MESSEINRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR CHARAKTERISIERUNG EINES STRAHLUNGSFELDES, INSBESONDERE VON LASERSTRAHLUNG
    2.
    发明申请
    MESSEINRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR CHARAKTERISIERUNG EINES STRAHLUNGSFELDES, INSBESONDERE VON LASERSTRAHLUNG 审中-公开
    用于表征辐射区域的测量装置和方法,特别是激光辐射

    公开(公告)号:WO2018054444A1

    公开(公告)日:2018-03-29

    申请号:PCT/EP2016/001607

    申请日:2016-09-26

    Applicant: RAYVIS GMBH

    Abstract: Eine Strahlungsfeld-Messeinrichtung (100) zur Charakterisierung eines Strahlungsfeldes (1), das ein Medium (2) in einer Longitudinalrichtung (z) durchläuft, umfasst eine Detektoreinrichtung (10) mit mindestens einer Detektorkamera (11), die mindestens ein Detektorarray (12) zur Bildaufnahme von Streustrahlung (3) enthält, die im Medium durch das Strahlungsfeld (1) erzeugt wird und in eine Vielzahl von Seitenrichtungen gerichtet ist, die von der Longitudinalrichtung (z) abweichen, und eine Rekonstruktionseinrichtung (20) zur Charakterisierung des Strahlungsfeldes (1), basierend auf Bildsignalen der Detektoreinrichtung (10), wobei die Rekonstruktionseinrichtung (20) zur tomographischen Rekonstruktion einer Felddichte der Streustrahlung (3) im Strahlungsfeld (1) eingerichtet ist. Es werden auch Verwendungen der Strahlungsfeld-Messeinrichtung und Verfahren zur Charakterisierung eines Strahlungsfeldes (1), das ein Medium (2) in einer Longitudinalrichtung (z) durchläuft, unter Verwendung der Strahlungsfeld-Messeinrichtung (100) beschrieben.

    Abstract translation:

    一个辐射场测量装置(100),用于辐射场(1),包括在纵向方向(z)殿下BEAR运行的介质(2)的表征,包括检测器装置(10)与至少一个检测器的相机( 11),所述至少一个检测器阵列(12),用于图像采集的散射辐射(3)的包含在由辐射场(1)的介质中产生并在多个边方向偏离的被引导(从纵向Z)GIRL LT, 以及重建装置(20)用于表征辐射场(1),基于所述检测器装置(10)的图像信号,其中,所述重建装置(20),用于在辐射场(1)的散射辐射(3)的电场强度的断层摄影重建成立。 它也使用辐射场测量装置和方法用于表征辐射场(1),包括在纵向方向上的介质(2)(Z)殿下BEAR运行使用辐射场测量装置(100)说明。

    광대역 필터를 이용하여 빛의 파장을 선택할 수 있는 단색화 장치
    3.
    发明申请
    광대역 필터를 이용하여 빛의 파장을 선택할 수 있는 단색화 장치 审中-公开
    通过使用宽带滤波器选择光的波长的单色变换装置

    公开(公告)号:WO2014175541A1

    公开(公告)日:2014-10-30

    申请号:PCT/KR2014/001195

    申请日:2014-02-13

    Abstract: 특정 파장의 광을 용이하게 선택하기 위해서, 광의 입사 방향에 대해 제 1 회전 각도를 갖도록 배치되어, 입사하는 광에 대하여 제 1 파장 대역을 통과시키는 제 1 광대역 필터, 광의 입사 방향에 대해 제 2 회전 각도를 갖도록 배치되어, 제 1 광대역 필터를 통과한 광에 대하여 제 2 파장 대역을 통과시키는 제 2 광대역 필터, 및 제 2 광대역 필터를 통과한 광의 경로를 제 1 광대역 필터에 입사하는 광의 경로와 같아지도록 조정하는 경로 보상 수단을 포함하는, 단색화 장치가 제공된다. 이에 따라, 입사 대비 출력 광의 효율을 증가시키면서, 필요로 하는 특정 파장의 선택을 보다 용이하게 할 수 있다.

