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    INTEGRATED CIRCUIT (IC) DESIGN METHOD AND METHOD OF ANALYZING RADIATION-INDUCED SINGLE-EVENT UPSETS IN CMOS LOGIC DESIGNS
    1.
    发明申请
    INTEGRATED CIRCUIT (IC) DESIGN METHOD AND METHOD OF ANALYZING RADIATION-INDUCED SINGLE-EVENT UPSETS IN CMOS LOGIC DESIGNS 审中-公开
    集成电路（IC）设计方法和分析CMOS逻辑设计中辐射诱导的单事件的方法

    公开(公告)号：US20080281572A1

    公开(公告)日：2008-11-13

    申请号：US11746709

    申请日：2007-05-10

    申请人： Ruchir Puri ,  Henry H. K. Tang ,  Kim Yaw Tong

    发明人： Ruchir Puri ,  Henry H. K. Tang ,  Kim Yaw Tong

    IPC分类号： G06F17/50

    CPC分类号： G06F17/5009 ,  G06F2217/16

    摘要： A logic design tool, a tool for analyzing soft error sensitivities in logic, and a program product for logic design. A particle generator simulates events likely to occur for a given operating environment. A pre-characterizer provides circuit block responses to simulated events. A circuit response simulator simulates events in a logic design and provides an indication of soft error sensitivity for the design. Based on the soft error sensitivity indication, the design may be modified to reduce the overall soft error sensitivity.

    摘要翻译： 逻辑设计工具，用于分析逻辑中的软错误灵敏度的工具，以及用于逻辑设计的程序产品。 粒子发生器模拟给定操作环境可能发生的事件。 预特征化器为模拟事件提供电路块响应。 电路响应仿真器模拟逻辑设计中的事件，并为设计提供软错误灵敏度的指示。 基于软错误灵敏度指示，可以修改设计以降低整体软错误灵敏度。