公开(公告)号：US06993692B2

公开(公告)日：2006-01-31

申请号：US10604195

申请日：2003-06-30

申请人： Michael R. Ouellette ,  Gustavo Enrique Tellez ,  Paul Steven Zuchowski

发明人： Michael R. Ouellette ,  Gustavo Enrique Tellez ,  Paul Steven Zuchowski

IPC分类号： G11C29/00 ,  G06F11/00

CPC分类号： G11C29/4401 ,  G11C29/44 ,  G11C29/789 ,  G11C29/802 ,  G11C29/806 ,  G11C2029/0401

摘要： An integrated circuit includes a plurality of separate memory arrays each having a respective one of a plurality of inputs and a respective one of a plurality of outputs. Each output provides an output value indicative of whether a storage location associated with an applied address is passing or failing. The integrated circuit further includes a shared built-in self-test (BIST) and repair system coupled to all of the plurality of inputs and all of the plurality of outputs. The shared BIST and repair system applies addresses and data to the plurality of inputs to test the plurality of memory arrays for failing storage locations. In response to detection of a failing storage location in any of the plurality of memory arrays, the shared BIST and repair system applies a common address remapping to all of the plurality of memory arrays to remap, in each memory array, the address associated with the failing storage location to a different storage location

摘要翻译： 集成电路包括多个单独的存储器阵列，每个存储器阵列具有多个输入中的相应一个和多个输出中的相应一个。 每个输出提供指示与应用地址相关联的存储位置是否通过或失败的输出值。 集成电路还包括耦合到所有多个输入和所有多个输出的共享内置自检（BIST）和修复系统。 共享的BIST和修复系统将地址和数据应用于多个输入以测试多个存储器阵列以用于故障存储位置。 响应于检测多个存储器阵列中的任一个中的故障存储位置，共享BIST和修复系统将公共地址重新映射应用于所有多个存储器阵列，以在每个存储器阵列中重新映射与该存储器阵列相关联的地址 将存储位置的故障存储到不同的存储位置

公开(公告)号：US08823491B2

公开(公告)日：2014-09-02

申请号：US13348866

申请日：2012-01-12

申请人： Shawn M. Luke ,  Michael R. Ouellette ,  Karl V. Swanke ,  Sebastian T. Ventrone

发明人： Shawn M. Luke ,  Michael R. Ouellette ,  Karl V. Swanke ,  Sebastian T. Ventrone

IPC分类号： G08B5/22 ,  G08B13/14 ,  G08B1/08 ,  G01S13/08 ,  G01B11/14

CPC分类号： G08B21/24

摘要： Disclosed are an object locator system, a method and a program storage device. In the embodiments, radio frequency identification (RFID) tags are on objects within a defined area and each RFID tag can be activated by an RF activation signal. When a request (e.g., a verbal or keyed-in request) to locate a specific object is received from a specific user, the required permission to locate the object is verified and, optionally, the identity of the specific user is authenticated. Once the required permission is verified and the identity of the specific user is authenticated, one of three RFID readers transmits an RF activation signal. RF response signals received back at the three RFID readers from the specific object's RFID tag are used to triangulate the position of the specific object. Once determined, the position is communicated (e.g., by map display, verbal message, or text message) to the specific user.

摘要翻译： 公开了一种对象定位器系统，方法和程序存储装置。 在实施例中，射频识别（RFID）标签位于限定区域内的对象上，并且每个RFID标签可由RF激活信号激活。 当从特定用户接收到用于定位特定对象的请求（例如，语言或密钥请求）时，验证定位对象的所需许可证，并且可选地，特定用户的身份被认证。 一旦验证了所需许可并且认证了特定用户的身份，三个RFID读取器中的一个发送RF激活信号。 使用从特定对象的RFID标签在三个RFID读取器处接收的RF响应信号来对特定对象的位置进行三角测量。 一旦确定，将位置（例如，通过地图显示，口头消息或文本消息）传达给特定用户。