    Abstract translation: 提供一种用于容易地选择具有特定波长的光的单色化装置,包括:第一宽带滤光器,被布置成相对于光的入射方向具有第一旋转角度,以使得第一波长带相对于入射光能够通过 ; 第二宽带滤波器,被布置成相对于光的入射方向具有第二旋转角度,以使第二波长带相对于穿过所述第一宽带滤光器的光线通过; 以及路径补偿单元,用于调整光路,使得穿过第二宽带滤波器的光路与入射到第一宽带滤波器的光的路径相同。 因此,入射光的输出光效率增加,并且可以更容易地选择所需的特定波长。

    KRAFTFAHRZEUG-SENSORVORRICHTUNG
    4.
    发明申请
    KRAFTFAHRZEUG-SENSORVORRICHTUNG 审中-公开
    MOTOR车载传感器装置

    公开(公告)号:WO2014147233A1

    公开(公告)日:2014-09-25

    申请号:PCT/EP2014/055727

    申请日:2014-03-21

    CPC classification number: G01J1/0411 G01J1/0414 G01J1/4204

    Abstract: Die Erfindung bezieht sich auf eine Kraftfahrzeug-Sensorvorrichtung mit einem Sensor zur Umwandlung von Licht in elektrische Signale, gekennzeichnet durch eine erste Freiformreflektoreinheit, die derart ausgebildet ist, dass sie einen vorgegebenen, in- und/oder außerhalb eines Kraftfahrzeugs befindlichen Bereich auf den Sensor abbildet, wobei die erste Freiformreflektoreinheit einen Freiformreflektor aufweist, dessen Reflektorform keiner mathematischen Regelfläche entspricht.

    Abstract translation: 本发明涉及一种具有用于将光转换成电信号,其特征在于通过一第一自由形式反射器单元的传感器,其被设计为使得它映射机动车辆传感器装置的预定的,国内和/或位于机动车区域之外的传感器 其中,所述第一自由形式反射器单元包括:自由形式的反射器,所述反射器的形状对应于无数学规则表面。

    광학 근조도 센서 및 그 제조방법
    5.
    发明申请
    광학 근조도 센서 및 그 제조방법 审中-公开
    光学接近传感器及其制造方法

    公开(公告)号:WO2014073905A1

    公开(公告)日:2014-05-15

    申请号:PCT/KR2013/010136

    申请日:2013-11-08

    Inventor: 송청담

    Abstract: 본 발명은 광원의 광효율을 향상시키고 EMI 차폐 특성이 향상되며 제조비용을 절감할 수 있는 광학 근조도센서에 관한 것으로, 본 발명의 센서는, IR LED칩을 실장하기 위한 제1 캐비티의 측벽을 구성하며 개구부 역할을 하는 끝단의 직경이 하부의 직경보다 큰 꼭지가 잘린 역원뿔형 홀과 광센서 일체형 ASIC칩을 실장하기 위한 제2 캐비티의 측벽을 구성하며 개구부 역할을 하는 끝단의 직경이 하부의 직경보다 작은 꼭지가 잘린 원뿔형 홀이 형성되어 있고, 각 홀의 측벽이 반사가 잘 되도록 표면의 조도를 갖추어 경면이 되도록 형성되어 있으며, 전부 또는 일부에 금속이 코팅되어 있고, 수용되는 소자를 보호하기 위한 하우징을 겸하는 반사경 일체형 하우징 판재; 상기 하우징 판재와 접합되어 제1 캐비티와 제2 캐비티를 형성하며, 제1 캐비티의 바닥면과 제2 캐비티의 바닥면에 수용되는 소자를 각각 마운트하고 전기적 접속을 위해 결선할 수 있도록 회로 패턴이 형성된 PCB 기판; 상기 하우징 판재와 상기 PCB 기판에 의해 형성된 제1 캐비티의 바닥면의 PCB 기판에 마운트되어 있고, 전원이 공급되면 적외선을 방출하는 IR LED칩; 상기 하우징 판재와 상기 PCB 기판에 의해 형성된 제2 캐비티의 바닥면의 PCB 기판에 실장되어 전원이 공급되면 상기 IR LED칩을 구동함과 아울러 물체에서 반사된 적외선을 수광하여 근접을 감지하며 주변의 가시광선의 조도를 감지하는 광센서 일체형 ASIC칩으로 구성된다.

