法線検出方法、法線検出装置および法線検出機能を備えた加工機
    1.
    发明申请
    法線検出方法、法線検出装置および法線検出機能を備えた加工機 审中-公开
    正常检测方法,正常检测装置和具有正常检测功能的加工机

    公开(公告)号:WO2013121595A1

    公开(公告)日:2013-08-22

    申请号:PCT/JP2012/054853

    申请日:2012-02-28

    CPC classification number: G01B21/16 G01B21/04 G01B21/22

    Abstract:  一つまたは複数の距離検出器(30)を用いて被測定物(20)までの距離を測定し、得られた測定結果(L)から前記被測定物(20)の被測定面(21)における法線ベクトル(Vn)を求める法線検出方法であって、前記距離検出器(30)によって第一の測定位置(Pa)で測定する第一の測定点(Qa)と、前記第一の測定位置(Pa)と異なる第二の測定位置(Pd)で測定する第二の測定点(Qd)とを、三次元軸上で繋いだ直線を第一のベクトル(Vad)とし、前記第一の測定点(Qa)と、前記第一の測定位置(Pa)および前記第二の測定位置(Pd)と異なる第三の測定位置(Pf)で測定する第三の測定点(Qf)とを三次元軸上で繋いだ直線を第二のベクトル(Vaf)とし、前記第一のベクトル(Vad)と前記第二のベクトル(Vaf)との外積によって前記被測定面(21)における法線ベクトル(Vn)を求める方法。

    Abstract translation: 一种用于使用一个或多个距离检测器(30)测量到测量对象(20)的距离的正常检测方法,并且从所获得的测量对象(20)的测量表面(21)获得法向量(Vn) 测量结果(L),其中:在三维空间内,使用距离检测器(30)将在第一测量位置(Pa)测量的第一测量点(Qa)和第二测量点(Qd)连接的直线 在与第一测量位置(Pa)不同的第二测量位置(Pd)测量的信号被设置为第一矢量(Vad); 在与第一测量位置(Pa)和第二测量位置(Pd)不同的第三测量位置(Pf)处测量的第一测量点(Qa)和第三测量点(Qf)之间的直线作为第二矢量( VAF); 并且通过确定第一矢量(Vad)和第二矢量(Vaf)的矢量积来获得测量表面(21)上的法向量(Vn)。

    孔明け加工機
    2.
    发明申请
    孔明け加工機 审中-公开
    钻头

    公开(公告)号:WO2013118311A1

    公开(公告)日:2013-08-15

    申请号:PCT/JP2012/054512

    申请日:2012-02-24

    Abstract:  被加工孔における深さ加工精度の向上を図ることができる孔明け加工機を提供する。そのため、主軸(16)に装着された工具(T)により座ぐり孔(Wh)をワーク(W)に加工する孔明け加工機において、ワーク(W)の表面を押圧して、当該ワーク(W)の振動を抑制するプレッシャフット(17)と、所定の基準距離(Lo)に位置決めされた主軸(16)の端面(16a)とワーク(W)を押圧した状態のプレッシャフット(17)との間における主軸(16)の軸方向の距離(L)を測定する変位センサ(18)とを備え、主軸(16)の軸方向位置を、距離(L)と基準距離(Lo)との差となる補正距離(ΔL)を用いて補正して、当該主軸(16)を基準距離(Lo)に位置決めした後、この主軸(16)を、座ぐり孔(Wh)のさら座ぐり部(Whb)の深さに応じて、その軸方向に移動させて、工具(T)による孔明け加工を行う。

    Abstract translation: 提供了一种展现出钻孔深度精度提高的钻头。 所述钻头使用安装到主轴(16)上的工具(T),以将埋头孔(Wh)钻入工件(W)中,所述工具(W)具有以下压力:压力表面(17) 的工件(W),并抑制其振动。 以及位移传感器(18),其在所述工件(W)与所述工件(W)的所述端面(16a)之间的压脚(17)之间,测量所述主轴(16)的轴向方向上的距离(L) 主轴(16)被设定为规定的基准距离(Lo)。 使用校正距离(DeltaL)即由位移传感器(18)测量的距离(L)与基准距离(Lo)之间的差来校正主轴(16)的轴向位置。 在将主轴(16)设定为基准距离(Lo)之后,主轴(16)根据埋头孔(Wh)的埋头部(Whb)的深度,沿其轴向移动,并且 工具(T)用于钻孔。

