公开(公告)号：US20060014084A1

公开(公告)日：2006-01-19

申请号：US11209418

申请日：2005-08-23

申请人： Roger French ,  Timothy Gierke ,  Mark Harmer ,  Paula Hietpas ,  Anand Jagota ,  Steven Lustig ,  Rakesh Mehta ,  Bibiana Onoa

发明人： Roger French ,  Timothy Gierke ,  Mark Harmer ,  Paula Hietpas ,  Anand Jagota ,  Steven Lustig ,  Rakesh Mehta ,  Bibiana Onoa

IPC分类号： G03F1/00 ,  H01L21/00

CPC分类号： B82Y40/00 ,  B82Y30/00 ,  C01B32/174 ,  C01B32/176 ,  C01B2202/34 ,  Y10S977/84 ,  Y10S977/856 ,  Y10S977/889

摘要： This invention relates to the field of nanotechnology. Specifically the invention describes a method for cutting a multiplicity of nano-structures to uniform dimensions of length, length and width, or area, or to a specific distribution of lengths or area using various cutting techniques.

公开(公告)号：US20050079666A1

公开(公告)日：2005-04-14

申请号：US10968569

申请日：2004-10-19

申请人： Roger French ,  Timothy Gierke ,  Mark Harmer ,  Anand Jagota ,  Steven Lustig ,  Rakesh Mehta ,  Paula Hietpas ,  Bibiana Onoa

发明人： Roger French ,  Timothy Gierke ,  Mark Harmer ,  Anand Jagota ,  Steven Lustig ,  Rakesh Mehta ,  Paula Hietpas ,  Bibiana Onoa

IPC分类号： B82B3/00 ,  B82B1/00 ,  C01B31/02 ,  H01L21/44

CPC分类号： B82Y40/00 ,  B82Y30/00 ,  C01B32/174 ,  C01B32/176 ,  C01B2202/34 ,  Y10S977/84 ,  Y10S977/856 ,  Y10S977/889

摘要： This invention relates to the field of nanotechnology. Specifically the invention describes a method for cutting a multiplicity of nano-structures to uniform dimensions of length, length and width, or area, or to a specific distribution of lengths or area using various cutting techniques.

摘要翻译： 本发明涉及纳米技术领域。 具体地，本发明描述了使用各种切割技术将多个纳米结构切割成长度，长度和宽度或面积的均匀尺寸或长度或面积的特定分布的方法。