公开(公告)号：US6087190A

公开(公告)日：2000-07-11

申请号：US973582

申请日：1997-11-17

申请人： Ray-Lin Wan ,  Chun-Hsiung Hung ,  Tzeng-Huei Shiau

发明人： Ray-Lin Wan ,  Chun-Hsiung Hung ,  Tzeng-Huei Shiau

IPC分类号： G11C29/24 ,  G11C29/44 ,  H10L21/00 ,  G01R31/26 ,  H10L21/66

CPC分类号： G11C29/24 ,  G11C29/44

摘要： A method of manufacturing integrated circuits based on providing a test column of memory cells in the devices. Cells in the test column are selected by a portion of the addresses which identifies a row in the main array on the device. A test is executed to determine a characteristic of the device, and the results of that test are mapped to the portion of the address which identifies a row in the array. This produces a characteristic code address for the device which indicates the results of the test. Access to the test column on the device is enabled, and a bit is written in response to the characteristic code address in a memory cell on the test column. During manufacture the test column is read in order to classify the device according to the characteristic. This allows for storing in a table look-up format, significant amounts of data about the characteristics of the device without requiring large amounts of memory on the device, and substantially relieving the testing system of a requirement for memory resources.

摘要翻译： PCT No.PCT / US97 / 18204 Sec。 371日期：1997年11月17日 102（e）日期1997年11月17日PCT 1997年10月8日PCT公布。 公开号WO99 /​​ 18531 日期1999年04月15日基于在器件中提供存储器单元的测试列的制造集成电路的方法。 测试列中的单元格由标识设备主阵列中的行的地址的一部分来选择。 执行测试以确定设备的特性，并将该测试的结果映射到标识阵列中的一行的地址部分。 这产生了指示测试结果的设备的特征代码地址。 启用对设备的测试列的访问，并响应于测试列上的存储单元中的特征代码地址写入一个位。 在制造期间，读取测试柱以便根据特性对装置进行分类。 这允许以表查找格式存储关于设备的特性的大量数据，而不需要设备上的大量存储器，并且基本上减轻了测试系统对存储器资源的需求。