公开(公告)号：US20040019449A1

公开(公告)日：2004-01-29

申请号：US10201512

申请日：2002-07-23

申请人： ADC DSL Systems, Inc.

发明人： Juan A. Espinoza ,  L. Grant Giddens ,  Clark Tollerson

IPC分类号： G06F019/00

CPC分类号： G01R23/005

摘要： Testing an oscillator and other electronic devices on a circuit board. One method of the present invention comprises powering the oscillator. Providing test instructions to a microprocessor on the circuit board to place the microprocessor in a test mode. Receiving a clock signal from the oscillator at a multiplexer in a field programmable gate array. Receiving operating instructions at the multiplexer from the microprocessor. Multiplexing the clock signal to an external access port with the multiplexer in response to the operating instructions and measuring the frequency of the clock signal at the external access port.

摘要翻译： 在电路板上测试振荡器和其他电子设备。 本发明的一种方法包括给振荡器供电。 向电路板上的微处理器提供测试指令，以将微处理器置于测试模式。 在现场可编程门阵列中的多路复用器处从振荡器接收时钟信号。 从微处理器接收多路复用器的操作指令。 响应于操作指令并且测量外部接入端口处的时钟信号的频率，将时钟信号复用到多路复用器的外部访问端口。