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    Identifying an atomic element using an integrated circuit
    1.
    发明授权
    Identifying an atomic element using an integrated circuit 有权
    使用集成电路识别原子元素

    公开(公告)号：US08476601B1

    公开(公告)日：2013-07-02

    申请号：US12004968

    申请日：2007-12-20

    申请人： Joseph J. Fabula ,  Austin H. Lesea ,  Raymond J. Matteis

    发明人： Joseph J. Fabula ,  Austin H. Lesea ,  Raymond J. Matteis

    IPC分类号： G01N23/00

    CPC分类号： G01N23/222 ,  G01N2223/6113

    摘要： Systems and methods are provided for identifying an atomic element in proximity to an integrated circuit. Trace amounts of a contaminant are identifiable. The atomic element is exposed to neutron radiation to convert a portion of the atomic element into a radioactive isotope of the atomic element. Upsets are measured for the binary states of the memory cells of the integrated circuit during a time period following the exposure to the neutron radiation. The atomic element is identified from the upsets of the binary states of the memory cells of the integrated circuit.

    摘要翻译： 提供了用于识别靠近集成电路的原子元件的系统和方法。 痕量的污染物是可识别的。 原子元素暴露于中子辐射以将原子元素的一部分转化为原子元素的放射性同位素。 在暴露于中子辐射之后的一段时间内，对集成电路的存储单元的二进制状态进行测量。 根据集成电路的存储单元的二进制状态的不匹配来识别原子元素。

    Determining a characteristic of atomic particles affecting a programmable logic device
    2.
    发明授权
    Determining a characteristic of atomic particles affecting a programmable logic device 有权
    确定影响可编程逻辑器件的原子粒子的特性

    公开(公告)号：US07763861B1

    公开(公告)日：2010-07-27

    申请号：US11975972

    申请日：2007-10-23

    申请人： Nathan J. Bialke ,  Austin H. Lesea ,  Michael A. Margolese ,  Raymond J. Matteis

    发明人： Nathan J. Bialke ,  Austin H. Lesea ,  Michael A. Margolese ,  Raymond J. Matteis

    IPC分类号： G01T3/00

    CPC分类号： H03K19/17764

    摘要： Methods and systems are provided for determining a characteristic of an atomic particle affecting a programmable logic device (PLD). The PLD is configured to generate a value at one or more outputs. A source generates a packet of atomic particles. The departure from the source is indicated for the packet of the atomic particles. The PLD is impacted with the packet of the atomic particles. A change is detected in the value of one or more outputs of the PLD. The change in the value of the output or outputs is a result of the impact of the PLD by one of the atomic particles from the packet. A time interval is determined between the departure of the packet of the atomic particles from the source and the change in the value of the output or outputs.

    摘要翻译： 提供了用于确定影响可编程逻辑器件（PLD）的原子粒子的特性的方法和系统。 PLD被配置为在一个或多个输出处产生一个值。 源产生一个原子粒子包。 对于原子粒子的包，指示源的偏离。 PLD受到原子粒子的包的影响。 在PLD的一个或多个输出的值中检测到变化。 输出或输出值的变化是PLD受到数据包中原子粒子之一的影响的结果。 在来自源的原子粒子的分组的离开与输出或输出的值的变化之间确定时间间隔。