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发明授权
Systems and methods of allocating device testing resources to sites of a probe card 有权
标题翻译：将设备测试资源分配给探针卡的站点的系统和方法

公开(公告)号：US07279919B2

公开(公告)日：2007-10-09

申请号：US11035580

申请日：2005-01-14

申请人： Erik H. Volkerink , Klaus Dieter Hilliges , Edmundo De La Puente

发明人： Erik H. Volkerink , Klaus Dieter Hilliges , Edmundo De La Puente

IPC分类号： G01R31/26

CPC分类号： G01R31/31926

摘要： Systems and methods of allocating device testing resources are described. In one aspect, a system for allocating m resources for testing devices to n sites of a probe card configured to electrically connect to respective test site locations on a substrate, where m and n are integers and m

摘要翻译： 描述了分配设备测试资源的系统和方法。在一个方面，一种用于将测试设备的m个资源分配给探针卡的n个位置的系统，其被配置为电连接到衬底上的相应测试位置位置，其中m和n是整数，并且m