公开(公告)号：WO2019128199A1

公开(公告)日：2019-07-04

申请号：PCT/CN2018/095986

申请日：2018-07-17

Applicant: 桂林市晶准测控技术有限公司

Inventor： 钟胜 ,  赵飚

IPC: G01B3/22

CPC classification number: G01B3/22

Abstract: 一种杠杆表，包括壳体（1）、测量杠杆、位移传感器和单片机；测量杠杆的末端延伸到壳体（1）内部后与位移传感器同步摆动来进行测量；单片机处于壳体（1）内并通过位移传感器摆动产生的信号修正并计算出测量结果，在壳体（1）的外侧还设有将测量结果显示出来的液晶显示器（4）；位移传感器由定栅（5）和扇形结构的动栅（6）组成；定栅（5）固定在壳体（1）内对应测量杠杆末端的上方，动栅（6）固定在测量杠杆的末端上并与测量杠杆联动后相对定栅（5）摆动。该杠杆表回避了杠杆臂与动栅（6）之间的整个精密运动传递机构，一方面大大节约了生产成本，另外杠杆臂与动栅（6）不存在任何中间运动传递机构，减少因为多级传动形成的误差，极大的提高了测量精度。

公开(公告)号：WO2008011035A3

公开(公告)日：2008-01-24

申请号：PCT/US2007/016220

申请日：2007-07-17

Applicant: CASCADE MICROTECH, INC. ,  HAYDEN, Leonard

Inventor： HAYDEN, Leonard

IPC: G01D1/00 ,  G01B3/22

Abstract: A method of compensating a calibration for a vector network analyzer [VNA] includes performing calibrations on at least a pair of por [El. E2 E3.E4] to determine error terms associated with each port [E1.E2.E3 E4] wherein at least one of the error term is based upon selecting the reactacne of the load standard from a set of potential values in a manner such that the reference reactance errors are reduced

公开(公告)号：WO2007096403A3

公开(公告)日：2007-11-29

申请号：PCT/EP2007051701

申请日：2007-02-22

Applicant: MARPOSS SPA ,  GOLINELLI GUIDO ,  BETTAZZONI FABRIZIO

Inventor： GOLINELLI GUIDO ,  BETTAZZONI FABRIZIO

IPC: G01B7/00 ,  G01B3/22

CPC classification number: G01B7/001

Abstract: An axial movement linear gauge includes a support and protection structure (21) that defines a longitudinal axis, a spindle (11) movable along the longitudinal axis with an external surface on which a longitudinal groove (12) is achieved, a feeler (14), a position transducer (32), a thrust device (36) for thrusting the spindle with respect to the support and protection structure, guide devices (22) for guiding movements of the spindle along the longitudinal axis with respect to the support and protection structure, and an antirotation system for preventing rotations of the spindle about the longitudinal axis that includes antirotation elements (50,51), stationary with respect to the support and protection structure, cooperating with the longitudinal groove. The guide devices can be integrally embodied with a locking element that cooperates with the support and protection structure for defining an operative position of the guide devices with respect to the support and protection structure.

Abstract translation: 一种轴向运动线性量规包括限定纵向轴线的支撑和保护结构（21），沿纵向轴线可移动的具有纵向凹槽（12）的外表面的探测器（11），探测器（14） ，位置传感器（32），用于相对于支撑和保护结构推动主轴的推力装置（36），用于引导主轴沿纵轴相对于支撑和保护结构运动的引导装置（22） 以及用于防止主轴围绕纵向轴线旋转的防旋转系统，该防旋转系统包括相对于支撑和保护结构固定的防旋转元件（50,51），其与纵向凹槽配合。 引导装置可以与锁定元件一体地构成，该锁定元件与支撑和保护结构配合以限定引导装置相对于支撑和保护结构的操作位置。

公开(公告)号：WO03019184A9

公开(公告)日：2003-12-11

申请号：PCT/US0227214

申请日：2002-08-23

Applicant: BIO RAD LABORATORIES ,  PARVIN CURTIS ,  CEMBROWSKI GEORGE ,  COOPER GREG

Inventor： PARVIN CURTIS ,  CEMBROWSKI GEORGE ,  COOPER GREG

IPC: G01N33/48 ,  G01B3/22 ,  G01B5/20 ,  G01B11/24 ,  G01N35/00 ,  G01R27/28 ,  G01R31/00 ,  G01R31/14 ,  G06F19/00 ,  G06Q10/00 ,  G06Q50/00 ,  G01N33/50

