公开(公告)号：US20130214133A1

公开(公告)日：2013-08-22

申请号：US13851318

申请日：2013-03-27

Applicant: Intersil Americas Inc.

Inventor： Dong Zheng ,  Daryl Chamberlain

IPC: G01J1/44

CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J1/4228 ,  G11B7/131 ,  G11B7/22

Abstract: A configurable photo detector circuit comprises a photo detector array including a plurality of photo detectors coupled to a plurality of amplifiers. A method for programming a detection pattern of the configurable photo detector circuit comprises selecting a first detection pattern for the photo detector array, generating first signals to create the first selected detection pattern, and applying the first generated signals to the photo detector circuit to implement the first selected detection pattern.

Abstract translation: 可配置的光电检测器电路包括光电检测器阵列，其包括耦合到多个放大器的多个光电检测器。 一种用于对可配置光电检测器电路的检测图案进行编程的方法包括选择用于光电检测器阵列的第一检测图案，产生第一信号以产生第一选择的检测图案，以及将第一生成信号施加到光电检测器电路，以实现 第一选择的检测模式。

公开(公告)号：US08642942B2

公开(公告)日：2014-02-04

申请号：US13851318

申请日：2013-03-27

Applicant: Intersil Americas Inc.

Inventor： Dong Zheng ,  Daryl Chamberlain

IPC: G01J1/44 ,  G02B5/32

CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J1/4228 ,  G11B7/131 ,  G11B7/22

Abstract: A configurable photo detector circuit comprises a photo detector array including a plurality of photo detectors coupled to a plurality of amplifiers. A method for programming a detection pattern of the configurable photo detector circuit comprises selecting a first detection pattern for the photo detector array, generating first signals to create the first selected detection pattern, and applying the first generated signals to the photo detector circuit to implement the first selected detection pattern.

Abstract translation: 可配置的光电检测器电路包括光电检测器阵列，其包括耦合到多个放大器的多个光电检测器。 一种用于对可配置光电检测器电路的检测图案进行编程的方法包括选择用于光电检测器阵列的第一检测图案，产生第一信号以产生第一选择的检测图案，以及将第一生成信号施加到光电检测器电路，以实现 第一选择的检测模式。