公开(公告)号：WO2023089236A1

公开(公告)日：2023-05-25

申请号：PCT/FI2022/050749

申请日：2022-11-15

Applicant: TEKNOLOGIAN TUTKIMUSKESKUS VTT OY

Inventor： SAARI, Heikki ,  HOLMLUND, Christer ,  STUNS, Ingmar

IPC: G01J3/10 ,  G01J3/28 ,  G01J3/32

Abstract: According to an example aspect of the present invention, there is provided a hyperspectral light source system, comprising a broadband light source arranged to generate and radiate a broadband light signal, a rotating multi bandpass filter arranged to pass through a part of the broadband light signal on one of multiple passbands of the hyperspectral light source system, wherein a rotation angle of the rotating multi bandpass filter determines the part of the broadband light signal that passes through the rotating multi bandpass filter and a tunable filter adjusted to pass through the part of the broadband light signal, coming from the rotating multi bandpass filter, on said one passband of the hyperspectral light source system.

公开(公告)号：WO2023057293A1

公开(公告)日：2023-04-13

申请号：PCT/EP2022/077084

申请日：2022-09-29

Applicant: FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V.

Inventor： MOLTER, Daniel ,  PFEIFFER, Tobias

IPC: G01J3/10 ,  G01J3/42 ,  G01N21/3581 ,  G02F1/35 ,  G02F1/39 ,  G01J3/108 ,  G02F1/353 ,  G02F1/397 ,  G02F2203/13

Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur phasensensitiven Detektion elektromagnetischer Terahertz-Strahlung. Um ein Verfahren bzw. eine Vorrichtung zur phasensensitiven Detektion von Terahertz-Strahlung bereitzustellen, welche die Erfassung von Amplitude und Phase der Terahertz-Strahlung mit kommerziell erhältlichen Detektoren im sichtbaren Bereich ermöglichen, wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, eine elektromagnetische Basisstrahlung in eine Pump- und eine Referenzstrahlung aufzuspalten, wobei die Pumpstrahlung zur Erzeugung einer Terahertz-Strahlung dient und wobei die Referenzstrahlung nochmals in eine Peakstrahlung und eine Reststrahlung aufgespalten wird. Die Peakstrahlung wird anschließend mit der Terahertz-Strahlung unter Bildung einer Mischstrahlung gemischt, wobei die Mischstrahlung, die die Informationen der Terahertz-Strahlung in Nebenbändern enthält, mit der Reststrahlung räumlich überlagert wird, sodass aus einem erfassten Interferenzsignal die Phasenlage der Terahertz-Strahlung ausgewertet werden kann.

公开(公告)号：WO2023272338A1

公开(公告)日：2023-01-05

申请号：PCT/AU2022/050651

申请日：2022-06-24

Applicant: SURENUT PTY LTD

Inventor： MARTIN, Tom ,  ARIZA, Wilmer ,  MISHRA, Gayatri

IPC: B07C5/342 ,  G01J3/10 ,  G01J3/28 ,  G01J1/38 ,  G01N21/3554 ,  G01N21/84 ,  G01N21/88 ,  G01N33/02 ,  G01N21/359 ,  G06K9/00 ,  G06N20/10

Abstract: A method for detecting an aflatoxin on a seed which includes determining wavelengths at which there is greatest difference in reflectance intensities of control and contaminated seed, and comparing reflectance intensities from the captured image with reflectance intensities indicative of an aflatoxin presence at a predetermined concentration. Seeds are ejected that have an aflatoxin concentration greater than the predetermined concentration as indicated by the reflectance intensities from the captured images.