    Abstract translation: 本发明涉及一种光学接近传感器,该光学接近传感器能够提高光源的光学效率,其具有改善的EMI屏蔽特性,并且可以以降低的制造成本来制造。 本发明的传感器包括:反射器一体式壳体板,具有具有切口顶点的倒锥形孔和具有切口顶点的锥形孔,所述倒锥形孔形成第一腔的侧壁,用于安装 IR LED芯片,其上端用作直径大于其下端直径的孔径,该锥形孔形成用于安装光学传感器集成ASIC芯片并具有上端服务的第二腔室的侧壁 作为直径小于其下端的直径的孔,每个孔具有侧壁,镜面具有易于反射的表面照明,整个或一部分板被金属涂覆,并且板 用作保护容纳在其中的元件的壳体; PCB基板,其结合到壳体板以形成第一腔和第二腔,并且其上形成有电路图案,以便安装容纳在第一腔的底表面上的元件和第二腔的底表面 第二个腔并使电气连接线路; 所述IR LED芯片安装在由所述壳体板和所述PCB基板形成的所述第一腔的底表面上的所述PCB基板上,并且当被供电时发射红外线; 以及光学传感器集成ASIC芯片,其安装在由壳体板和PCB基板形成的第二腔的底表面上的PCB基板上,以便在被供电时驱动IR LED芯片并接收由物体反射的红外线 感测邻近度并因此感测环境可见光的照明强度。

    光量測定装置及び光量測定方法
    6.
    发明申请
    光量測定装置及び光量測定方法 审中-公开
    光学设备和光学方法

    公开(公告)号:WO2014020768A1

    公开(公告)日:2014-02-06

    申请号:PCT/JP2012/069895

    申请日:2012-08-03

    CPC classification number: G01J1/0242 G01J1/0266 G01J1/0414 G01J2001/4252

    Abstract:  簡単な構成で高速かつ高精度な測定を実現できる光量測定装置を提供する。 光量測定装置3は、放射状に光を発光する発光ダイオード101を載置するテーブル103と、発光ダイオード101に電力を供給して発光ダイオード101を発光させるためのプローブ針109と、記発光ダイオード101から発光された光を受光し、その光量を測定する受光モジュール1と、を備える。テーブル103は、正反射面の反射平面を具備する略一様な平板形状の反射板103bを有し、発光ダイオード101は、反射板103bの反射平面上に載置される。

    Abstract translation: 提供了一种光度测量装置,可以通过简单的配置实现快速和高精度的测量。 测光装置(3)具有:台(103),放置有用于径向发光的发光二极管(101); 用于向发光二极管(101)供电并使发光二极管(101)发光的探针(109); 以及用于接收从发光二极管(101)发射的光并测量其光量的光接收模块(1)。 工作台(103)具有配置有反射面的反射面的基本均匀的板状的反射体(103b),发光二极管(101)位于反射体(103b)的反射面上。

    MONITORING RADIATED INFRARED
    7.
    发明申请
    MONITORING RADIATED INFRARED 审中-公开
    监测雷达红外线

    公开(公告)号:WO2014014534A2

    公开(公告)日:2014-01-23

    申请号:PCT/US2013038276

    申请日:2013-04-25

    Inventor: WIHL TIM

    Abstract: A photometer system is provided. The photometer system includes an optical filter having a narrow stopband. The optical filter is positioned to receive a combination of narrowband light and infrared light, wherein the infrared light is radiated from an article illuminated by the narrowband light. The bandwidth of the stopband overlaps a bandwidth of the narrowband light. The system includes an infrared detector positioned to receive filtered light from the optical filter with the narrowband light reduced by the optical filter. The infrared detector is operative to detect the infrared light radiated from the article as passed by the optical filter.

    Abstract translation: 提供光度计系统。 光度计系统包括具有窄阻带的滤光器。 光学滤光器被定位成接收窄带光和红外光的组合,其中红外光从由窄带光照射的物品辐射。 阻带的带宽与窄带光的带宽重叠。 该系统包括红外检测器,定位成接收来自光学滤波器的滤波光,其中窄带光被光学滤波器减小。 红外检测器可操作以检测由滤光器通过的物品辐射的红外光。

    MINIATURIZED OPTOELECTRONIC SYSTEM FOR SPECTRAL ANALYSIS
    8.
    发明申请
    MINIATURIZED OPTOELECTRONIC SYSTEM FOR SPECTRAL ANALYSIS 审中-公开
    用于光谱分析的微型化光电子系统

    公开(公告)号:WO2013053876A3

    公开(公告)日:2013-08-01

    申请号:PCT/EP2012070236

    申请日:2012-10-12

    Abstract: The invention relates to a miniaturized optoelectronic system for producing static or moving images of scenes or individual objects (11) and for determining and evaluating the spectral properties of the objects (11) within a scene or of individually imaged objects (11). According to the invention, a system of this type comprises optical components and beam paths for producing static of moving images of a scene or of an individual object (11), optical components and beam paths for determining the spectral properties of one or more objects (11) contained in the scene or of the individual object (11), at least one image sensor as an optoelectronic converter, electronic components for processing the output signals of the image sensor, an information output unit designed to present the results in a sensory manner, preferably for presenting the spectral properties in association with the objects (11) in a visually perceptible manner, and means for supplying power to electronic components, wherein a design of the system in the form of a hand-held device, also referred to as a handheld, is provided for.

