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公开(公告)号：WO2023034974A1
公开(公告)日：2023-03-09
申请号：PCT/US2022/075917
申请日：2022-09-02
Applicant: MILWAUKEE ELECTRIC TOOL CORPORATION
Inventor： MCKINSTER, Scott Earl
IPC: G01B3/1084 , G01B3/1005 , G01B3/1041
Abstract: A tool such as a tape measure, including a lighting system is shown. The lighting system includes a light source configured to direct light forward and strong enough to act as a flashlight. The tape measure further includes a housing designed to be compact and rugged enough to protect the internal components related to the lighting system from coming loose or suffering damage due to an impact or vibrations.
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公开(公告)号：WO2023030923A1
公开(公告)日：2023-03-09
申请号：PCT/EP2022/073207
申请日：2022-08-19
Inventor： CARDOSO, Michel , GRASSIN, Florence , SAINT MARTIN, Vincent
Abstract: L'invention concerne un procédé de de calibration d'un dispositif de contrôle non destructif d'une pièce mécanique, le dispositif comprenant : - un système optique de suivi de mouvement auquel un repère de référence est lié, - un porte-capteur, - un premier corps rigide, - un capteur de contrôle non destructif solidaire du porte-capteur relié de manière fixe au premier corps rigide, - un calculateur, le procédé étant caractérisé en ce qu'il comprend les étapes suivantes : - Détermination (100), à partir de trois points sur une surface plane supérieure d'un bloc de calibration, de la longueur et la largeur du bloc de calibration; - détermination (110) d'une première matrice de transformation du repère de référence vers un repère du bloc lié au bloc de calibration; - disposition (115) du capteur sur la surface plane supérieure du bloc de calibration; - détermination (120), à partir de trois points sur le premier corps rigide, de la longueur et la largeur du capteur; - détermination (130) d'une deuxième matrice de transformation permettant de passer d'un repère lié au porte-capteur à un repère lié au capteur.
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公开(公告)号：WO2023029978A1
公开(公告)日：2023-03-09
申请号：PCT/CN2022/112654
申请日：2022-08-16
Applicant: 董仕
Inventor： 董仕 DONG, Shi
IPC: G01B9/02
Abstract: 基于波阵面分割、参考光束和测量光束的光路传播路径为单程、并以正交合束的方式构成的干涉仪装置，可用于测量物质的各向异性参数、测距、测速、位移、倾角、运动状态、流速等物理参量的精密测量。基于干涉为基础测量手段，通过叠加空间正交的两相干光信号、再由光电传感器测得的叠加场强信号导出两信号相位差的一种检测手段；并利用被测目标的空间特征向量与有效光束垂直和平行时的观测相位差，去逆向求取被测目标各向异性特征物理量的一种方法。具有两种基本类型的设计模式，一种是基于信号延时器和光路转折器（12）构成的2D平面结构光路构成，另一种是基于双光路转折器（21，22）构成的3D立体结构光路构成，两种设计具有相同的功能。
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公开(公告)号：WO2023029766A1
公开(公告)日：2023-03-09
申请号：PCT/CN2022/105586
申请日：2022-07-14
Applicant: 苏州天准科技股份有限公司
Abstract: 一种口径可调的落射光源及影像测量仪，属于机器视觉测量领域，落射光源(100)包括开合传动组件、驱动组件和灯板组，每个灯板组包括在同一上水平面上布置的多个独立灯板(1)，灯板组与开合传动组件连接，并在驱动组件的驱动下远离或靠近光源中心，实现光源口径的大小调节。整体采用大口径镜头的影像测量仪，光源口径可调，使用小倍率镜头时，光源口径变大，灯板之间不漏空，不遮挡视野，保证全视野均匀照明；当使用大倍率镜头时，光源口径变小，灯板之间有重叠，以小角度入射被测件，满足大倍率镜头的特征提取需求。
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公开(公告)号：WO2023029181A1
公开(公告)日：2023-03-09
申请号：PCT/CN2021/126644
申请日：2021-10-27
Applicant: 苏州质达飞检测科技有限公司
Abstract: 一种运用于监测堆料稳定性设备的使用方法，包括：连接在一起的感应系统（1）和报警系统（2），感应系统（1）由若干条长度相同且具有弹性性能的柔性导线（11）组成，使用方法包括以下步骤：S1、填埋:将感应系统（1）置入堆料（3）中，柔性导线（11）分布于堆料（3）四个方向；S2、监测:在堆料（3）倒塌前，堆料（3）之间发生相对位移，出现相对应的剪切力，在剪切力的作用下柔性导线（11）长度会伸长，电阻值增大，电流表测出经过柔性导线（11）后的电流大小。使用埋设方式将感应系统（1）放置于堆料（3）中，监测过程不外界环境影响，监测结果更加精准，由于埋设于堆料（3）中无需外界条件辅助监测，所以不受环境限制，应用范围广泛，监测结果可对堆料（3）倒塌及时预警，避免造成人员伤亡，减少损失。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：WO2023028194A1
公开(公告)日：2023-03-02
申请号：PCT/US2022/041463
申请日：2022-08-25
Applicant: INDUSTRIAL INTELLIGENCE, INC.