公开(公告)号：WO2022261683A1

公开(公告)日：2022-12-22

申请号：PCT/AT2022/060180

申请日：2022-05-25

Applicant: OPTRONIA GMBH

Inventor： HAUSMANN, Ulrich

IPC: G02B19/00 ,  F21V5/04 ,  F21V7/00 ,  G01J3/02 ,  A01D75/20 ,  A01M31/00 ,  G01J3/10 ,  G01J3/427

Abstract: Totalreflexionslinse (1) umfassend eine erste Deckfläche (2) mit einem ersten Durchmesser (3) und eine parallel zu der ersten Deckfläche (2) angeordnete zweite Deckfläche (4) mit einem zweiten Durchmesser (5), wobei der zweite Durchmesser (5) größer als der erste Durchmesser (3) ist, wobei die zwei Deckflächen (2, 4) über eine, insbesondere konvex gekrümmte, Mantelfläche (6) verbunden sind, wobei zwischen der ersten Deckfläche (2) und der zweiten Deckfläche (4) wenigstens eine an die erste Deckfläche (2) angrenzende und in Richtung der zweiten Deckfläche (4) weisende Aussparung (7) angeordnet ist, wobei die wenigstens eine Aussparung (7) zumindest zwei in Richtung der zweiten Deckfläche (4) weisende und voneinander gesonderte Grenzflächenabschnitte (8) zur Brechung von Licht in Richtung der Mantelfläche (6) aufweist.

公开(公告)号：WO2022194386A1

公开(公告)日：2022-09-22

申请号：PCT/EP2021/057079

申请日：2021-03-19

Applicant: MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E. V. ,  UNIVERSITAET WIEN

Inventor： PUPEZA, Ioachim ,  HECKL, Oliver H.

IPC: G01J3/10 ,  G01J3/42 ,  G01J11/00

Abstract: A method of measuring a spectral response of a sample (1) comprises the steps of generating probe light pulses (2) having a primary spectrum with a fs pulse laser source device (10), generating gate light pulses (3) with the fs pulse laser source device (10), wherein the gate light pulses (3) have an adjustable temporal relationship relative to the probe light pulses (2), irradiating the sample (1) with the probe light pulses (2), including an interaction of the probe light pulses (2) and the sample (1), and temporally resolved detecting of the probe light pulses (2) having a modified spectrum, which deviates from the primary spectrum as a result of the interaction of the probe light and the sample (1), said modified spectrum being characteristic of the spectral response of the sample (1), wherein the detecting step comprises electro-optic sampling a temporal shape of the probe light pulses (2) after the interaction with the sample (1), wherein the probe light pulses (2) and the gate light pulses (3) are superimposed with varying temporal relationship in an electro-optic element (21) for sampling the temporal shape of the probe light pulses (2), and the spectral response of the sample (1) is obtained based on the temporal shape of the probe light pulses (2). The fs pulse laser source device (10) comprises a multi color master oscillator (11) including at least one gain medium and generating a first laser pulse train (4) and a second laser pulse train (5), which have different repetition frequencies fr1 and fr2 = fr1 ± Δfr with a repetition frequency difference Δfr, wherein the probe light pulses (2) are generated using one of the first and second laser pulse trains (4, 5) and the gate light pulses (3) are generated using the other one of the first and second laser pulse trains (4, 5), and the temporal relationship of the gate light pulses (3) relative to the probe light pulses (2) is adjusted by setting the repetition frequency difference Δfr. Furthermore, a spectroscopic measuring apparatus (100) for measuring a spectral response of a sample (1) is described.

公开(公告)号：WO2022192003A1

公开(公告)日：2022-09-15

申请号：PCT/US2022/017787

申请日：2022-02-25

Applicant: KLA CORPORATION

Inventor： MANASSEN, Amnon ,  SALIB, Isaac ,  YOHANAN, Raviv ,  SHAPHIROV, Diana ,  HAJAJ, Eitan ,  LEVINSKI, Vladimir ,  ABRAMOV, Avi ,  SHENTCIS, Michael ,  HILDESHEIM, Ariel ,  GRAUER, Yoav ,  EISENBACH, Shlomo ,  LAVERT, Etay ,  NIR, Iftach

IPC: G01N21/35 ,  G01N21/25 ,  G01N21/31 ,  G01J3/10 ,  G01J3/28 ,  G01N21/17

Abstract: An optical metrology tool may include one or more illumination sources to generate illumination having wavelengths both within a short-wave infrared (SWIR) spectral range and outside the SWIR spectral range, illumination optics configured to direct the illumination to a sample, a first imaging channel including a first detector configured to image the sample based on a first wavelength range including at least some wavelengths in the SWIR spectral range, a second imaging channel including a second detector configured to image the sample based on a second wavelength range including at least some wavelengths outside the SWIR spectral range, and a controller. The controller may receive first images of the sample from the first detector, receive second images of the sample from the second detector, and generate an optical metrology measurement of the sample based on the first and second images.

公开(公告)号：WO2022157634A1

公开(公告)日：2022-07-28

申请号：PCT/IB2022/050433

申请日：2022-01-19

Applicant: ECOM SPOL. S R.O.

