公开(公告)号：US06696832B2

公开(公告)日：2004-02-24

申请号：US10261010

申请日：2002-09-30

申请人： Victor W K Chew ,  Edward Y K Hew ,  David K L Loh ,  Myint Ngwe ,  Wong Hon Leong ,  Say Kwee Teck

发明人： Victor W K Chew ,  Edward Y K Hew ,  David K L Loh ,  Myint Ngwe ,  Wong Hon Leong ,  Say Kwee Teck

IPC分类号： G11B5455

CPC分类号： G11B5/012 ,  G11B5/127 ,  G11B5/3116 ,  G11B5/3166 ,  G11B5/455 ,  G11B2005/001 ,  G11B2005/0013

摘要： An apparatus and associated testing method for identifying void heads in magnetic storage systems in which a first bit error rate is determined using data written at a first overshoot amount. A second bit error rate is determined using data written at a second rate current in a second overshoot amount. A physically damaged transducer head is identified based upon a comparison of the first bit error rate to the second bit error rate.

摘要翻译： 一种用于识别磁存储系统中的空白磁头的装置和相关联的测试方法，其中使用以第一过冲量写入的数据来确定第一误码率。 使用在第二过冲量中以第二速率电流写入的数据来确定第二误码率。 基于第一误码率与第二误码率的比较来识别物理损坏的换能器头。