Abstract:
Die Erfindung betrifft einen Heterostruktur- Feldeffekttransistor (HFET) mit einem Substrat (201), einer auf dem Substrat (201) angeordneten Nukleationsschicht (202), einer auf der Nukleationsschicht (202) angeordneten kohlenstoffdotierten GaN- Schicht (203), einer auf der kohlenstoffdotierten GaN- Schicht (203) angeordneten ersten AlGaN- Schicht (204) und auf der ersten AlGaN- Schicht (204) angeordneten Source - Elektrode (205), einer auf der ersten AlGaN- Schicht (204) angeordneten Drain - Elektrode (206) und einer zwischen der Source - Elektrode (205) und der Drain - Elektrode (206) auf der ersten AlGaN- Schicht (204) angeordneten Gate - Elektrode (207). Erfindungsgemäß ist zwischen der kohlenstoffdotierten GaN- Schicht (203) und der ersten AlGaN- Schicht (204) eine unintentionally- doped GaN-Schicht (208) vorgesehen. Ein zweiter Aspekt der Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen eines solchen HFETs.
Abstract:
Die vorliegende Erfindung betrifft einen UV-Photodetektor mit hoher Empfindlichkeit und einem geringen Dunkelstrom. Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einen UV-Photodetektor anzugeben, der eine hohe Empfindlichkeit und einen geringen Dunkelstrom aufweist. Erfindungsgemäß weisen die Finger (18) der ersten Elektrodenstruktur (14) und die Finger (24) der zweiten Elektrodenstruktur (20) eine Deckschicht (30) aus einem zweiten halbleitenden Material auf, wobei die Deckschicht (30) auf der Absorberschicht (12) angeordnet ist und die Absorberschicht (12) im Bereich der Finger (18, 24) direkt kontaktiert, und das erste halbleitende Material und das zweite halbleitende Material derart ausgebildet sind, dass sich an der Grenzschicht zwischen der Absorberschicht (12) und der Deckschicht (30) im Bereich der Finger (18, 24) ein zweidimensionales Elektronengas (2DEG) ausbildet.