无人船电子器件的在线监测组件
    81.
    发明申请

    公开(公告)号:WO2017219466A1

    公开(公告)日:2017-12-28

    申请号:PCT/CN2016/095093

    申请日:2016-08-14

    Applicant: 杨越

    Inventor: 杨越

    CPC classification number: G01R31/28

    Abstract: 一种无人船上电子器件在温度应力测试条件下的在线监测组件,所述在线监测组件由无人船上的相适应的气候箱(1),若干个测试PCB(2),选定组件(4)以及具有测量电路(6)的在线监测设备(5),计算机(7),多路复用器(8)和通讯连接(9)组成,其中所述气候箱(1)具有两个独立的腔室(1-1,1-2),每个测试PCB(2)上具有一个温度传感器(3),所述选定组件(4)放置在测试PCB(2)上,所述测量电路(6)工作在寄生电源模式下。

    양방향 도전성 핀, 양방향 도전성 패턴 모듈 및 그 제조방법
    82.
    发明申请
    양방향 도전성 핀, 양방향 도전성 패턴 모듈 및 그 제조방법 审中-公开
    双向导电引脚,双向导电图案模块及其制造方法

    公开(公告)号:WO2017209357A1

    公开(公告)日:2017-12-07

    申请号:PCT/KR2016/012421

    申请日:2016-11-01

    CPC classification number: G01R1/04 G01R1/067 G01R3/00 G01R31/26 G01R31/28

    Abstract: 본 발명은 양방향 도전성 핀, 양방향 도전성 패턴 모듈 및 그 제조방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 양방향 도전성 핀은 도전성을 갖는 박판이 상하 방향을 축으로 태엽 형태로 말려 형성되어 상부 방향에서의 접촉시 탄성적으로 지지하는 상부 접촉부와, 도전성을 갖는 박판이 상기 상하 방향을 축으로 태엽 형태로 말려 형성되어 하부 방향에서의 접촉시 탄성적으로 지지하는 하부 접촉부와, 상기 상부 접촉부와 상기 하부 접촉부를 전기적으로 연결하는 적어도 하나의 연결부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 따라, 도전성을 갖는 금속 박판을 패터닝하고, 금형 등의 방법을 패턴을 말아 태엽 형태의 상부 접촉부 및 하부 접촉부를 형성하고, 연결부가 원주 방향으로 함께 감겨 꼬인 형태를 가져 상하 방향으로 탄성적으로 복원력을 가지게 되어 상하 방향으로 하나의 양방향 도전성 핀이 구현 가능하게 된다.

    Abstract translation: 双向导电引脚,双向导电图案模块及其制造方法技术领域本发明涉及双向导电引脚,双向导电图案模块及其制造方法。 根据被形成以干燥在轴向垂直方向上的绕组形式具有导电性薄板的本发明双向导电销是用于在向上方向上接触被弹性地支撑的上侧接触部,其具有在垂直轴的导电性片材 其特征在于它是通过干绕组型包括至少一个与用于弹性地支撑在沿向下的方向,上接触接触下接触部和下侧接触部进行电连接的连接部分形成。 因此,具有薄金属板的导电性图案形成,和作为图案绕组上侧接触部的形状,并形成下侧接触部的模制辊这样的方法和连接部分是弹性的,弹性地在垂直方向带来的扭曲的形状卷绕沿圆周方向 因此,一个双向导电引脚可以在垂直方向上实现。

    芯片测试方法及装置
    83.
    发明申请

    公开(公告)号:WO2017185247A1

    公开(公告)日:2017-11-02

    申请号:PCT/CN2016/080315

    申请日:2016-04-27

    CPC classification number: G01R31/28

    Abstract: 一种芯片测试装置及方法,装置包括:按压模块(101)、电压控制模块(103)以及测试主机(104);所述按压模块(101)用于模拟对被测芯片(102)的手势操作,电连接有恒定电信号;所述测试主机(104)控制被测芯片(102)输出动态变化的激励电信号;所述电压控制模块(103)用于根据激励电信号的动态变化以及所述被测芯片(102)正常工作的额定电信号,动态调整所述被测芯片(102)的测试电信号,以获得激励电信号的等效波动状态;所述测试主机(104)根据等效波动状态判定测试结果。按压模块(101)直接恒定电信号,无需激励信号TX管脚引出导线,节省了系统的成本。按压模块(101)直接公共参考地,其信号相对稳定,不会受外界信号的干扰。