公开(公告)号：US20140040685A1

公开(公告)日：2014-02-06

申请号：US13567127

申请日：2012-08-06

申请人： Craig M. Monroe ,  Michael R. Ouellette ,  Douglas E. Sprague

发明人： Craig M. Monroe ,  Michael R. Ouellette ,  Douglas E. Sprague

IPC分类号： G11C29/12

CPC分类号： G11C29/54 ,  G11C5/04 ,  G11C29/12

摘要： Aspects of the invention provide for creating a built-in-self-test (BIST) organizational file for an integrated circuit (IC) chip. In one embodiment, a method includes: receiving a design file including a hierarchy of memory modules, each module including a plurality of memory wrappers; scanning each memory wrapper in each hierarchical level of memory modules for a BIST type; creating, based on the hierarchical level and the BIST type, an ordered list of memory wrappers; adding, based on the BIST type, a BIST engine for each memory wrapper listed in the ordered list; and adding a plurality of references statements to the ordered list to create the BIST organizational file.

摘要翻译： 本发明的方面提供了用于为集成电路（IC）芯片创建内置自测（BIST）组织文件。 在一个实施例中，一种方法包括：接收包括存储器模块层级的设计文件，每个模块包括多个存储器包装器; 在BIST类型的每个层级的内存模块中扫描每个内存包装器; 基于层次级别和BIST类型创建存储器包装器的有序列表; 根据BIST类型添加一个BIST引擎，用于在有序列表中列出的每个内存包装器; 并将多个引用语句添加到有序列表以创建BIST组织文件。

公开(公告)号：US20130181838A1

公开(公告)日：2013-07-18

申请号：US13348866

申请日：2012-01-12

申请人： Shawn M. Luke ,  Michael R. Ouellette ,  Karl V. Swanke ,  Sebastian T. Ventrone

发明人： Shawn M. Luke ,  Michael R. Ouellette ,  Karl V. Swanke ,  Sebastian T. Ventrone

IPC分类号： G08B13/14

CPC分类号： G08B21/24

摘要： Disclosed are an object locator system, a method and a program storage device. In the embodiments, radio frequency identification (RFID) tags are on objects within a defined area and each RFID tag can be activated by an RF activation signal. When a request (e.g., a verbal or keyed-in request) to locate a specific object is received from a specific user, the required permission to locate the object is verified and, optionally, the identity of the specific user is authenticated. Once the required permission is verified and the identity of the specific user is authenticated, one of three RFID readers transmits an RF activation signal. RF response signals received back at the three RFID readers from the specific object's RFID tag are used to triangulate the position of the specific object. Once determined, the position is communicated (e.g., by map display, verbal message, or text message) to the specific user.

摘要翻译： 公开了一种对象定位器系统，方法和程序存储装置。 在实施例中，射频识别（RFID）标签位于限定区域内的对象上，并且每个RFID标签可由RF激活信号激活。 当从特定用户接收到用于定位特定对象的请求（例如，语言或密钥请求）时，验证定位对象所需的许可，并且可选地，特定用户的身份被认证。 一旦验证了所需许可并且认证了特定用户的身份，三个RFID读取器中的一个发送RF激活信号。 使用从特定对象的RFID标签在三个RFID读取器处接收的RF响应信号来对特定对象的位置进行三角测量。 一旦确定，将位置（例如，通过地图显示，口头消息或文本消息）传达给特定用户。

公开(公告)号：US08467260B2

公开(公告)日：2013-06-18

申请号：US13198894

申请日：2011-08-05

申请人： Kevin W. Gorman ,  Michael R. Ouellette ,  Michael A. Ziegerhofer

发明人： Kevin W. Gorman ,  Michael R. Ouellette ,  Michael A. Ziegerhofer

IPC分类号： G11C17/16

CPC分类号： G11C17/16 ,  G11C29/785 ,  G11C29/802

摘要： Fuse macros of identical number of pages are serially arranged to form the same number of fusebay pages each having a length equal to the sum of the respective fuse macro page lengths. Each fuse macro has an enable latch configured to allow activation of one fuse macro at a time. A fusebay control device connected to a repair register may store data in and retrieve data from the fusebay. Next available fuse location is determined in programming mode so that data from a next repair pass may start where the last data ended.