Inventor： ARMBRUSTER, JR., George T. , RANGWALA, Ali S. , MOULIS, Laurence E. , DILLER, Shane
Abstract: A system, device and method for deployment of one or more dust accumulation sensors receives a baseline measurement associated with no accumulation of dust in a target environment, receives a time-elapsed measurement associated with positive accumulation of dust in the target environment, determines a quantity of accumulated dust in the target environment based on the baseline measurement and the time-elapsed measurement, generates a spatial dust deposition distribution for the target environment based on the determined quantity of accumulated dust and determines a deployment for one or more dust accumulation sensors for the target environment based on the spatial dust deposition distribution.
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57.发明申请
公开(公告)号：WO2023027866A1
公开(公告)日：2023-03-02
申请号：PCT/US2022/038945
申请日：2022-07-29
Applicant: APPLIED MATERIALS ISREAL LTD. , APPLIED MATERIALS, INC.
Inventor： BLAYVAS, Ilya , ZUR, Yehuda
IPC: G01B15/02 , G01N23/2251 , H01L21/66 , H01J37/21 , H01J37/305
Abstract: Analyzing a sidewall of a hole milled in a sample to determine thickness of a buried layer includes milling the hole in the sample using a charged particle beam of a focused ion beam (FIB) column to expose the buried layer along the sidewall of the hole. After milling, the sidewall of the hole has a known slope angle. From a perspective relative to a surface of the sample, a distance is measured between a first point on the sidewall corresponding to an upper surface of the buried layer and a second point on the sidewall corresponding to a lower surface of the buried layer. The thickness of the buried layer is determined using the known slope angle of the sidewall, the distance, and the angle relative to the surface of the sample.
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公开(公告)号：WO2023025717A1
公开(公告)日：2023-03-02
申请号：PCT/EP2022/073311
申请日：2022-08-22
Applicant: ALBRECHT BÄUMER GMBH & CO. KG
Inventor： HORSTHEMKE, Jan , MOISEL, Christoph , D'COSTA, Inal Rocky
Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Erfassen einer Dicke (d) einer Folie (90') oder Platte (90), wobei die Folie (90') oder Platte (90) als ein Herstellungsprodukt aus einem als Ausgangsmaterial vorgesehenen Blockmaterial (80), insbesondere aus einem Schaumstoffblock, geschnitten wird. Dabei weist das Ausgangsmaterial eine sich in Längenrichtung (x; x') erstreckende Ausgangsmaterial-Länge (81, 85), eine sich in Breitenrichtung (y) erstreckende Ausgangsmaterial-Breite (82, 86) und eine sich in Höhenrichtung (z) erstreckende Ausgangsmaterial-Höhe (83, 87) auf. Bei dem Verfahren wird, zum Schneiden des Ausgangsmaterials, das Ausgangsmaterial entlang der Längenrichtung (x; x') zu einer Schneideinheit (50) gefördert. Die Schneideinheit (50) schneidet die Folie (90') oder Platte (90) aus dem Ausgangsmaterial entlang der Längenrichtung (x; x') heraus. Ferner wird, zum Erfassen der Dicke (d) der Folie (90') oder Platte (90), die Dicke (d) entlang der Höhenrichtung (z) erfasst. Ferner betrifft die Erfindung eine Anlage zum Herstellen einer Folie (90') oder Platte (90), sowie ein Verfahren zum Betreiben einer solchen Anlage.
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公开(公告)号：WO2023022877A1
公开(公告)日：2023-02-23
申请号：PCT/US2022/039100
申请日：2022-08-02
Applicant: LAM RESEARCH CORPORATION
Inventor： HIESTER, Jacob L. , BLANK, Richard
IPC: G01B7/14 , H01L21/67 , C23C16/455 , C23C16/458 , C23C16/52
Abstract: A sensor disc configured to measure a gap between a first structure and a second structure in a processing chamber of a substrate processing system includes an upper surface, at least one first capacitive sensor arranged on the upper surface of the sensor disc that is configured to generate a first measurement signal indicative of a first distance between the upper surface of the sensor disc and the first structure, a lower surface, and at least one second capacitive sensor arranged on the lower surface of the sensor disc that is configured to generate a second measurement signal indicative of a second distance between the lower surface of the sensor disc and the second structure.
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公开(公告)号：WO2023021697A1
公开(公告)日：2023-02-23
申请号：PCT/JP2021/030623
申请日：2021-08-20
Applicant: 日本電信電話株式会社
IPC: G01B11/02
Abstract: 本開示は、撮像視野の広い低倍率の画像に対して機械学習により訓練された処理を適用することにより、撮像した画像の位置ずれやデータ容量の増大を抑制し、且つ高スループットな光導波路の計測システムおよび計測方法を提供する。本開示による計測システムは、被計測物の画像を撮像する撮像部と、倍率の異なる複数の画像に対してパターンマッチング処理およびトリミング処理を実装し、訓練用画像データセットを生成するデータセット生成部と、ニューラルネットワークを備え、訓練用画像データセットに基づいてニューラルネットワークが超解像処理を実装することを訓練し、訓練済みネットワーク設定および前記画像に基づいて超解像処理画像を生成する機械学習部と、超解像処理画像に基づいて、前記被計測物の少なくとも一部を計測する計測部とを備える。また、本開示は、訓練工程と実行工程を備えた光導波路の計測方法を提供する。
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