    프로브핀 제조장치 및 제조방법
    84.
    发明申请
    프로브핀 제조장치 및 제조방법 审中-公开
    探针制造装置和制造方法

    公开(公告)号:WO2017160090A2

    公开(公告)日:2017-09-21

    申请号:PCT/KR2017/002829

    申请日:2017-03-16

    CPC classification number: G01R1/067 G01R3/00 G01R31/26 G01R31/28

    Abstract: 본 발명은 프로브핀의 제조장치 및 제조방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 금속 와이어의 첨단부를 연마하여, 프로브핀을 제조하는 장치 및 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 금속 와이어의 끝단을 연마하여 프로브핀을 제조하는 장치로서, X축, Y축 및 Z축 방향을 가지는 지지구조와, 연마면인 외주면이 서로 마주보도록 배치되며, 각각 Y축과 나란한 회전축을 가지는 한 쌍의 회전 숫돌과, 상기 지지구조에 설치되며, 상기 한 쌍의 회전 숫돌을 X축과 나란하게 직선 이동시켜, 상기 한 쌍의 회전 숫돌 사이의 간격을 조절하는 숫돌 이송장치와, Z축을 따라 직선이동 하도록 상기 지지구조에 설치되며, 와이어를 고정해 Z축을 회전축으로 하여 회전시키도록 구성된 와이어 홀더와, 상기 와이어가 회전하면서 상기 한 쌍의 회전 숫돌 사이로 하강하도록, 상기 와이어 홀더를 제어하며, 상기 와이어가 하강함에 따라 상기 한 쌍의 회전 숫돌 사이의 간격이 점점 멀어지도록 숫돌 이송장치를 제어하는 제어기를 포함하는 프로브핀 제조장치가 제공된다.

    Abstract translation:

    本发明涉及到探针的制造装置和制造方法,并且更具体地,金属丝的磨料尖端部分,用于产生探针的装置和方法。 根据本发明,用于制造探针接脚以抛光该金属线,X轴,Y轴的端部提供了一种装置,是支撑结构的外周面,并具有布置成彼此面对,Y轴,分别为Z轴方向上的抛光表面上,并且 被安装到一对研磨轮和具有平行旋转轴线的支撑结构,和由一对并排的侧线性移动到X轴的砂轮,用于调整所述一对砂轮进给单元的磨轮之间的距离 线架,安装在支撑结构上,用于沿着Z轴线性移动,并且被配置为通过固定线将Z轴围绕Z轴旋转; 以及控制器,用于控制研磨装置,使得随着线材下降,一对磨石之间的距离逐渐增大 该探针的制造装置。

    噪声发生器、利用其测试电子设备的方法和存储介质

    公开(公告)号:WO2017143917A1

    公开(公告)日:2017-08-31

    申请号:PCT/CN2017/073405

    申请日:2017-02-13

    Inventor: 马光明 於明剑

    CPC classification number: G01R31/28 H03B29/00

    Abstract: 一种电子设备测试用噪声发生器、利用噪声发生器测试电子设备的方法及存储有执行利用噪声发生器测试电子设备的方法的计算机可执行指令的计算机存储介质。噪声发生器包括:噪声生成模块(200),配置为产生测试噪声;与噪声生成模块(200)连接的噪声输出端(201),配置为向输出电压微调引脚(101)输出测试噪声,使电源模块根据测试噪声调节电源输出端(102)的输出电压。利用噪声发生器测试电子设备的方法包括:接收用户的调整指令,并根据调整指令调整噪声输出端(201)输出的测试噪声的类型(301,401);通过输出电压微调引脚(101)将测试噪声输入到电源模块中,使得电源输出端(102)处产生纹波噪声(302,402)。噪声发生器能够使得电源模块在电源输出端(102)处生成有效的纹波噪声。

    디임베딩을 위한 테스트 픽스처 추출 방법
    86.
    发明申请
    디임베딩을 위한 테스트 픽스처 추출 방법 审中-公开
    提取用于去嵌入的测试夹具的方法

