公开(公告)号：US08327199B1

公开(公告)日：2012-12-04

申请号：US12718914

申请日：2010-03-05

申请人： Jayabrata Ghosh Dastidar ,  Chiew Khiang Kuit ,  Siew Ling Yeoh ,  Jun Pin Tan ,  Kok Sun Chia ,  Yee Liang Tan ,  Kar Keng Chua

发明人： Jayabrata Ghosh Dastidar ,  Chiew Khiang Kuit ,  Siew Ling Yeoh ,  Jun Pin Tan ,  Kok Sun Chia ,  Yee Liang Tan ,  Kar Keng Chua

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/3172 ,  G01R31/318516

摘要： Integrated circuits (ICs) with configurable test pins and a method of testing an IC are disclosed. An IC has input/output (I/O) pins that can be configured either as a test input pin, a test output pin or a user I/O pin. Selector circuits are used to selectively route and couple the I/O pins to various logic blocks and test circuitry on the IC. Selector circuits are also used to selectively couple either a user output or a test output to different I/O pins on the IC. Switches are used to configure the selector circuits and route test signals within the IC. Different configurations of the switches determine how the signals are routed. Test input signals from an I/O pin may be routed to any test circuitry within the IC and test output signals from a test circuit may be routed to any I/O pin on the IC.

摘要翻译： 公开了具有可配置测试引脚的集成电路（IC）和测试IC的方法。 IC具有可配置为测试输入引脚，测试输出引脚或用户I / O引脚的输入/输出（I / O）引脚。 选择器电路用于选择性地将I / O引脚路由和耦合到IC上的各种逻辑块和测试电路。 选择器电路还用于选择性地将用户输出或测试输出耦合到IC上的不同I / O引脚。 开关用于配置选择器电路并在IC内部路由测试信号。 交换机的不同配置决定信号的路由。 来自I / O引脚的测试输入信号可以被路由到IC内的任何测试电路，并且来自测试电路的测试输出信号可以被路由到IC上的任何I / O引脚。