摘要翻译： 相同页数的保险丝宏串联地形成相同数量的保险丝页，每个保险丝页的长度等于相应的熔丝宏页面长度之和。 每个保险丝宏都有一个使能锁存器，配置为允许一次激活一个保险丝宏。 连接到维修寄存器的保险丝控制装置可以将数据存储在保险丝盒中并从熔丝座检索数据。 在编程模式下确定下一个可用的熔丝位置，以便下一个维修通过的数据可以在最后一个数据结束的地方开始。

公开(公告)号：US07916826B2

公开(公告)日：2011-03-29

申请号：US12175534

申请日：2008-07-18

申请人： Darren L. Anand ,  John R. Goss ,  Peter O. Jakobsen ,  Michael R. Ouellette ,  Thomas O. Sopchak ,  Donald L. Wheater

发明人： Darren L. Anand ,  John R. Goss ,  Peter O. Jakobsen ,  Michael R. Ouellette ,  Thomas O. Sopchak ,  Donald L. Wheater

IPC分类号： G11C19/00

CPC分类号： G11C19/00 ,  G11C29/003

摘要： The invention provides a circuit that can observe data within shift registers without altering the data. The circuit includes selectors connected to the inputs and outputs of the shift registers. The selectors selectively connect the input with the output of a selected shift register to form a wiring loop for the selected shift register. A control device connected to the wiring loop uses the wiring loop to cause the data to be continually transferred from the output of the selected shift register to the input of the selected shift register and back through the selected shift register in a circular manner. The control device includes a counter used for determining the length of a selected shift register and a set of registers to store, for future use when rotating data in the shift registers, the length of each shift register. The control device also includes a data output accessible from outside the circuit. An observation wire is connected to the wiring loop, and the data passes from the wiring loop to the control device through the observation wire. The control device outputs data appearing on the wiring loop as the data is circulated through the selected shift register to permit data within the selected shift register to be observed outside the circuit without altering the data within the selected shift register.

摘要翻译： 本发明提供一种可以观察移位寄存器内的数据而不改变数据的电路。 该电路包括连接到移位寄存器的输入和输出的选择器。 选择器选择性地将输入与所选移位寄存器的输出连接，以形成所选移位寄存器的布线回路。 连接到布线回路的控制装置使用布线回路使得数据从所选择的移位寄存器的输出连续地传送到所选择的移位寄存器的输入端并循环地返回所选择的移位寄存器。 控制装置包括用于确定所选择的移位寄存器的长度的计数器和一组寄存器，用于存储当在移位寄存器中旋转数据时将来使用的每个移位寄存器的长度。 控制装置还包括从电路外部可访问的数据输出。 观察线连接到布线回路，数据通过观察线从布线回路传递到控制装置。 当数据通过选定的移位寄存器循环时，控制装置输出出现在布线环路上的数据，以允许在电路外观察所选移位寄存器内的数据，而不改变所选移位寄存器内的数据。

公开(公告)号：US07821294B2

公开(公告)日：2010-10-26

申请号：US12135249

申请日：2008-06-09

申请人： Susan K. Lichtensteiger ,  Michael R. Ouellette ,  Raymond W. M. Schuppe ,  Sebastian T. Ventrone

发明人： Susan K. Lichtensteiger ,  Michael R. Ouellette ,  Raymond W. M. Schuppe ,  Sebastian T. Ventrone

IPC分类号： H03K19/173

CPC分类号： H03K19/0008 ,  H03K19/173

摘要： Multi-state restore circuitry that allows storage elements of a power-managed functional block to be loaded when the functional block is repowered up so that the functional block is ready for operation virtually immediately after voltage ramp-up of the functional block. The multi-state restore circuitry includes a restore-state detector for determining which one of a plurality of restore states of the functional block is applicable to a particular repowering-up of the functional block. The multi-state restore circuitry also includes restore logic that loads the storage elements as a function of the restore state determined by the restore-state detector.