    公开(公告)号:WO2017126729A1

    公开(公告)日:2017-07-27

    申请号:PCT/KR2016/000771

    申请日:2016-01-25

    Inventor: 조재용 정성일

    CPC classification number: G01R31/28 G01R31/317

    Abstract: 본 발명은 디임베딩을 위한 테스트 픽스처 추출 방법에 관한 것이다. 이러한 테스트 픽스처의 디임베딩 방법은 (a) 송신라인과 불연속성 구간을 포함하는 테스트 픽스처의 불연속성 구간에 제1 비교용 송신라인을 추가하여 제1 비교용 테스트 픽스처를 생성하는 단계, (b) 테스트 픽스처의 불연속성 구간에 제2 비교용 송신라인을 추가하여 제2 비교용 테스트 픽스처를 생성하는 단계, (c) 제1 비교용 테스트 픽스처의 역(inverse)의 값과 제2 비교용 테스트 픽스처를 곱셈 연산하여 제1 비교용 송신라인을 얻는 단계, 그리고 (d) (c) 단계에서 얻은 제1 비교용 송신라인의 역의 값과 제1 비교용 테스트 픽스처를 곱셈 연산하여 테스트 픽스처를 얻는 단계를 포함한다. 이로 인해, 제1 비교용 테스트 픽스처와, 제2 비교용 테스트 픽스처를 생성 및 이를 이용하여 테스트 픽스처의 특성을 정확히 추출할 수 있어, 테스트 픽스처의 정확한 특성 값을 이용하여 장치(DUT)의 특성 값을 측정하는 디임베딩을 정확히 수행할 수 있다.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于去嵌入的测试夹具提取方法。 (A)通过将第一比较传输线添加到包括传输线和不连续部分的测试夹具的不连续部分来生成第一比较测试夹具;(b) (C)通过将第二比较传输线添加到第一比较测试夹具的不连续部分,将第一比较测试夹具和第二比较测试夹具的相反值添加到第二比较测试夹具, 并且(d)通过将步骤(c)中获得的第一比较传输线的倒数值乘以第一比较测试夹具来获得测试夹具,以获得第一校正传输线 。 因此,第一比较器产生的测试夹具,和一个第二比较测试夹具和这一点,有可能使用,所述设备(DUT)的特性值准确地提取测试夹具的特征,通过使用测试夹具的准确特征值 可以准确地去嵌入。

    半導体装置、測定装置および測定方法、並びに半導体システム
    87.
    发明申请
    半導体装置、測定装置および測定方法、並びに半導体システム 审中-公开
    半导体器件,测量设备和测量方法以及半导体系统

    公开(公告)号:WO2017119319A1

    公开(公告)日:2017-07-13

    申请号:PCT/JP2016/088380

    申请日:2016-12-22

    CPC classification number: G01R31/28

    Abstract: 本開示は、小規模でPID(Plasma Induced Damage)影響を精度良く測定することができるようにする半導体装置、測定装置および測定方法、並びに半導体システムに関する。 半導体装置は、プラズマプロセスにおいてアンテナとして機能するアンテナ部がゲートに接続されたNMOSFETと、NMOSFETとリングオシレータとの接続を制御するPMOSFETとを備える。本開示は、例えば、プラズマプロセスにおいてアンテナとして機能するアンテナ部がゲートに接続されたNMOSFETと、NMOSFETとリングオシレータとの接続を制御するPMOSFETとを備えるTEG(Test Element Group)が形成された半導体装置等に適用することができる。

    Abstract translation:

    本公开的小和PID(等离子体诱导损伤)影响半导体器件,以便能够精确地测量,测量装置和方法,以及半导体系统。 该半导体器件包括一个NMOSFET天线单元,其功能是作为在等离子体处理的天线连接到一个栅极,以及用于控制和NMOSFET环形振荡器之间的连接的PMOSFET。 是,例如,包括作为在等离子体处理的天线被连接到栅极的NMOSFET天线单元,和用于控制NMOSFET和环形振荡器(测试元件组)之间的连接的PMOSFET的半导体器件TEG形成本公开 等等。

    서스펜디드 채널 플라즈마파 트랜지스터의 성능 평가 방법
    88.
    发明申请
    서스펜디드 채널 플라즈마파 트랜지스터의 성능 평가 방법 审中-公开
    悬空沟道等离子体三极管的性能评估方法

    公开(公告)号:WO2017115895A1

    公开(公告)日:2017-07-06

    申请号:PCT/KR2015/014575

    申请日:2015-12-31

    CPC classification number: G01R31/2601 G01R23/02 G01R27/02 G01R31/26 G01R31/28

    Abstract: 본 발명을 서스펜디드 채널 플라즈마파 트랜지스터의 물리적 특성을 이용하여 해당 소자의 테라헤르쯔 발진 가능성을 평가하는 서스펜디드 채널 플라즈마파 트랜지스터의 성능 평가 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다. 상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 서스펜디드 채널 플라즈마파 트랜지스터의 성능 평가 방법에 있어서, 전자 표류 속도를 x축으로 설정하는 x축 설정 단계; 플라즈마파 속도를 y축으로 설정하는 y축 설정 단계; 및 전자 표류 속도에 따른 플라즈마파 속도의 관계식과 서스펜디드 채널 플라즈마파 트랜지스터의 플라즈마파 발생 조건을 이용하여 디자인 윈도우를 생성하여 소자의 동작을 판단하는 소자 성능 판단 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.

