公开(公告)号：US07492628B2

公开(公告)日：2009-02-17

申请号：US11933505

申请日：2007-11-01

申请人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

发明人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

IPC分类号： G11C11/00

CPC分类号： G11C11/412 ,  G11C11/413

摘要： Techniques are provided for a computer-readable medium encoding a memory using a back-gate controlled asymmetrical memory cell. In one aspect, the cell includes five transistors and can be employed for static random access memory (SRAM) applications. An encoded inventive memory circuit can include a plurality of bit line structures, a plurality of word line structures that intersect the plurality of bit line structures to form a plurality of cell locations, and a plurality of cells located at the plurality of cell locations. Each cell can be selectively coupled to a corresponding one of the bit line structures under control of a corresponding one of the word line structures. Each cell can include a first inverter having first and second field effect transistors (FETS) and a second inverter with third and fourth FETS that is cross-coupled to the first inverter to form a storage flip-flop. One of the FETS in the first inverter can be configured with independent front and back gates and can function as both an access transistor and part of one of the inverters.

摘要翻译： 为使用背栅控制的非对称存储单元编码存储器的计算机可读介质提供技术。 在一个方面，电池包括五个晶体管，并且可以用于静态随机存取存储器（SRAM）应用。 编码的本发明的存储器电路可以包括多个位线结构，与多个位线结构相交以形成多个单元位置的多个字线结构以及位于多个单元位置的多个单元。 每个单元可以在对应的一个字线结构的控制下选择性地耦合到相应的一个位线结构。 每个单元可以包括具有第一和第二场效应晶体管（FETS）的第一反相器和具有与第一反相器交叉耦合以形成存储触发器的第三和第四FET的第二反相器。 第一反相器中的FETS之一可以配置有独立的前门和后门，并且可以用作存取晶体管和其中一个逆变器的一部分。

公开(公告)号：US20080278992A1

公开(公告)日：2008-11-13

申请号：US12140366

申请日：2008-06-17

申请人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

发明人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

IPC分类号： G11C11/00

CPC分类号： G11C11/412

摘要： Techniques are provided for employing independent gate control in asymmetrical memory cells. A memory circuit, such as an SRAM circuit, can include a number of bit line structures, a number of word line structures that intersect the bit line structures to form a number of cell locations, and a number of asymmetrical memory cells located at the cell locations. Each of the asymmetrical cells can be selectively coupled to a corresponding one of the bit line structures under control of a corresponding one of the word line structures. Each of the cells can include a number of field effect transistors (FETS), and at least one of the FETS can be configured with separately biased front and back gates. One gate can be biased separately from the other gate in a predetermined manner to enhance read stability of the asymmetrical cell.

摘要翻译： 提供了在不对称存储单元中采用独立门控制的技术。 诸如SRAM电路的存储器电路可以包括多个位线结构，与位线结构相交以形成多个单元位置的多个字线结构以及位于单元的多个非对称存储单元 位置。 每个非对称单元可以在相应的一个字线结构的控制下选择性地耦合到位线结构中的对应的一个。 每个单元可以包括多个场效应晶体管（FETS），并且FETS中的至少一个可以被配置为单独偏置的前门和后门。 一个栅极可以以预定的方式与另一个栅极分开偏置，以增强不对称单元的读取稳定性。

公开(公告)号：US07417889B2

公开(公告)日：2008-08-26

申请号：US11362612

申请日：2006-02-27

申请人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

发明人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

IPC分类号： G11C11/00

CPC分类号： G11C11/412

摘要： Techniques are provided for employing independent gate control in asymmetrical memory cells. A memory circuit, such as an SRAM circuit, can include a number of bit line structures, a number of word line structures that intersect the bit line structures to form a number of cell locations, and a number of asymmetrical memory cells located at the cell locations. Each of the asymmetrical cells can be selectively coupled to a corresponding one of the bit line structures under control of a corresponding one of the word line structures. Each of the cells can include a number of field effect transistors (FETS), and at least one of the FETS can be configured with separately biased front and back gates. One gate can be biased separately from the other gate in a predetermined manner to enhance read stability of the asymmetrical cell.

摘要翻译： 提供了在不对称存储单元中采用独立门控制的技术。 诸如SRAM电路的存储器电路可以包括多个位线结构，与位线结构相交以形成多个单元位置的多个字线结构以及位于单元的多个非对称存储单元 位置。 每个非对称单元可以在相应的一个字线结构的控制下选择性地耦合到位线结构中的对应的一个。 每个单元可以包括多个场效应晶体管（FETS），并且FETS中的至少一个可以被配置为单独偏置的前门和后门。 一个栅极可以以预定的方式与另一个栅极分开偏置，以增强不对称单元的读取稳定性。

公开(公告)号：US20060227595A1

公开(公告)日：2006-10-12

申请号：US11100893

申请日：2005-04-07

申请人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

发明人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

IPC分类号： G11C11/00

CPC分类号： G11C11/412

摘要： Disclosed is an eight transistor static random access memory (SRAM) device, comprising first and second inverters, a first bit line, a first complement bit line, a pair of write access transistors, and a pair of read access transistors. Each of the first and second inverters includes a respective pair of transistors, and has a respective data node. Each of a first and a second of the access transistors has a source, a drain, a front gate, and a back gate. The first access transistor is coupled to the first bit line, and the second access transistor is coupled to the first complement bit line. The back gate of the first access transistor is coupled to the data node of the first inverter; and the back gate of the second access transistor is coupled to the data node of the second inverter. This increases the difference between the threshold voltages of the first and second access transistors.

