公开(公告)号：WO2019121129A1

公开(公告)日：2019-06-27

申请号：PCT/EP2018/084257

申请日：2018-12-11

Applicant: KONINKLIJKE PHILIPS N.V.

Inventor： YAROSHENKO, Andriy ,  KOEHLER, Thomas ,  MAACK, Hanns-Ingo ,  TEDERS, Matthias

IPC: G01N23/041 ,  G01B11/255

CPC classification number: G01N23/041 ,  G01B11/255 ,  G01M11/005 ,  G01N21/95684 ,  G01N2021/9511 ,  G01N2223/315 ,  G21K1/025 ,  G21K1/067 ,  G21K2201/064 ,  G21K2207/005

Abstract: The present invention relates to a method, and a corresponding device, for testing a radius of curvature and/or for detecting inhomogeneities of a curved X-ray grating for a grating-based X-ray imaging device. The method comprises generating a beam of light diverging from a source point, propagating along a main optical axis and having a line- shaped beam profile. The method comprises reflecting the beam off a concave reflective surface of the grating,. A principal axis of the concave reflective surface coincides with the main optical axis and the source point is at a predetermined distance from a point where the main optical axis intersects the concave reflective surface. The method comprises determining whether a projection of the reflected beam in a plane at or near the source point is present outside a central region around the source point, in which an absence of this projection outside the central region indicates that a radius of curvature of the concave reflective surface corresponds to the predetermined distance and/or that the reflective surface is substantially homogeneously curved along a curve formed by the beam impinging on the concave reflective surface.

公开(公告)号：WO2017019782A1

公开(公告)日：2017-02-02

申请号：PCT/US2016/044287

申请日：2016-07-27

Applicant: RENSSELAER POLYTECHNIC INSTITUTE

Inventor： WANG, Ge ,  CONG, Wenxiang

IPC: H01J35/04 ,  H01J35/14 ,  A61B6/00 ,  A61B6/03

CPC classification number: A61B6/484 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4007 ,  A61B6/4021 ,  A61B6/4028 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/405 ,  A61B6/4064 ,  A61B6/4225 ,  A61B6/4233 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/4291 ,  G21K2207/005 ,  H01J3/029 ,  H01J29/488 ,  H01J35/14 ,  H01J35/32

Abstract: Novel and advantageous systems and methods for performing X-ray imaging by using an X-ray source with source grating functionality incorporated therein are provided. An electron beam can be electromagnetically manipulated such that the X-ray source emits radiation in a pattern that is the same as if the radiation had already passed through a source grating.

Abstract translation: 提供了通过使用其中结合有源光栅功能的X射线源来执行X射线成像的新型和有利的系统和方法。 电子束可以被电磁操作，使得X射线源以与辐射已经通过源光栅相同的图案发射辐射。

公开(公告)号：WO2016075140A1

公开(公告)日：2016-05-19

申请号：PCT/EP2015/076213

申请日：2015-11-10

Applicant: KONINKLIJKE PHILIPS N.V.

Inventor： KOEHLER, Thomas ,  ROESSL, Ewald ,  BEHLING, Rolf Karl Otto ,  NOËL, Peter Benjamin Theodor ,  PFEIFFER, Franz

IPC: A61B6/00 ,  A61B6/03 ,  H01J35/10 ,  H01J35/14 ,  G02B5/18

CPC classification number: A61B6/032 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/4085 ,  A61B6/484 ,  G02B5/1866 ,  G21K2207/005 ,  H01J35/14 ,  H01J2235/082 ,  H01J2235/086

Abstract: The invention relates to a source-detector arrangement (11) of an X-ray apparatus (10) for grating based phase contrast computed tomography. The source-detector arrangement comprises an X-ray source (12) adapted for rotational movement around a rotation axis (R) relative to an object (140) and adapted for emittance of an X-ray beam of coherent or quasi-coherent radiation in a line pattern (21); and an X-ray detection system (16) including a first grating element (24) and a second grating element (26) and a detector element (6); wherein the line pattern of the radiation and a grating direction of the grating elements are arranged orthogonal to the rotation axis; and wherein the first grating element has a first grating pitch varied dependent on a cone angle (β) of the X-ray beam and/or the second grating element has a second grating pitch varied dependent on the cone angle of the X-ray beam.