    Abstract translation:

    通过使用信道等离子体波晶体管的物理特性,以提供悬浮频道的等离子波晶体管的性能评估方法来评估太赫兹振荡悬浮本发明看来,用于该目的的装置。 本发明为了达到上述目的,在悬浮等离子体波沟道晶体管的性能评价方法中,x轴设置在x轴设定步骤中的电子漂移速度; 将等离子体波速度设定为y轴的y轴设定步骤; 其特征在于它包括一<;以及使用所述表达的等离子体波速度和根据所述电子漂移速度阶段的器件性能的悬浮频道的等离子波晶体管的等离子体波生成条件被确定为生成设计窗口,以确定该设备的操作。 / p>

    푸셔장치
    89.
    发明申请
    푸셔장치 审中-公开
    推进装置

    公开(公告)号:WO2017095070A1

    公开(公告)日:2017-06-08

    申请号:PCT/KR2016/013594

    申请日:2016-11-24

    Inventor: 정영배

    CPC classification number: G01R31/26 G01R31/28

    Abstract: 본 발명은 푸셔장치에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 피검사 디바이스의 단자들을 검사용 장치에 가압하기 위한 푸셔장치에 있어서, 중앙에 배치되며 아래로 개방되어 있는 푸셔 수용공간과, 상기 푸셔 수용공간과 인접하게 배치되고 밸브구조체가 수용될 수 있는 밸브 수용공간과, 일단은 외부의 공기유입부와 연결되고 타단은 상기 밸브 수용공간과 연결되는 유입통로와, 일단은 외부와 연결되고 타단은 상기 밸브 수용공간과 연결되는 배출통로와, 일단은 상기 밸브 수용공간과 연결되고 타단은 상기 푸셔 수용공간과 연결되는 연결통로를 포함하는 하우징; 상기 연결통로를 상기 유입통로와 배출통로 중 어느 하나에 선택적으로 연통시키는 밸브구조체; 및 상기 유입통로와 연결통로가 연통되어 공기유입부로부터 공기가 상기 푸셔 수용공간 내에 유입되는 경우 공압에 의하여 하강하여 피검사 디바이스와 접촉함으로서 상기 피검사 디바이스를 검사용 장치 측으로 가압할 수 있는 가압수단을 포함하되, 상기 밸브구조체와 가압수단은 단일의 하우징 내에 배치되어 있는 푸셔장치에 대한 것이다.

    Abstract translation: 本发明

    如对推杆装置,并且更具体地在用于在受测试装置的装置的检查端子推动推杆装置,设置在所述中心接收的推进器,其是开放的向下 空间,并且所述入口通道被布置为邻近所述推杆收容空间和阀容纳空间,并且一旦在阀结构可容纳被连接到外部空气入口的部分,另一端连接到所述阀容纳空间,一个是外部 并且被连接到被连接到所述阀容纳空间中的排气通道的另一端,一端连接到阀容纳空间外壳,其包括被连接到所述推动器容置空间的连接通道的另一端; 阀结构,选择性地将所述连接通道与所述流入通道和所述排出通道中的一个连通; 和加压装置,它降低了由空气压力施加到检查装置的压力侧下测试由被测装置中的设备接触时从副进气口的空气的连接通道的入口通道连通流入所述推进器容纳空间 其中阀结构和压力装置设置在单个壳体内。&lt; / p>

    片上系统SOC的监控方法、装置和计算机存储介质

    公开(公告)号:WO2017092459A1

    公开(公告)日:2017-06-08

    申请号:PCT/CN2016/098040

    申请日:2016-09-05

    Inventor: 邹飞

    CPC classification number: G01R31/28

    Abstract: 一种片上系统SOC的监控方法,该方法包括:节点监控模块监测SOC内被监控节点的总线访问行为,获得被监控节点的总线监测信息(101);节点监控模块将总线监测信息、及自身的标识信息作为被监控节点的总线监测结果,通过节点监控模块与监控主控模块建立的串行通信链路,发送给监控主控模块(102)。通过上述方法,可以简单定位出导致总线访问异常的异常点的位置。

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