公开(公告)号：US5633877A

公开(公告)日：1997-05-27

申请号：US450585

申请日：1995-05-31

申请人： Philip G. Shephard, III ,  William V. Huott ,  Paul R. Turgeon ,  Robert W. Berry, Jr. ,  Gulsun Yasar ,  Frederick J. Cox ,  Pradip Patel ,  Joseph B. Hanley, III

发明人： Philip G. Shephard, III ,  William V. Huott ,  Paul R. Turgeon ,  Robert W. Berry, Jr. ,  Gulsun Yasar ,  Frederick J. Cox ,  Pradip Patel ,  Joseph B. Hanley, III

IPC分类号： G06F11/22 ,  G06F11/267 ,  G06F11/273 ,  G11C29/00 ,  G11C29/10 ,  G11C29/16 ,  G11C29/32 ,  G06F11/00

CPC分类号： G11C29/789 ,  G01R31/318385 ,  G06F11/22 ,  G06F11/2236 ,  G06F11/2294 ,  G11C29/16 ,  G11C29/10 ,  G11C29/32

摘要： An array built-in self test system has a scannable memory elements and a controller which, in combination, allow self test functions (e.g. test patterns, read/write access, and test sequences) to be modified without hardware changes to the test logic. Test sequence is controlled by logical test vectors, which can be changed, making the task of developing complex testing sequences relatively easy.

摘要翻译： 阵列内置的自检系统具有可扫描的存储器元件和控制器，其组合地允许在不对测试逻辑进行硬件改变的情况下修改自检功能（例如测试模式，读/写访问和测试序列）。 测试顺序由逻辑测试向量控制，可以改变，使得开发复杂测试序列的任务比较容易。