CPC classification number: G01N35/00594 ,  G06Q10/10 ,  G06Q50/22 ,  G16H10/40 ,  G16H40/20 ,  Y10T436/10

Abstract: A Biometric quality control (QC) process application is configured to monitor bias and imprecision for each test, characterize patient population data distributions and compare, contrast, and correlate changes in patient data distributions to any change in QC data populations. The Biometric QC process monitors the analytical process using data collected from repetitive testing of quality control materials and patient data (test results). The Biometric QC process identifies the optimal combination of, for example, frequency of QC testing, number of QCs tested, and QC rules applied in order to minimize the expected number of unacceptable patient results produced due to any out-of-control error condition that might occur.

Abstract translation: 配置生物特征质量控制（QC）过程应用程序来监测每个测试的偏差和不精确度，表征患者人口数据分布，并比较，对比和将患者数据分布的变化与QC数据群体中的任何变化相关联。 生物特征QC过程使用从质量控制材料和患者数据（测试结果）的重复测试收集的数据监测分析过程。 生物特征QC过程识别QC测试的频率，测试的QC数量和所使用的QC规则的最佳组合，以便将由于任何失控的错误条件导致的不可接受的患者结果的预期数量最小化 可能会发生。

公开(公告)号：WO2017052926A1

公开(公告)日：2017-03-30

申请号：PCT/US2016/048429

申请日：2016-08-24

Applicant: INTEL CORPORATION

Inventor： CHATTOPADHYAY, Rita ,  RUSSELL, Anne M. ,  BAYBA, David M. ,  GODDING, Gary

IPC: G06T7/00 ,  G01B3/56 ,  G01B3/22

CPC classification number: G01B11/26 ,  G01D13/22 ,  G01D18/00 ,  G06F11/00 ,  G06K9/00771 ,  G06K9/78 ,  G06K2209/03 ,  H04W4/70

Abstract: Methods, systems, and storage media for monitoring a gauge are disclosed herein. In an embodiment, an image processing module may receive a digital image of a gauge to identify an analog value indicator of the gauge and to form an indicator representation corresponding to the analog value indicator. A geometric analysis module may determine from the indicator representation a geometric characteristic corresponding to the analog value indicator and an indicated gauge value. Other embodiments may be disclosed and/or claimed.

Abstract translation: 本文公开了用于监测仪表的方法，系统和存储介质。 在一个实施例中，图像处理模块可以接收仪表的数字图像以识别量规的模拟值指示符并形成对应于模拟值指示符的指示符表示。 几何分析模块可以从指示符表示确定与模拟值指示符相对应的几何特征和指示的计量值。 可以公开和/或要求保护其他实施例。

