公开(公告)号：US07518127B2

公开(公告)日：2009-04-14

申请号：US11615547

申请日：2006-12-22

申请人： Joachim von Zanthier ,  Christoph Thiel ,  Enrique Solano ,  Thierry Bastin ,  Girish S. Agarwal

发明人： Joachim von Zanthier ,  Christoph Thiel ,  Enrique Solano ,  Thierry Bastin ,  Girish S. Agarwal

IPC分类号： G21K5/02

CPC分类号： G02B21/16 ,  B82Y15/00 ,  B82Y20/00 ,  G02B2207/114

摘要： A method and apparatus for using one particle out of N particles for irradiating or investigating a target are provided. A radiation source with N incoherent emitters emits a radiation, and particles of said radiation are detected by using at least N−1 detectors located at N−1 different positions. A discriminator is adapted for identifying particle detection events on at least N−1 detectors within a predetermined time period from other particle detection events.

摘要翻译： 提供了一种从N颗粒中使用一个颗粒来照射或调查靶的方法和装置。 具有N个不相干发射器的辐射源发射辐射，并且通过使用位于N-1个不同位置的至少N-1个检测器来检测所述辐射的粒子。 鉴别器适用于在其它粒子检测事件的预定时间段内，在至少N-1个检测器上识别粒子检测事件。

公开(公告)号：US20080164426A1

公开(公告)日：2008-07-10

申请号：US11615547

申请日：2006-12-22

申请人： Joachim Von Zanthier ,  Christoph Thiel ,  Enrique Solano ,  Thierry Bastin ,  Girish S. Agarwal

发明人： Joachim Von Zanthier ,  Christoph Thiel ,  Enrique Solano ,  Thierry Bastin ,  Girish S. Agarwal

IPC分类号： G01T1/20

CPC分类号： G02B21/16 ,  B82Y15/00 ,  B82Y20/00 ,  G02B2207/114

摘要： A method and apparatus for using one particle out of N particles for irradiating or investigating a target are provided. A radiation source with N incoherent emitters emits a radiation, and particles of said radiation are detected by using at least N−1 detectors located at N−1 different positions. A discriminator is adapted for identifying particle detection events on at least N−1 detectors within a predetermined time period from other particle detection events.

摘要翻译： 提供了一种从N颗粒中使用一个颗粒来照射或调查靶的方法和装置。 具有N个不相干发射器的辐射源发射辐射，并且通过使用位于N-1个不同位置的至少N-1个检测器来检测所述辐射的粒子。 鉴别器适用于在其它粒子检测事件的预定时间段内，在至少N-1个检测器上识别粒子检测事件。

公开(公告)号：US07894137B2

公开(公告)日：2011-02-22

申请号：US11739442

申请日：2007-04-24

申请人： Subhasish Dutta Gupta ,  Girish S. Agarwal

发明人： Subhasish Dutta Gupta ,  Girish S. Agarwal

IPC分类号： G02B1/10

CPC分类号： G02B1/11 ,  G02B5/3033

摘要： An antireflective coating is disclosed having at least one layer of a first material with a first index of refraction and a first thickness, the first index of refraction and first thickness substantially conforming to a refractive index profile matching a reflectionless potential.

摘要翻译： 公开了一种抗反射涂层，其具有至少一层具有第一折射率和第一厚度的第一材料层，第一折射率和第一厚度基本上符合与无反射电位匹配的折射率分布。

公开(公告)号：US20090323190A1

公开(公告)日：2009-12-31

申请号：US11739442

申请日：2007-04-24

申请人： S. Dutta Gupta ,  Girish S. Agarwal

发明人： S. Dutta Gupta ,  Girish S. Agarwal

IPC分类号： G02B5/00

CPC分类号： G02B1/11 ,  G02B5/3033

摘要： An antireflective coating is disclosed having at least one layer of a first material with a first index of refraction and a first thickness, the first index of refraction and first thickness substantially conforming to a refractive index profile matching a reflectionless potential.

摘要翻译： 公开了一种抗反射涂层，其具有至少一层具有第一折射率和第一厚度的第一材料层，第一折射率和第一厚度基本上符合与无反射电位匹配的折射率分布。