摘要翻译： 公开了一种八晶体管静态随机存取存储器（SRAM）器件，包括第一和第二反相器，第一位线，第一补码位线，一对写入存取晶体管和一对读存取晶体管。 第一和第二反相器中的每一个包括相应的晶体管对，并具有相应的数据节点。 第一和第二存取晶体管中的每一个具有源极，漏极，前栅极和后栅极。 第一存取晶体管耦合到第一位线，第二存取晶体管耦合到第一补码位线。 第一存取晶体管的背栅极耦合到第一反相器的数据节点; 并且第二存取晶体管的背栅极耦合到第二反相器的数据节点。 这增加了第一和第二存取晶体管的阈值电压之间的差异。

公开(公告)号：US20080144362A1

公开(公告)日：2008-06-19

申请号：US12040966

申请日：2008-03-03

申请人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

发明人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

IPC分类号： G11C11/412

CPC分类号： G11C11/412 ,  H01L27/1104

摘要： Techniques are provided for asymmetrical SRAM cells which can be improved, for example, by providing one or more of improved read stability and improved write performance and margin. A first inverter and a second inverter are cross-coupled and configured for selective coupling to true and complementary bit lines under control of read and write word lines. The first inverter is formed by a first, n-type, FET (NFET) and a second, p-type, FET (PFET). Process and/or technology approaches can be employed to adjust the relative strength of the FETS to obtain, for example, read margin, write margin, and/or write performance improvements.

摘要翻译： 为非对称SRAM单元提供技术，例如可通过提供改进的读取稳定性和改进的写入性能和余量来提供一个或多个。 第一反相器和第二反相器被交叉耦合并且被配置为在读和写字线的控制下选择性地耦合到真和互补的位线。 第一反相器由第一n型FET（NFET）和第二p型FET（PFET）形成。 可以采用过程和/或技术方法来调整FET的相对强度，以获得例如读取余量，写入裕度和/或写入性能改进。

公开(公告)号：US07787285B2

公开(公告)日：2010-08-31

申请号：US12140366

申请日：2008-06-17

申请人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

发明人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

IPC分类号： G11C11/00

CPC分类号： G11C11/412

摘要： Techniques are provided for employing independent gate control in asymmetrical memory cells. A memory circuit, such as an SRAM circuit, can include a number of bit line structures, a number of word line structures that intersect the bit line structures to form a number of cell locations, and a number of asymmetrical memory cells located at the cell locations. Each of the asymmetrical cells can be selectively coupled to a corresponding one of the bit line structures under control of a corresponding one of the word line structures. Each of the cells can include a number of field effect transistors (FETS), and at least one of the FETS can be configured with separately biased front and back gates. One gate can be biased separately from the other gate in a predetermined manner to enhance read stability of the asymmetrical cell.

摘要翻译： 提供了在不对称存储单元中采用独立门控制的技术。 诸如SRAM电路的存储器电路可以包括多个位线结构，与位线结构相交以形成多个单元位置的多个字线结构以及位于单元的多个非对称存储单元 位置。 在对应的一个字线结构的控制下，每个非对称单元可以选择性地耦合到位线结构中的对应的一个。 每个单元可以包括多个场效应晶体管（FETS），并且FETS中的至少一个可以被配置为单独偏置的前门和后门。 一个栅极可以以预定的方式与另一个栅极分开偏置，以增强不对称单元的读取稳定性。

公开(公告)号：US20070201261A1

公开(公告)日：2007-08-30

申请号：US11362612

申请日：2006-02-27

申请人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

发明人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

IPC分类号： G11C11/00

CPC分类号： G11C11/412

摘要： Techniques are provided for employing independent gate control in asymmetrical memory cells. A memory circuit, such as an SRAM circuit, can include a number of bit line structures, a number of word line structures that intersect the bit line structures to form a number of cell locations, and a number of asymmetrical memory cells located at the cell locations. Each of the asymmetrical cells can be selectively coupled to a corresponding one of the bit line structures under control of a corresponding one of the word line structures. Each of the cells can include a number of field effect transistors (FETS), and at least one of the FETS can be configured with separately biased front and back gates. One gate can be biased separately from the other gate in a predetermined manner to enhance read stability of the asymmetrical cell.

