公开(公告)号：US20170053712A1

公开(公告)日：2017-02-23

申请号：US15157799

申请日：2016-05-18

Applicant: Samsung Electronics Co., Ltd.

Inventor： Dong-Gun KIM ,  Je-Young PARK ,  Byung-Soo MOON

IPC: G11C29/38 ,  G11C29/44 ,  G11C29/12

CPC classification number: G11C29/56008 ,  G01R17/00 ,  G01R19/0084 ,  G01R31/2884 ,  G01R31/31715 ,  G01R31/31908 ,  G06F11/26 ,  G06F11/263 ,  G06F11/277 ,  G11C5/147 ,  G11C29/08 ,  G11C29/10 ,  G11C29/12 ,  G11C29/12005 ,  G11C29/50 ,  G11C29/50004 ,  G11C29/56004

Abstract: A test device includes a data driver and a controller. The controller is configured to generate a test code by dividing a test sequence in a unit of n-bits. The data driver is configured to receive the generated test code and output one of input voltages to a device under test as a test signal based on the generated test code. A storage device stores a test sequence.

Abstract translation: 测试设备包括数据驱动器和控制器。 控制器被配置为通过以n位为单位划分测试序列来生成测试代码。 数据驱动器被配置为接收生成的测试代码，并且基于所生成的测试代码将输入电压中的一个输出到被测器件作为测试信号。 存储设备存储测试序列。