Inventor： HODAN, Ales

IPC: G01J3/00 ,  G01J3/02 ,  G01J3/04 ,  G01J3/06 ,  G01J3/10 ,  G01N3/12 ,  G01J3/18 ,  G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01N30/00 ,  G01N30/74 ,  G01N21/85

Abstract: The present invention relates to the device for spectral half-width narrowing and exact wavelength selection for the LED chromatography detector, wherein the concave mirror (1) is located behind the LED (3) and behind the slits (2), in front of which there are the diffraction grating (9) and the focusing slit (4), behind which there is the beam splitter (5) to reflect the beam to the reference diode (8) and, through a cuvette (6), to the measuring diode (7).

公开(公告)号：WO2022049575A1

公开(公告)日：2022-03-10

申请号：PCT/IL2021/051067

申请日：2021-08-31

Applicant: SHTOBER, Gad Matania

Inventor： SHTOBER, Gad Matania

IPC: A61B5/00 ,  A61B5/1455 ,  A61B5/145 ,  G01J3/10 ,  A61B5/1459

Abstract: Disclosed herein is a system comprising at least one probe configured for obtaining from a brain tissue at least one near infrared measurement when the at least one probe is positioned at a predetermined proximal location to brain tissue, a processor configured to receive the at least one near infrared measurement from the at least one probe, compare the at least one near infrared measurement with a predetermined threshold value for at least one predetermined compound, determine the at least one near infrared measurement is above the predetermined threshold value, generate an indication indicating the presence of a secondary brain insult in the brain tissue, and provide the indication to an output thereby notifying an operator of the at least one probe of the presence of the secondary brain insult in the brain tissue.

公开(公告)号：WO2022031458A1

公开(公告)日：2022-02-10

申请号：PCT/US2021/042945

申请日：2021-07-23

Applicant: SIEMENS HEALTHCARE DIAGNOSTICS INC.

Inventor： JASPERSE, Jeffrey R.

IPC: G01J3/427 ,  G01J3/02 ,  G01J3/10 ,  G01J3/12 ,  G01J3/28

Abstract: Absorbance spectroscopy methods and systems are disclosed including a spectroscopy analyzer, comprising: an optical element device positioned to receive an analysis light that passes through a sample of a fluid specimen from an illumination unit, the analysis light including first light in a first light range and second light in a second light range different than the first light range, the optical element device comprising: a housing assembly that defines an internal space; and a dichroic mirror-reflector within the internal space positioned to receive the analysis light, the dichroic mirror-reflector configured to filter the analysis light such that a first portion of the analysis light in the first light range is reflected off the dichroic mirror-reflector as a spectrometer light, and such that a second portion of the analysis light in the second light range passes through the dichroic mirror-reflector as a detector light.

公开(公告)号：WO2022029292A2

公开(公告)日：2022-02-10

申请号：PCT/EP2021/072011

申请日：2021-08-06

Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH

Inventor： WINDISCH, Reiner ,  LANKES, Simon

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/10 ,  G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01J3/12 ,  G01J2003/102 ,  G01J2003/1226 ,  G01J2003/2806 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/2803

Abstract: Die Erfindung betrifft einen Detektor zur Spektroskopie im Nahbereich eines Messobjektes mit einem Gehäuse (10) mit wenigstens einer Apertur (21) zum Zuführen eines von dem Messobjekt reflektierten oder abgestrahlten Lichtbündels, wobei das Gehäuse das wenigstens eine Querschnittsebene aufweist, in der die wenigstens eine Apertur eine erste und eine zweite nicht zusammenhängende Schnittfläche aufweist. Eine Detektoranordnung zum wellenlängen- und winkelabhängigen Detektieren von Licht, ist in dem Gehäuse (10) lateral beabstandet von der wenigstens einen Apertur (21) angeordnet. Der Detektor umfasst ein erstes und ein zweites einer Detektorfläche gegenüberliegendes Reflektorelement (15) in dem Gehäuse. Das erste Reflektorelement ist (13) in einem Strahlengang der wenigstens einen Apertur (21) angeordnet und lenkt ein durch die wenigstens eine Apertur einfallendes Lichtbündel auf das zweite Reflektorelement lenkt, das ausgestaltet ist, ein einfallendes Lichtbündel auf die Detektorfläche zu lenken.