-
公开(公告)号：WO2023074190A1
公开(公告)日：2023-05-04
申请号：PCT/JP2022/034904
申请日：2022-09-20
发明人： 岡村 隆徳
IPC分类号： H01L25/07 , G01C3/06 , G01S7/483 , G01S17/10 , H01L21/60 , H01L25/00 , H01L25/065 , H01L25/18 , H01S5/02325 , H01S5/042 , H01S5/183
摘要： ［課題］複数の基板間の寄生インダクタンスを低減することが可能な半導体装置および測距装置を提供する。 ［解決手段］本開示の半導体装置は、半導体素子と、前記半導体素子に設けられた第１電極と、平面視で第１方向に延びる第２電極とを含む第１基板と、平面視で前記第１方向と平行な第２方向に延びる配線と、前記配線と電気的に接続されたトランジスタと、前記配線と電気的に接続されたキャパシタとを含む第２基板と、前記第１電極と前記第２基板とを電気的に接続する第１接続部分と、前記第２電極と前記第２基板とを電気的に接続する第２接続部分とを備える。
-
公开(公告)号：WO2023068034A1
公开(公告)日：2023-04-27
申请号：PCT/JP2022/037097
申请日：2022-10-04
申请人： 日立Ａｓｔｅｍｏ株式会社
摘要： 左右カメラの垂直ずれに起因する視差誤差を高精度に補正することで、路面落下物などの制御対象物と路面ペイント等を正確に区別することができ、低段差の制御対象物を正確に検知できる画像処理装置を提供する。複数の車載カメラの各々で撮像した複数の画像から、路面上の特定領域を抽出する特定領域抽出部と、前記画像のうち路面であって前記特定領域以外の路面部分から、路面パラメータによってあらわされる路面構造を推定する路面パラメータ推定部と、前記路面構造から、前記特定領域において得られるべき理想的な視差を求める特定領域視差推定部と、前記複数の画像から視差を求める視差画像生成部と、前記特定領域の実際の視差、前記特定領域における理想的な視差、および前記特定領域の前記画像における配置情報を用いて、前記複数の画像の垂直ずれ量を求める垂直ずれ算出部と、を有する画像処理装置。
-
公开(公告)号：WO2023058666A1
公开(公告)日：2023-04-13
申请号：PCT/JP2022/037197
申请日：2022-10-04
申请人： 株式会社ブルービジョン
发明人： 長谷川 孝美
摘要： 本発明の距離測定装置（１）は、近赤外光を発光して、被写体に前記近赤外光を照射する発光素子（ＬＥＤ光源１８）と、被写体から同一の光軸を通る反射光を可視光と前記近赤外光とに分離して、前記可視光と前記近赤外光とをそれぞれ出力する光分離部（ビームスプリッタ１２）と、前記光分離部から出力された前記近赤外光を受光して、距離画像を生成する距離画像センサ（ＴＯＦセンサ１５）と、前記光分離部から出力された前記可視光を受光して、被写体画像を生成する撮像センサ（ベイヤーセンサ１３）と、前記撮像センサで生成された被写体画像に基づいて、所定ブロック毎に、補正信号を演算する補正信号演算部（測定部１７）と、前記所定ブロック毎に、前記補正信号生成部により演算された前記補正信号と、前記距離画像センサで生成された距離画像と、を用いて、前記被写体までの距離を測定する距離測定部（測定部１７）と、を備えている。 本発明は、被写体や外部環境に影響されることなく、被写体までの距離を高精度に測定できる。
-
公开(公告)号：WO2023048380A1
公开(公告)日：2023-03-30
申请号：PCT/KR2022/010970
申请日：2022-07-26
申请人： 주식회사 멀티플아이
发明人： 원창희
摘要： 본 발명은 이동체의 전방향에 위치한 적어도 하나의 물체에 대한 거리를 획득하는 방법 및 이를 이용한 비전 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 복수의 카메라에서 촬상된 복수의 이미지를 복수의 가상 입체에 투영한 결과를 이용함으로써 이동체의 전방향에 위치한 적어도 하나의 물체에 대한 거리를 획득하는 방법 및 이를 이용한 비전 장치에 관한 것이다. 본 발명은 이동체의 전방향에 위치한 적어도 하나의 물체에 대한 거리를 획득하고, 복수의 카메라의 복수의 이미지로부터 획득되는 메인 코스트 볼륨을 이용하여 각각의 카메라별로 서브 코스트 볼륨을 생성하고, 각각의 카메라별 서브 코스트 볼륨을 이용하여 이동체의 전방향에 위치한 적어도 하나의 물체에 대한 정확한 거리를 획득하는 것을 목적으로 한다.