Abstract translation: 本发明涉及一种用于基于光栅的相位计算机断层摄影的X射线设备（10）的源 - 检测器装置（11）。 源检测器装置包括适于围绕相对于物体（140）旋转轴线（R）旋转运动的X射线源（12），并且适于使相干或准相干辐射的X射线束的发射 线图案（21）; 和包括第一光栅元件（24）和第二光栅元件（26）和检测器元件（6）的X射线检测系统（16）。 其中所述辐射的线图案和所述光栅元件的光栅方向布置成与所述旋转轴线正交; 并且其中所述第一光栅元件具有根据所述X射线束的锥角（β）而变化的第一光栅间距和/或所述第二光栅元件具有根据所述X射线束的锥角而变化的第二光栅间距 。

公开(公告)号：WO2016020178A1

公开(公告)日：2016-02-11

申请号：PCT/EP2015/066554

申请日：2015-07-20

Applicant: KONINKLIJKE PHILIPS N.V.

Inventor： ROESSL, Ewald ,  KOEHLER, Thomas ,  WISCHMANN, Hans-Aloys

IPC: G21K1/10 ,  G21K1/06 ,  G21K1/02

CPC classification number: A61B6/4291 ,  A61B6/032 ,  A61B6/06 ,  A61B6/484 ,  A61B6/502 ,  G01N23/20075 ,  G21K1/025 ,  G21K1/06 ,  G21K1/10 ,  G21K2207/005

Abstract: The invention relates to a grating device (1) for an X-ray imaging device, an interferometer unit (2), an X-ray imaging system, an X-ray imaging method, and a computer program element for controlling such device and a computer readable medium having stored such computer program element. The grating device (1) for an X-ray imaging device comprises a grating arrangement (10) and an actuation arrangement. The grating arrangement (10) comprises a plurality of grating segments (11). The actuation arrangement is configured to move the plurality of grating segments (11) with at least a rotational component between a first position and a second position. In the first position, the grating segments (11) are arranged in the path of an X-ray beam (30), so that the grating segments (11) influence portions of the X-ray beam (30). In the second position, the grating segments (11) are arranged outside the portions of the path of an X-ray beam (30), so that the portions of the X-ray beam (30) are unaffected by the grating segments (11).

Abstract translation: 本发明涉及一种用于X射线成像装置的光栅装置（1），用于控制这种装置的干涉仪单元（2），X射线成像系统，X射线成像方法和计算机程序元件，以及 计算机可读介质已经存储了这样的计算机程序元素。 用于X射线成像装置的光栅装置（1）包括光栅装置（10）和致动装置。 光栅装置（10）包括多个光栅段（11）。 致动装置被配置为使得至少一个旋转分量在多个光栅段（11）之间移动，在第一位置和第二位置之间。 在第一位置，光栅段（11）被布置在X射线束（30）的路径中，使得光栅段（11）影响X射线束（30）的部分。 在第二位置，光栅段（11）布置在X射线束（30）的路径的部分之外，使得X射线束（30）的部分不受光栅段（11）的影响 ）。

公开(公告)号：WO2015090949A1

公开(公告)日：2015-06-25

申请号：PCT/EP2014/076325

申请日：2014-12-03

Applicant: KONINKLIJKE PHILIPS N.V.