摘要翻译： 多功能恢复电路，允许在功能块被重新加电时加载功率管理功能块的存储元件，使得功能块在功能块的电压升高之后实际上准备好运行。 多状态恢复电路包括恢复状态检测器，用于确定功能块的多个恢复状态中的哪一个可应用于功能块的特定重新启动。 多状态恢复电路还包括根据由恢复状态检测器确定的恢复状态来加载存储元件的恢复逻辑。

公开(公告)号：US07725780B2

公开(公告)日：2010-05-25

申请号：US11875011

申请日：2007-10-19

申请人： Michael R. Ouellette ,  Jeremy Rowland

发明人： Michael R. Ouellette ,  Jeremy Rowland

IPC分类号： G11C29/00

CPC分类号： G11C29/4401 ,  G11C29/14 ,  G11C29/24 ,  G11C29/44

摘要： Methods and apparatuses for enabling a redundant memory element (20) during testing of a memory array (14). The memory array (14) includes general memory elements (18) and redundant memory elements (20). The general memory elements (18) are tested and any defective general memory elements (18) are replaced with redundant memory elements (20). The redundant memory elements (20) are tested only when they are enabled.

摘要翻译： 用于在存储器阵列（14）的测试期间启用冗余存储元件（20）的方法和装置。 存储器阵列（14）包括通用存储元件（18）和冗余存储元件（20）。 一般存储器元件（18）被测试，并且任何有缺陷的通用存储器元件（18）被替换为冗余存储元件（20）。 冗余存储器元件（20）仅在使能时被测试。

公开(公告)号：US20090217116A1

公开(公告)日：2009-08-27

申请号：US12036320

申请日：2008-02-25

申请人： Franco Motika ,  Michael R. Ouellette ,  Phong T. Tran

发明人： Franco Motika ,  Michael R. Ouellette ,  Phong T. Tran

IPC分类号： G06F11/00

CPC分类号： G01R31/318541 ,  G01R31/318536

摘要： A structural design-for-test for diagnosing broken scan chain defects of long non-scannable register chains (GPTR) The GPTR and the system for testing and diagnosing the broken LSSD scan-only chains rapidly localize defects to the failing Shift Register Latch (SRL) pair. The GPTR modifies the latches used in the GPTR scan chain to standard LSSD L1/L2 master-slave SRL type latch pairs; connects all the system ports of the L1 latches to the Shift Register Input (SRI) and clocked by the system C1-clk while the L1 scan port is clocked by the A-clk and L2 scan port is clocked only by the B-clk. The L1 latches are connected to at least one multiplexer having a first output connected to an input of each odd SRL, and a second output connected to an input port of each even SRL. In another embodiment, the GPTR includes a plurality of multiplexers respectively coupled to the master-slave latch pairs, wherein a first set of multiplexers have their respective output attached to an input of the odd L1 latches, and a second set of the multiplexers have their respective output attached to an input port of the even L1 latches.

摘要翻译： 用于诊断长不可扫描寄存器链（GPTR）的断层扫描链缺陷的结构设计 - 用于测试和诊断断裂的LSSD扫描链的系统快速将缺陷定位到故障移位寄存器锁存器（SRL） ）对。 GPTR将GPTR扫描链中使用的锁存器修改为标准LSSD L1 / L2主从SL型锁存器对; 将L1锁存器的所有系统端口连接到移位寄存器输入（SRI）并由系统C1-clk计时，而L1扫描端口由A-clk计时，L2扫描端口由B-clk提供时钟。 L1锁存器连接到至少一个多路复用器，其具有连接到每个奇数SRL的输入的第一输出，以及连接到每个偶数SRL的输入端口的第二输出。 在另一个实施例中，GPTR包括分别耦合到主从锁存器对的多个复用器，其中第一组复用器具有附加到奇数L1锁存器的输入的相应输出，并且第二组复用器具有它们 相应的输出附加到偶数L1锁存器的输入端口。

公开(公告)号：US07474575B2

公开(公告)日：2009-01-06

申请号：US11875009

申请日：2007-10-19

申请人： Michael R. Ouellette ,  Jeremy Rowland

发明人： Michael R. Ouellette ,  Jeremy Rowland

IPC分类号： G11C29/00 ,  G11C7/00

CPC分类号： G11C29/4401 ,  G11C29/14 ,  G11C29/24 ,  G11C29/44

摘要： An apparatus for testing a memory of an integrated circuit for a defect. The apparatus includes a test unit for testing a redundant memory element only when the redundant memory element has been enabled to replace a failed memory element.

摘要翻译： 一种用于测试用于缺陷的集成电路的存储器的装置。 该装置包括仅当冗余存储元件已被使能以替换故障存储器元件时才用于测试冗余存储器元件的测试单元。