公开(公告)号：US06993692B2

公开(公告)日：2006-01-31

申请号：US10604195

申请日：2003-06-30

申请人： Michael R. Ouellette ,  Gustavo Enrique Tellez ,  Paul Steven Zuchowski

发明人： Michael R. Ouellette ,  Gustavo Enrique Tellez ,  Paul Steven Zuchowski

IPC分类号： G11C29/00 ,  G06F11/00

CPC分类号： G11C29/4401 ,  G11C29/44 ,  G11C29/789 ,  G11C29/802 ,  G11C29/806 ,  G11C2029/0401

摘要： An integrated circuit includes a plurality of separate memory arrays each having a respective one of a plurality of inputs and a respective one of a plurality of outputs. Each output provides an output value indicative of whether a storage location associated with an applied address is passing or failing. The integrated circuit further includes a shared built-in self-test (BIST) and repair system coupled to all of the plurality of inputs and all of the plurality of outputs. The shared BIST and repair system applies addresses and data to the plurality of inputs to test the plurality of memory arrays for failing storage locations. In response to detection of a failing storage location in any of the plurality of memory arrays, the shared BIST and repair system applies a common address remapping to all of the plurality of memory arrays to remap, in each memory array, the address associated with the failing storage location to a different storage location

摘要翻译： 集成电路包括多个单独的存储器阵列，每个存储器阵列具有多个输入中的相应一个和多个输出中的相应一个。 每个输出提供指示与应用地址相关联的存储位置是否通过或失败的输出值。 集成电路还包括耦合到所有多个输入和所有多个输出的共享内置自检（BIST）和修复系统。 共享的BIST和修复系统将地址和数据应用于多个输入以测试多个存储器阵列以用于故障存储位置。 响应于检测多个存储器阵列中的任一个中的故障存储位置，共享BIST和修复系统将公共地址重新映射应用于所有多个存储器阵列，以在每个存储器阵列中重新映射与该存储器阵列相关联的地址 将存储位置的故障存储到不同的存储位置

公开(公告)号：US06247853B1

公开(公告)日：2001-06-19

申请号：US09085093

申请日：1998-05-26

申请人： Evanthia Papadopoulou ,  Mark Alan Lavin ,  Gustavo Enrique Tellez ,  Archibald John Allen

发明人： Evanthia Papadopoulou ,  Mark Alan Lavin ,  Gustavo Enrique Tellez ,  Archibald John Allen

IPC分类号： G06F1750

CPC分类号： H01L22/20

摘要： An efficient computer implemented method computes critical area for via blocks in Very Large Scale Integrated (VLSI) circuits. The method is incremental and takes advantage of the hierarchy in the design. In order to increase the efficiency further we use the L∞ or the L1 metric instead of the Euclidean geometry.

摘要翻译： 一种高效的计算机实现方法计算超大规模集成（VLSI）电路中通孔块的关键区域。 该方法是增量的，并利用设计中的层次结构。 为了进一步提高效率，我们使用Linfin或L1度量而不是欧几里德几何。