Inventor： ROESSL, Ewald ,  PASTINK, Hendrik Albert ,  KOEHLER, Thomas ,  DAERR, Heiner ,  VAN STEVENDAAL, Udo ,  MARTENS, Gerhard

IPC: A61B6/00 ,  G21K1/04 ,  G21K1/06 ,  G02B7/00

CPC classification number: A61B6/484 ,  A61B6/03 ,  A61B6/06 ,  A61B6/4291 ,  A61B6/502 ,  A61B6/585 ,  A61B6/587 ,  G21K1/04 ,  G21K2207/005

Abstract: A phase contrast imaging apparatus (MA) and related image processing method. The imaging apparatus includes a movable arm (AR) that carries a detector (D) and one or more interferometric gratings (G0,G1,G2). The imaging apparatus includes a rigidizer (RGD) to control the rigidity of at least the arm (AR) or a mounting (GM) for the gratings (G0,G1,G2). This allows controlling a drift of a Moiré pattern as detected in a sequence of readouts. A phase of the so controlled Moiré pattern can be used to calibrate the imaging apparatus by using the image processing method.

Abstract translation: 相位成像装置（MA）及相关图像处理方法。 成像装置包括携带检测器（D）和一个或多个干涉光栅（G0，G1，G2）的可移动臂（AR）。 成像装置包括用于控制至少臂（AR）的刚度的刚性化器（RGD）或用于光栅（G0，G1，G2）的安装（GM）。 这允许控制在读出序列中检测到的莫尔图案的漂移。 可以使用如此受控的莫尔图案的相位来通过使用图像处理方法校准成像装置。

公开(公告)号：WO2015027029A1

公开(公告)日：2015-02-26

申请号：PCT/US2014/052027

申请日：2014-08-21

Applicant: CARL ZEISS X-RAY MICROSCOPY, INC.

Inventor： HOLZNER, Christian ,  FESER, Michael

IPC: G21K7/00

CPC classification number: G01N23/20075 ,  G01N23/04 ,  G21K7/00 ,  G21K2207/005

Abstract: A modified phase shifting mask is used to improve performance over traditional Zernike phase contrast imaging. The configurations can lead to an improved imaging methodology potentially with reduced artifacts and more than one order of magnitude gain in photon efficiency, in some examples. Moreover, it can be used to yield a direct representation of the sample's phase contrast information without the need for additional specialized post-acquisition image analysis. The approach can be applied to both wide-field and scanning configurations by using a phase mask including a pattern of phase elements and an illumination mask, having a pattern of holes, for example, that corresponds to a pattern of the phase mask.

Abstract translation: 改进的相移掩模用于改善传统Zernike相位对比成像的性能。 在一些示例中，这些配置可以导致改进的成像方法，潜在地具有减少的伪影和在光子效率中的一个以上的数量级增益。 此外，它可以用于产生样本的相位对比度信息的直接表示，而不需要额外的专门的采集后图像分析。 该方法可以通过使用包括相位元素图案和照明掩模的相位掩模来应用于宽场和扫描配置，具有例如对应于相位掩模的图案的空穴图案。

公开(公告)号：WO2014187885A1

公开(公告)日：2014-11-27

申请号：PCT/EP2014/060501

申请日：2014-05-22

Applicant: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT

Inventor： PREUSCHE, Oliver

IPC: A61B6/00 ,  A61B6/06 ,  G21K1/06

CPC classification number: A61B6/484 ,  A61B6/06 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/4233 ,  A61B6/4291 ,  G21K1/065 ,  G21K2207/005

Abstract: Die Erfindung betrifft eine Phasenkontrast-Röntgenbildgebungsvorrichtung (2), insbesondere für den Medizinbereich, umfassend eine Röntgenstrahlungsquelle (6) zur Generierung eines Röntgenstrahlungsfeldes und einen Röntgendetektor (8) mit einer eindimensionalen oder zweidimensionalen Anordnung von Pixeln (10), wobei zwischen der Röntgenstrahlungsquelle (6) und dem Röntgendetektor (10) ein Phasenkontrast-Differenzverstärker (14) positioniert ist, mit dessen Hilfe im Betrieb räumliche Phasenunterschiede im Röntgenstrahlungsfeld verstärkt werden.