    Abstract translation: 本发明涉及一种小型化的光电系统,用于生成从场景,或者单个对象(11)的静态或运动图像的和,用于确定和场景内或单独成像对象(11)的评价对象(11)的光谱特性。 根据本发明,这种类型的系统包括光学元件和用于静态产生光路或场景的运动图像或一个对象(11),光学组件和一个或多个的光谱特性的确定光路,包含在场景中的对象(11)或所述单独对象的 (11),至少一个图像传感器作为光电转换器,电子元件用于处理所述图像传感器的输出信号,信息输出单元,配置为结果的显示感性,在与所述对象(11)相关联的频谱特性优选视觉上可察觉的表现,以及用于对电子部件供电 其中提供了也被称为手持式的手持式装置形式的系统的实施例。

    RE-ENTRANT MIRROR PHOTODETECTOR WITH WAVEGUIDE MODE FOCUSING
    9.
    发明申请
    RE-ENTRANT MIRROR PHOTODETECTOR WITH WAVEGUIDE MODE FOCUSING 审中-公开
    具有波形模式聚焦的重新进入的镜子光电转换器

    公开(公告)号:WO2013100950A1

    公开(公告)日:2013-07-04

    申请号:PCT/US2011/067521

    申请日:2011-12-28

    Abstract: A photonic integrated circuit (I/C) includes a focusing sidewall or in-plane surface that redirects and focuses light from a waveguide to a photodetector structure. The focusing includes redirecting an optical signal to a width smaller than a width of the waveguide. The focusing of the light allows the photodetector structure to be outside a waveguide defined by parallel oxide structures. With the photodetector structure outside the waveguide, the contacts can be placed closer together, which reduces contact resistance.

    Abstract translation: 光子集成电路(I / C)包括将来自波导的光重定向并聚焦到光电检测器结构的聚焦侧壁或平面内表面。 聚焦包括将光信号重定向到小于波导宽度的宽度。 光的聚焦允许光电检测器结构在由平行氧化物结构限定的波导的外部。 利用光电检测器结构在波导外部,触点可以更靠近放置,这降低了接触电阻。

    半導体発光素子の発光状況測定方法
    10.
    发明申请
    半導体発光素子の発光状況測定方法 审中-公开
    测量半导体发光器件的发光状态的方法

    公开(公告)号:WO2012120652A1

    公开(公告)日:2012-09-13

    申请号:PCT/JP2011/055403

    申请日:2011-03-08

    CPC classification number: G01J1/0414 G01J2001/4252

    Abstract:  簡単な構成で、半導体発光素子の発光状況を測定することが可能な半導体発光素子の発光状況測定方法を提供することである。 LED101の発光状況測定方法は、LED101から放射される発光状況測定方法であって、LED101の電極に電力を供給して当該LED101を発光させる発光工程と、LED101が放射した光を反射する反射部123によって反射された反射光と、LED101が放射した光のうち反射部123によって反射されない直接光と、受光部によって受光して複合光受光情報を測定する複合光測定工程と、LED101が放射した光のうち反射部123によって反射されない直接光のみを受光して直接光受光情報を受光部によって測定する直接光測定工程と、を有する。

    Abstract translation:

    简单的结构,是提供一种能够测量所述半导体发光元件的发光状态的半导体发光器件的发射光状态测量方法。 发光状态的测量方法是LED101其从LED101发出的光的发光状态测量方法,一种发光发射LED101以将电力提供给LED101的电极,反射部的步骤反射光LED101发射123 并且通过未由光LED101的反射部分123反射的光直接反射的光被发射,测量由所述光接收部分接收的复合光接收信息的复合光学测量步骤中,光LED101照射 在避免直接光照仅接收未由具有直接光测量步骤测量的接收单元,所述反射部分反射的123的直接光接收的信息。

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