公开(公告)号：WO2021221372A1

公开(公告)日：2021-11-04

申请号：PCT/KR2021/004929

申请日：2021-04-20

Applicant: 삼성전자 주식회사

Inventor： 이정구 ,  이승호 ,  김병규 ,  박상완 ,  박정은 ,  이대희 ,  이상현 ,  이정헌 ,  이지우

IPC: G05B19/418 ,  G06Q50/04 ,  G06N20/00 ,  G06T7/00 ,  G06Q10/00 ,  G06Q10/06

Abstract: 다양한 실시예들에 따르면, 전자 장치에 있어서, 디스플레이, 카메라 회로, 및 적어도 하나의 프로세서를 포함하고, 상기 적어도 하나의 프로세서는 상기 카메라 회로를 이용하여, 복수 개의 자재들을 포함하는 물체를 촬영하고, 상기 촬영된 물체와 연관된 제품에 대한 제 1 정보를 획득하고, 상기 제품을 생산하기 위한 복수 개의 공정 과정들을 특정하는 복수 개의 파라미터를 입력값으로 제공 받아, 상기 복수 개의 파라미터에 대응하는 적어도 하나의 불량 자재 및 불량 확률을 제공하기 위한 모델을 획득하고, 상기 모델의 학습에 이용된 트레이닝 데이터의 개수를 식별하고, 상기 식별된 트레이닝 데이터의 개수에 기반하여, 상기 모델 또는 통계적인 분석 방법 중 어느 하나를 선택하고, 상기 선택된 결과 및 현재 상기 제품과 연관된 복수 개의 제 1 파라미터에 기반하여 식별된 불량과 연관된 제 2 정보와 상기 제 1 정보를 제공하도록 설정된, 전자 장치가 제공될 수 있다. 그 밖의 다양한 실시예가 가능하다. 한편, 머신 러닝 모델을 이용하여 상기 전자 장치의 불량과 연관된 제 2 정보를 제공하는 동작을 수행할 수도 있다.