-
公开(公告)号：WO2023037581A1
公开(公告)日：2023-03-16
申请号：PCT/JP2022/006538
申请日：2022-02-18
申请人： ソニーグループ株式会社
摘要： 等方的に選択酸化された酸化狭窄層を有する面発光レーザを提供する。 本技術に係る面発光レーザは、第１多層膜反射鏡と、第２多層膜反射鏡と、前記第１及び第２多層膜反射鏡の間に配置された活性層と、前記第２多層膜反射鏡と前記共振器との間に配置され、非酸化領域及び酸化領域を有する酸化狭窄層と、を備え、前記酸化狭窄層は、酸化調整構造を含む。本技術に係る面発光レーザによれば、等方的に選択酸化された酸化狭窄層を有する面発光レーザを提供することができる。
-
公开(公告)号：WO2023007795A1
公开(公告)日：2023-02-02
申请号：PCT/JP2022/008489
申请日：2022-03-01
申请人： ソニーグループ株式会社
IPC分类号： G01C3/06 , G01S17/86 , G01S17/894
摘要： 本開示は、dToFセンサの位置情報のずれを補正できるようにする信号処理装置および信号処理方法に関する。 信号処理装置は、測距センサの所定の測距点における照射光の飛行時間のヒストグラムデータである距離ヒストグラムを取得するデータ取得部と、所定の測距点が位置ずれ確認対象の測距点であるか否かを判定する確認対象判定部と、所定の測距点が位置ずれ確認対象の測距点である場合に、所定の測距点の距離ヒストグラムと、所定の測距点の近傍の測距点の距離ヒストグラムとの類似度の判定結果に基づいて、距離ヒストグラムから演算された所定の測距点の３次元座標を補正する補正処理を実行する座標補正部とを備える。本開示の技術は、例えば、測距センサが出力する距離ヒストグラムを用いて物体の３次元座標を算出する信号処理装置等に適用できる。
-
公开(公告)号：WO2023276229A1
公开(公告)日：2023-01-05
申请号：PCT/JP2022/004624
申请日：2022-02-07
申请人： 日立Ａｓｔｅｍｏ株式会社
发明人： 崎田 康一
摘要： 画素ピッチの異なる撮像素子、焦点距離の異なるレンズ、または、歪のあるレンズを用いた場合でも、高精度に視差検出を行うことが可能な距離測定装置を提供することにある。一実施の形態による距離測定装置は、撮像素子の上に撮像され、同一物体の少なくとも二つの像の撮像素子の上の像位置を二つの像の一致度判定によって検出し、測距を行う距離測定装置であって、撮像素子の上の像は撮像素子の画素ピッチでサンプリングされ、像位置検出時における像の一致度判定を実施する際に幾何学的な補正と、再サンプリング処理が実施され、再サンプリング処理時に発生する像の信号劣化を補正する。
-
公开(公告)号：WO2022270058A1
公开(公告)日：2022-12-29
申请号：PCT/JP2022/012838
申请日：2022-03-18
申请人： パナソニックＩＰマネジメント株式会社
摘要： 入力インターフェース（２１）は、撮像装置（１）から対象物の各点までの距離値をそれぞれ示す複数の画素を含む第１の距離画像を取得する。画像分割器（２４）は、複数の画素群のそれぞれが、互いに異なる複数の距離区間のうちのいずれか１つに含まれる距離値を有する画素を含むように、各画素の距離値に基づいて第１の距離画像を複数の画素群に分割する。ノイズフィルタ（２５）は、複数の画素群に対して互いに異なる複数のフィルタパラメータをそれぞれ用いて複数の画素群を個別に処理して複数の画素群のノイズを低減する。画像合成器（２６）は、ノイズフィルタ（２５）によって処理された複数の画素群を合成して第２の距離画像を生成する。
-
公开(公告)号：WO2022264773A1
公开(公告)日：2022-12-22
申请号：PCT/JP2022/021568
申请日：2022-05-26
申请人： 株式会社デンソー
发明人： 林 邦彦
IPC分类号： G01N21/956 , G01C3/00 , G01C3/06 , G01S7/481
摘要： 照射光の反射に基づき距離を計測する光計測装置の製造工程において、可視域外の所定の波長範囲の光を透過するように構成された光透過部材の第１の面に設けられたランドに接着部材を用いて電子部品を取り付ける部品取付工程よりも後に実施される接着状態の検査方法である。接着状態の検査方法は、前記光透過部材に前記第１の面とは反対側の第２の面から前記波長範囲内の透過光を照射して、その反射光を受光すること（Ｓ１０２）と、前記反射光に基づき前記接着状態を検出すること（Ｓ１０３～Ｓ１０５）と、を含む。前記部品取付工程において、前記接着部材は、前記ランドからはみ出すように塗布される。
-
公开(公告)号：WO2022224580A1
公开(公告)日：2022-10-27
申请号：PCT/JP2022/007176
申请日：2022-02-22
IPC分类号： G01C3/06 , G01S7/483 , G01S17/894
摘要： 測距における誤差を低減する。測距センサは、明部及び暗部の２種類の輝度の発光期間及び非発光期間を繰り返すパルス列状のパターン光に同期するそれぞれ異なる位相の受光期間に受光して複数の画像を生成する。明部領域検出部は、複数の画像におけるパターン光の明部に相当する反射光の受光により生成された領域である明部領域を検出する。第１の測距部は、照射されるパターン光と反射光との位相差を複数の画像において検出された明部領域により検出し、当該検出した位相差に基づいて物体までの距離である第１の測距値を算出する。明部領域選択部は、画像を構成する画像信号に基づいて複数の画像における明部領域の選択を行う。第２の測距部は、選択された明部領域の画像における位置を用いた三角測量により物体までの距離である第２の測距値を算出する。融合部は、第１の測距値及び第２の測距値の融合を行って融合測距値を生成する。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
1159 条记录 (耗时 0.024 秒)
