：2011-07-29

申请人： Shamachary Sathish ,  Vijayaraghava Nalladega ,  Kumar V Jata ,  Mark P Blodgett

发明人： Shamachary Sathish ,  Vijayaraghava Nalladega ,  Kumar V Jata ,  Mark P Blodgett

IPC分类号： G01Q60/50 ,  G01Q60/56

CPC分类号： G01Q60/08

摘要： An atomic force microscope (AFM) system capable of imaging multiple physical properties of a sample material at the nanoscale level. The system provides an apparatus and method for imaging physical properties using an electromagnetic coil placed under the sample. Excitation of the coil creates currents in the sample, which may be used to image a topography of the sample, a physical property of the sample, or both.

摘要翻译： 原子力显微镜（AFM）系统能够在纳米尺度上对样品材料的多种物理特性进行成像。 该系统提供了使用放置在样品下方的电磁线圈对物理性质进行成像的装置和方法。 线圈的激发在样品中产生电流，其可用于对样品的形貌进行成像，样品的物理性质或两者。