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公开(公告)号：US2810838A
公开(公告)日：1957-10-22
申请号：US34976253
申请日：1953-04-20
Applicant: GEN ELECTRIC
Inventor： CLAPP CHARLES W , STANLEY BERNSTEIN
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2.发明授权Plate thickness measuring device with means to adjust source voltage in response to thickness variations 失效板厚测量装置，具有响应于厚度变化来调节源电压的装置
公开(公告)号：US3334231A
公开(公告)日：1967-08-01
申请号：US37790364
申请日：1964-06-25
Applicant: GEN ELECTRIC
Inventor： STANLEY BERNSTEIN
IPC: G01N23/16
CPC classification number: G01N23/16
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公开(公告)号：US2964633A
公开(公告)日：1960-12-13
申请号：US60078456
申请日：1956-07-30
Applicant: GEN ELECTRIC
Inventor： STANLEY BERNSTEIN
IPC: G01N23/203
CPC classification number: G01N23/203
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：US3277329A
公开(公告)日：1966-10-04
申请号：US14910761
申请日：1961-10-31
Applicant: GEN ELECTRIC
Inventor： STANLEY BERNSTEIN
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5.发明授权Flaw detection apparatus using two detectors to assure unbalance in a comparison circuit 失效使用两个检测器的缺陷检测装置来确保比较电路中的不平衡
公开(公告)号：US3158744A
公开(公告)日：1964-11-24
申请号：US10464961
申请日：1961-04-21
Applicant: GEN ELECTRIC
Inventor： STANLEY BERNSTEIN
IPC: G01N23/18
CPC classification number: G01N23/18
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公开(公告)号：US2983819A
公开(公告)日：1961-05-09
申请号：US74008658
申请日：1958-06-05
Applicant: GEN ELECTRIC
Inventor： BIGELOW JOHN E , ARRISON JR ROBERT A , STANLEY BERNSTEIN
CPC classification number: G01N23/083 , G01N23/16 , H05G1/26 , H05G1/36
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公开(公告)号：US2861189A
公开(公告)日：1958-11-18
申请号：US42643254
申请日：1954-04-29
Applicant: GEN ELECTRIC
Inventor： STANLEY BERNSTEIN
CPC classification number: H03K5/13
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公开(公告)号：US2518115A
公开(公告)日：1950-08-08
申请号：US8071649
申请日：1949-03-10
Applicant: GEN ELECTRIC
Inventor： STANLEY BERNSTEIN
IPC: G01N23/16
CPC classification number: G01N23/16
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