公开(公告)号：WO2014075763A1

公开(公告)日：2014-05-22

申请号：PCT/EP2013/003227

申请日：2013-10-25

Applicant: M & H INPROCESS MESSTECHNIK GMBH

Inventor： ARMBRUST, Matthias ,  WIEST, Christoph

IPC: G01B11/24 ,  G05B19/401 ,  G01B3/22 ,  G01B5/012

CPC classification number: G01B5/012 ,  B23Q17/20 ,  B23Q2039/002 ,  G01B2210/58

Abstract: Es wird eine Messvorrichtung (1) für eine Werkzeugmaschine vorgestellt, wobei die Messvorrichtung (1) eine Erfassungseinrichtung (2) und mindestens zwei Messtaster (3, 4) umfasst. Die Erfassungseinrichtung (2) und die Messtaster (3, 4) sind für eine kabellose Signalübertragung zumindest von jedem der Messtaster (3, 4) an die Erfassungseinrichtung (2) ausgebildet. Die Erfindung zeichnet sich dadurch aus, dass an der Erfassungseinrichtung (2) Empfangsparameter vorgegeben sind, wobei die Empfangsparameter zur Vorgabe einer Folge von nicht überlappenden Zeitabschnitten (31, 32, 35, 36, 37) vorgesehen sind, in der jedem Zeitabschnitt (31, 32, 35, 36, 37) genau einer der Messtaster (3, 4) derart zugeordnet ist, dass ein in einem der Zeitabschnitte (31, 32, 35, 36, 37) empfangenes Signal dem Messtaster (3, 4) des jeweiligen Zeitabschnitts (31, 32, 35, 36, 37) zugewiesen wird. Zudem ist jeder der Messtaster (3, 4) mit einer Elektronikeinheit ausgestattet, an der Sendeparameter vorgegeben oder einstellbar sind, mit denen die Elektronikeinheit ein Senden von Messwerten nur in solchen Zeitabschnitten (31, 32, 35, 36, 37) zulässt, die einer Teilfolge der Folge von Zeitabschnitten (31, 32, 35, 36, 37) zugeordnet sind, deren Zeitabschnitte (31, 32, 35, 36, 37) dem jeweiligen Messtaster (3, 4) zugeordnet sind. Dabei sind die Elektronikeinheiten der Messtaster (3, 4) zur Erfassung eines Synchronisationssignals ausgebildet, mit dem in jeder Elektronikeinheit die Teilfolge von Zeitabschnitten (31, 32, 35, 36, 37), in denen der jeweilige Messtaster (3, 4) sendet, auf die Folge von Zeitabschnitten, in denen die Erfassungseinrichtung (2) empfängt, abgestimmt wird.

Abstract translation: 这将被呈现给测量装置（1）用于机床，其特征在于，所述测量装置（1）包括一个检测装置（2）和至少两个探针（3，4）。 的检测装置（2）和所述测量探针（3，4）用于无线信号传输的至少每个探针的（3,4）到所述检测装置（2）。 本发明的特征在于，所述检测装置（2）的该接收参数是预定的，其中，用于在每个时间段31提供了提供非重叠的时间间隔（31，32，35，36，37）的一个序列，（接收参数， 32，35，36，37）的测量探针（3正好一个，4）相关联，使得一个（在时间段31，32，35，36中的一个，接收到的37）的信号至探头（3,4）的各自的时间间隔 （31，32，35，36，37）被分配。 此外，每个配有电子单元的探针（3，4），设置在所述传输参数或是可调的，与该电子单元只在那些时间段发送的测量值（31，32，35，36，37）允许，在所述一个 的时间段（31，32，35，36，37），其时间段（31，32，35，36，37），每个探针（3，4）相关联的序列相关联的子序列。 所述测量探针的电子单元（3,4），用于检测同步信号在每个电子单元形成，其中，时间段（31，32，35，36，37），其中各个探针发送的部分序列（3，4）， 相匹配，其中所述检测装置（2）接收的时间间隔的序列。

公开(公告)号：WO2007062993A2

公开(公告)日：2007-06-07

申请号：PCT/EP2006068632

申请日：2006-11-17

Applicant: HUERLIMANN MARTIN

Inventor： HUERLIMANN MARTIN

IPC: G01B5/00 ,  G01B3/22

CPC classification number: G01B5/0004 ,  G01B3/22

Abstract: Disclosed is an adjustable holding device (1) for a dial gauge (25). Said holding device comprises a base (2) for precisely adjusting a dial gauge (25). One end of the base (2) is fitted with a connecting part (3) via which the base (2) can be joined to a stand or similar while a second end of the base (2) is provided with a receiving part (4) for the dial gauge (25). The base (2) is composed of two parallel webs (61, 62) and a cantilever (7) which is disposed between the webs (61, 62) and extends into the base (2). The webs (61, 62) and the cantilever (7) are fixed to the connecting part (3) while the adjusting screw (9) is guided through a bore (10, 33) in the upper web (61) and through a threaded bore (11, 31) located within the cantilever (7). The invention also relates to a method for producing such a base by means of an erosion machine.