摘要翻译： 提供了在不对称存储单元中采用独立门控制的技术。 诸如SRAM电路的存储器电路可以包括多个位线结构，与位线结构相交以形成多个单元位置的多个字线结构以及位于单元的多个非对称存储单元 位置。 每个非对称单元可以在相应的一个字线结构的控制下选择性地耦合到位线结构中的对应的一个。 每个单元可以包括多个场效应晶体管（FETS），并且FETS中的至少一个可以被配置为单独偏置的前门和后门。 一个栅极可以以预定的方式与另一个栅极分开偏置，以增强不对称单元的读取稳定性。

公开(公告)号：US07903450B2

公开(公告)日：2011-03-08

申请号：US12040966

申请日：2008-03-03

申请人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

发明人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

IPC分类号： G11C11/00

CPC分类号： G11C11/412 ,  H01L27/1104

摘要： Asymmetrical SRAM cells are improved by providing one or more of improved read stability and improved write performance and margin. A first inverter and a second inverter are cross-coupled and configured for selective coupling to true and complementary bit lines under control of read and write word lines. The first inverter is formed by a first, n-type, FET (NFET) and a second, p-type, FET (PFET). Process and/or technology approaches can be employed to adjust the relative strength of the FETS to obtain, for example, read margin, write margin, and/or write performance improvements.

摘要翻译： 通过提供改进的读取稳定性和改进的写入性能和余量的一个或多个来改进非对称SRAM单元。 第一反相器和第二反相器被交叉耦合并且被配置为在读和写字线的控制下选择性地耦合到真和互补的位线。 第一反相器由第一n型FET（NFET）和第二p型FET（PFET）形成。 可以采用过程和/或技术方法来调整FET的相对强度，以获得例如读取余量，写入裕度和/或写入性能改进。

公开(公告)号：US20070236982A1

公开(公告)日：2007-10-11

申请号：US11392071

申请日：2006-03-29

申请人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

发明人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

IPC分类号： G11C11/00

CPC分类号： G11C11/412 ,  H01L27/1104

摘要： Techniques are provided for asymmetrical SRAM cells which can be improved, for example, by providing one or more of improved read stability and improved write performance and margin. A first inverter and a second inverter are cross-coupled and configured for selective coupling to true and complementary bit lines under control of read and write word lines. The first inverter is formed by a first, n-type, FET (NFET) and a second, p-type, FET (PFET). Process and/or technology approaches can be employed to adjust the relative strength of the FETS to obtain, for example, read margin, write margin, and/or write performance improvements.

摘要翻译： 为非对称SRAM单元提供技术，例如可通过提供改进的读取稳定性和改进的写入性能和余量来提供一个或多个。 第一反相器和第二反相器被交叉耦合并且被配置为在读和写字线的控制下选择性地耦合到真和互补的位线。 第一反相器由第一n型FET（NFET）和第二p型FET（PFET）形成。 可以采用过程和/或技术方法来调整FET的相对强度，以获得例如读取余量，写入裕度和/或写入性能改进。

公开(公告)号：US20070201273A1

公开(公告)日：2007-08-30

申请号：US11362613

申请日：2006-02-27

申请人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

发明人： Ching-Te Chuang ,  Jae-Joon Kim ,  Keunwoo Kim

IPC分类号： G11C16/04

CPC分类号： G11C11/412 ,  G11C11/413

摘要： Techniques are provided for back-gate control in an asymmetrical memory cell. In one aspect, the cell includes five transistors and can be employed for static random access memory (SRAM) applications. An inventive memory circuit can include a plurality of bit line structures, a plurality of word line structures that intersect the plurality of bit line structures to form a plurality of cell locations, and a plurality of cells located at the plurality of cell locations. Each cell can be selectively coupled to a corresponding one of the bit line structures under control of a corresponding one of the word line structures. Each cell can include a first inverter having first and second field effect transistors (FETS) and a second inverter with third and fourth FETS that is cross-coupled to the first inverter to form a storage flip-flop. One of the FETS in the first inverter can be configured with independent front and back gates and can function as both an access transistor and part of one of the inverters.

摘要翻译： 为非对称存储单元中的背栅极控制提供技术。 在一个方面，电池包括五个晶体管，并且可以用于静态随机存取存储器（SRAM）应用。 本发明的存储器电路可以包括多个位线结构，与多个位线结构相交以形成多个单元位置的多个字线结构以及位于多个单元位置的多个单元。 每个单元可以在对应的一个字线结构的控制下选择性地耦合到相应的一个位线结构。 每个单元可以包括具有第一和第二场效应晶体管（FETS）的第一反相器和具有与第一反相器交叉耦合以形成存储触发器的第三和第四FET的第二反相器。 第一反相器中的FETS之一可以配置有独立的前门和后门，并且可以用作存取晶体管和其中一个逆变器的一部分。