Abstract translation: 本发明涉及一种相位对比X射线成像装置（2），尤其是对包括X射线源，用于产生X射线辐射场（6）的医疗领域中，和一个X射线检测器（8），其具有像素的一维或二维阵列（10），所述X射线源之间（6 ）和所述X射线检测器（10）是相位对比差分放大器（14）借助于该操作空间相位差在X射线辐射场放大定位。

公开(公告)号：WO2014187588A1

公开(公告)日：2014-11-27

申请号：PCT/EP2014/054151

申请日：2014-03-04

Applicant: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT

Inventor： HEID, Oliver

IPC: A61B6/00 ,  G21K1/06 ,  A61B6/08 ,  A61B6/12

CPC classification number: A61B6/4233 ,  A61B6/08 ,  A61B6/12 ,  A61B6/484 ,  A61B6/502 ,  G21K1/065 ,  G21K2207/005

Abstract: Es wird ein bildgebendes System mit einer Röntgenquelle zum Aussenden von Röntgenstrahlung entlang einer zentralen Strahlachse, einem Bildgebungsbereich zum Positionieren eines zu untersuchenden Objekts und einem Röntgendetektor angegeben. Zwischen dem Bildgebungsbereich und dem Röntgendetektor ist ein Linsenfeld aus einer Mehrzahl von für Röntgenstrahlung fokussierenden Röntgenlinsen angeordnet. Weiterhin wird ein Verfahren angegeben, bei dem ein erfindungsgemäßes bildgebendes System verwendet wird, um mit Hilfe von Röntgenstrahlung eine durch ein Objekt bewirkte Verzerrung der Wellenfront der Röntgenstrahlung mit Hilfe des Röntgendetektors zu vermessen.

Abstract translation: 提供了一种成像系统，包括用于沿中心束轴线发射x射线辐射的X射线源，要被检查用于定位对象的成像区域和X射线检测器。 成像区域和所述X射线检测器，多个聚焦X射线辐射的X射线透镜的一个透镜阵列之间布置。 此外，提供了一种方法，其中根据本发明的成像系统一起使用引起的一个对象，X射线的波前通过X射线检测器的装置的失真的X射线的帮助下进行测量。

公开(公告)号：WO2010020490A9

公开(公告)日：2014-09-12

申请号：PCT/EP2009059159

申请日：2009-07-16

Applicant: SIEMENS AG ,  LUDWIG MAXIMILIANS UNIVERSITÄT ,  HABS DIETRICH ,  SCHARDT PETER

Inventor： HABS DIETRICH ,  SCHARDT PETER

IPC: H05G2/00

CPC classification number: H05G2/00 ,  G21K2207/005

公开(公告)号：WO2013187012A1

公开(公告)日：2013-12-19

申请号：PCT/JP2013/003531

申请日：2013-06-05

Applicant: CANON KABUSHIKI KAISHA

Inventor： MUKAIDE, Taihei ,  NIINUMA, Yuto

IPC: G21K1/10

CPC classification number: G01N23/04 ,  G21K1/04 ,  G21K1/10 ,  G21K2207/005

Abstract: The invention provides an X-ray apparatus and an X-ray measurement method that can increase sensitivity to a positional shift of an X-ray as compared with related art. An X-ray apparatus includes a splitting element (103) configured to spatially split an X-ray from an X-ray generator (101) and form an X-ray beam; a detector (106) configured to detect an intensity of the X- ray beam, which has been split by the splitting element and has passed through a detection object (104), the detector including a plurality of pixels; and an absorbing element (105) arranged at a boundary of two pixels from among the plurality of pixels included in the detector and configured to absorb part of the X-ray beam. The X-ray beam is configured to discretely irradiate the two pixels of the detector.

Abstract translation: 本发明提供了一种与现有技术相比可提高对X射线位置偏移的灵敏度的X射线装置和X射线测量方法。 X射线设备包括：分配元件，被配置为从X射线发生器（101）空间分割X射线并形成X射线束; 检测器（106），其被配置为检测由所述分离元件分离并已经通过检测对象（104）的所述X射线束的强度，所述检测器包括多个像素; 以及吸收元件（105），其布置在包括在所述检测器中的所述多个像素中的两个像素的边界处并且被配置为吸收所述X射线束的一部分。 X射线束被配置为离散地照射检测器的两个像素。