Calibration frame
    1.
    发明授权
    Calibration frame 失效
    校准框架

    公开(公告)号:US5816096A

    公开(公告)日:1998-10-06

    申请号:US809003

    申请日:1997-05-05

    CPC classification number: G01B11/002 G01B11/00 G01B21/042

    Abstract: A calibration frame for a non-contact measurement system includes a frame structure (12); a plurality of targets (14) which may be light emitting diodes supported by the frame structure for viewing by the measurement system; control means for activating each of the targets for allowing the targets to be identified by the measurement system; memory means for storing data relating to the position of each target; and a communication link such as an infrared link for transferring data from the calibration frame to the measurement system which relates to the position of that target.

    Abstract translation: PCT No.PCT / AU95 / 00575 Sec。 371日期:1997年5月5日 102(e)日期1997年5月5日PCT提交1995年9月6日PCT公布。 公开号WO96 / 07869 日期1996年3月14日非接触测量系统的校准框架包括框架结构(12); 多个目标(14),其可以是由框架结构支撑的发光二极管,用于由测量系统观看; 控制装置,用于激活每个目标,以允许由测量系统识别目标; 用于存储与每个目标的位置相关的数据的存储装置; 以及诸如红外链路的通信链路,用于将数据从校准帧传送到与该目标的位置有关的测量系统。

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