    位置検出装置
    3.
    发明申请
    位置検出装置 审中-公开
    位置检测装置

    公开(公告)号:WO2012111510A1

    公开(公告)日:2012-08-23

    申请号:PCT/JP2012/052882

    申请日:2012-02-08

    CPC classification number: G01B11/00

    Abstract: 本発明に係る位置検出装置(1)は、測定面と交差する方向の高さを有する基準ボルト(B)の頭部(Bt)に直線光を照射し、その反射光を用いて基準ボルト(B)の頭部(Bt)までの距離を測定する光学センサ(2)と、直線光を照射方向と交差する2つの方向へ移動させる回転支軸(3)と、光学センサ(2)により所定の値の距離が測定された時点の回転支軸(3)の移動位置を検出する位置センサと、この位置センサから得られた複数の位置データから2つの移動方向により規定される平面において、基準ボルト(B)の略中心にあるボルト穴(Pb)の中心の座標を演算する演算部と、を有する。

    Abstract translation: 该位置检测装置(1)具有:光线传感器(2),用于将线性光照射到具有与测量面相交的方向上的高度的基准螺栓(B)的头部(Bt)上,并且使用反射光 测量到基准螺栓(B)的头部(Bt)的距离; 旋转支撑轴(3),用于沿与照射方向相交的两个方向移动线状光; 用于通过光学传感器(2)测量具有预定值的距离的时间点的旋转支撑轴(3)的移动位置的位置传感器; 以及计算单元,用于根据从所述位置传感器获得的多个位置数据计算在由所述两个移动方向限定的平面中的基准螺栓(B)的中心处的螺栓孔(Pb)的中心坐标 。

    形状測定装置
    4.
    发明申请
    形状測定装置 审中-公开
    几何测量装置

    公开(公告)号:WO2013118312A1

    公开(公告)日:2013-08-15

    申请号:PCT/JP2012/054514

    申请日:2012-02-24

    CPC classification number: G01B11/24

    Abstract:  ラインレーザ光におけるスキャン方向の向きを容易に校正することができる形状測定装置を提供する。そのため、ワーク(W)に取り付けられた基準ボルト(B)までの距離を測定する距離センサ(15)を、X軸方向と平行となる第1スキャン方向(S1)にラインレーザ光(L)を照射する第1スキャン位置(P1)と、Y軸方向と平行となる第2スキャン方向(S2)にラインレーザ光(L)を照射する第2スキャン位置(P2)との間で、回転可能に支持し、スキャン位置(P1,P2)に位置した距離センサ(15)が測定した校正用被測定面(31)までの測定距離に基づいて、そのラインレーザ光(L)が照射された校正用被測定面(31)の部位に対応する断面形状(30A,30B)を演算し、距離センサ(15)を断面形状(30A,30B)に応じて回転させることにより、ラインレーザ光(L)におけるスキャン方向(S1,S2)の向きを校正する。

    Abstract translation: 为了提供使得能够容易地校准行激光的扫描方向取向的几何测量装置,测量与附接到工件(W)的参考螺栓(B)的距离的距离传感器(15)是 被支撑为能够在以下之间旋转:在与X轴平行的第一扫描方向(S1)上照射行激光(L)的第一扫描位置(P1) 以及在与Y轴平行的第二扫描方向(S2)上照射线激光(L)的第二扫描位置(P2)。 基于由距离传感器(15)从上述扫描位置(P1,P2)到校准表面(31)测量的距离,对应于校准表面(31)的部分的横截面几何形状(30A,30B) ),并且通过根据所述横截面来旋转距离传感器(15)来校准扫描方向(S1,S2)上的线激光(L)的取向, 几何形状(30A,30B)。

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