公开(公告)号：WO2015027029A1

公开(公告)日：2015-02-26

申请号：PCT/US2014/052027

申请日：2014-08-21

Applicant: CARL ZEISS X-RAY MICROSCOPY, INC.

Inventor： HOLZNER, Christian ,  FESER, Michael

IPC: G21K7/00

CPC classification number: G01N23/20075 ,  G01N23/04 ,  G21K7/00 ,  G21K2207/005

Abstract: A modified phase shifting mask is used to improve performance over traditional Zernike phase contrast imaging. The configurations can lead to an improved imaging methodology potentially with reduced artifacts and more than one order of magnitude gain in photon efficiency, in some examples. Moreover, it can be used to yield a direct representation of the sample's phase contrast information without the need for additional specialized post-acquisition image analysis. The approach can be applied to both wide-field and scanning configurations by using a phase mask including a pattern of phase elements and an illumination mask, having a pattern of holes, for example, that corresponds to a pattern of the phase mask.

Abstract translation: 改进的相移掩模用于改善传统Zernike相位对比成像的性能。 在一些示例中，这些配置可以导致改进的成像方法，潜在地具有减少的伪影和在光子效率中的一个以上的数量级增益。 此外，它可以用于产生样本的相位对比度信息的直接表示，而不需要额外的专门的采集后图像分析。 该方法可以通过使用包括相位元素图案和照明掩模的相位掩模来应用于宽场和扫描配置，具有例如对应于相位掩模的图案的空穴图案。

公开(公告)号：WO2018234331A1

公开(公告)日：2018-12-27

申请号：PCT/EP2018/066304

申请日：2018-06-19

Applicant: CARL ZEISS AG ,  CARL ZEISS SMT GMBH ,  CARL ZEISS X-RAY MICROSCOPY INC. ,  CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH

Inventor： TOTZECK, Michael ,  KRAUTZ, Danny ,  SPENGLER, Diana ,  WOLF, Uwe ,  HAGEN, Christoph-Hilmar Graf vom ,  HOLZNER, Christian ,  OMLOR, Lars

IPC: B22F3/00 ,  B22F3/105 ,  B33Y30/00 ,  B33Y50/00 ,  B33Y50/02 ,  B29C64/393 ,  G06F17/50 ,  G06N99/00 ,  G01N25/72 ,  G01N29/12 ,  G01N29/24 ,  G01B11/16 ,  G01B9/02

Abstract: Es werden Verfahren und Vorrichtungen zur additiven Fertigung von Werkstücken („3D-Druck") bereitgestellt. Dabei wird zur Analyse während der Fertigung eine Prüfung mit einem Prüfverfahren, beispielsweise mittels Laserultraschall, durchgeführt. Zur Analyse wird das Ergebnis der Prüfung mit einem Ergebnis der Simulation der Prüfung verglichen.

公开(公告)号：WO2014063002A1

公开(公告)日：2014-04-24

申请号：PCT/US2013/065584

申请日：2013-10-18

Applicant: CARL ZEISS X-RAY MICROSCOPY, INC.

Inventor： FESER, Michael ,  HOLZNER, Christian ,  LAURIDSEN, Erik Mejdal

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01N23/046 ,  G01N2223/419 ,  G01N2223/606

Abstract: A method and system for three dimensional crystallographic grain orientation mapping illuminates a polycrystalline sample with a broadband x-ray beam derived from a laboratory x-ray source, detects, on one or more x-ray detectors, diffracted beams from the sample, and processes data from said diffracted beams with the sample in different rotation positions to generate three dimensional reconstructions of grain orientation, position, and/or 3-D volume. A specific, cone beam, geometry leverages the fact that for a point xray source with a divergent beam on reflection of an extended crystal grain diffracts x-rays such that they are focused in the diffraction plane direction.

Abstract translation: 用于三维晶体取向映射的方法和系统用来自实验室X射线源的宽带x射线束照射多晶样品，在一个或多个x射线检测器上检测来自样品的衍射光束，并且处理 来自所述衍射光束的数据与样品处于不同旋转位置，以产生晶粒取向，位置和/或3-D体积的三维重建。 特定的锥形光束的几何利用了以下事实：对于在扩展晶粒的反射上具有发散光束的点x射线源衍射X射线，使得它们在衍射平面方向上聚焦。