公开(公告)号：US20130074607A1

公开(公告)日：2013-03-28

申请号：US13241132

申请日：2011-09-22

申请人： Sung Ryol JIN ,  Yong Hyun LEE

发明人： Sung Ryol JIN ,  Yong Hyun LEE

IPC分类号： G01N3/20

CPC分类号： G01N3/20 ,  G01N2033/0088

摘要： A novel RFID tag-bending test apparatus and a related method of using the novel RFID tag-bending test apparatus are disclosed. In one embodiment of the invention, the novel RFID tag-bending test apparatus can place a plurality of RFID tags in corresponding tag holding clips on the novel RFID tag-bending test apparatus to execute a bending test sequence along a particular bending axis for each RFID tag. The bending test sequence can assist identifying defective RFID tags which cannot overcome external bending pressures asserted by the novel RFID tag-bending test apparatus. By excluding these defective RFID tags from a commercial shipment of RFID tags to customers, a manufacturer of RFID tags may be able to reduce a rate of premature RFID tag failures due to external bending pressures in real-life applications of RFID tags, thereby achieving a higher quality assurance and reliability of RFID tags.

摘要翻译： 公开了一种使用该RFID标签弯曲试验装置的新型RFID标签弯曲试验装置及其相关方法。 在本发明的一个实施例中，新型RFID标签弯曲测试装置可以将多个RFID标签放置在新的RFID标签弯曲测试装置上的相应的标签保持夹中，以对每个RFID执行沿着特定弯曲轴的弯曲测试序列 标签。 弯曲测试序列可以帮助识别不能克服由新型RFID标签弯曲测试装置声称的外部弯曲压力的有缺陷的RFID标签。 通过将这些有缺陷的RFID标签从商业运送的RFID标签中排除给客户，RFID标签的制造商可能能够降低由于RFID标签的现实生活应用中的外部弯曲压力引起的过早的RFID标签失效的速率，从而实现 更高的RFID标签质量保证和可靠性。