Abstract translation: 有公开了一种千分表（25）的可调节的夹持装置（1）。 所述保持装置具有用于千分表（25），其在一端具有连接部（3），精分的基体（2）通过该连接部的基体（2）与三脚架等的（3）可连接的装置。 在第二端，所述基体（2）为千分表（25）的接收部件（4）。 同时，基体（2）根据本发明的包括两个平行的腹板（61，62）和接片（61，62）和在所述基体是可用的（2）突出的悬臂（7）之间。 腹板（61,62）和悬臂梁（7）被固定到穿过上连接板（61）中的孔（10，33）的连接部（3）和所述螺钉（9），并且通过带螺纹的孔（11，31）出来 位于悬臂（7）内。 本发明还涉及一种用于由火花腐蚀机来生产这样的机构的方法。

公开(公告)号：WO2006091361A3

公开(公告)日：2007-03-22

申请号：PCT/US2006004151

申请日：2006-02-06

Applicant: TOKYO ELECTRON LTD ,  VOUNG VI ,  BAO JUNWEI ,  BISCHOFF JOERG

Inventor： VOUNG VI ,  BAO JUNWEI ,  BISCHOFF JOERG

IPC: G01B3/22 ,  G01B11/24

CPC classification number: G01N21/4788 ,  G01B11/24 ,  G03F7/70625

Abstract: The top-view profiles of repeating structures in a wafer are characterized and parameters to represent variations in the top- view profile of the repeating structures are selected. An optical metrology model is developed that includes the selected top-view profile parameters of the repeating structures. The optimized optical metrology model is used to generate simulated diffraction signals that are compared to measured diffraction signals.

Abstract translation: 表征晶片中重复结构的顶视图，并且选择表示重复结构的顶视图分布变化的参数。 开发了一种光学测量模型，其包括所选择的重复结构的顶视图轮廓参数。 优化的光学测量模型用于生成与测量的衍射信号进行比较的模拟衍射信号。

公开(公告)号：WO2015016760A1

公开(公告)日：2015-02-05

申请号：PCT/SE2014/000102

申请日：2014-07-29

Applicant: HJÄRN, Torbjörn

Inventor： HJÄRN, Torbjörn

IPC: G01B3/22 ,  G12B13/00

CPC classification number: G01B3/22

Abstract: A dial indicator that presents the position of a measuring probe (4) on a display (6) The measured value can be defined relative to a zeroing point and the dial indicator includes a zeroing initiator (3) used to initiate zeroing of the position. The dial indicator comprises furthermore a zeroing unit that, when the zeroing initiator is activated, delays the zeroing event until a time when the dial indicator is no longer disturbed by the activation of the zeroing initiator. The zeroing unit comprises a unit that receives data signals from the dial indicator about the position of the measuring probe, and that allow zeroing at the earliest when the probe has become dormant. The zeroing unit may also include one or both of a timer and a three dimensional motion sensor.

Abstract translation: 显示屏上显示测量探针（4）位置的刻度盘指示器（6）可以相对于零点定义测量值，并且刻度盘指示器包括用于启动位置归零的归零启动器（3）。 拨号指示器还包括调零单元，当调零启动器被激活时，该调零单元延迟调零事件，直到拨号指示器不再受到归零启动器的激活的干扰。 归零单元包括从拨盘指示器接收关于测量探针的位置的数据信号的单元，并且当探头已经变为休眠时允许最早的调零。 归零单元还可以包括定时器和三维运动传感器中的一个或两个。

公开(公告)号：WO2006049638A3

公开(公告)日：2006-10-05

申请号：PCT/US2005003734

申请日：2005-02-07

Applicant: ZYGO CORP ,  KUHN WILLIAM P

Inventor： KUHN WILLIAM P

IPC: G01B3/22 ,  G01B9/02 ,  G01B11/24

CPC classification number: G01B9/02057 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02032 ,  G01B11/2441 ,  G01M11/005

Abstract: A test surface of a test object is measured with respect to a reference surface to generate a first relative surface measurement, where the test surface is in a first position relative to the reference surface. The test surface is measured with respect to the reference surface to generate a second relative surface measurement, where the test surface is in a second position relative to the reference surface different from the first position. Estimates of a rotationally varying part of a measurement of the test surface and a rotationally varying part of a measurement of the reference surface are provided. An estimate of a rotationally invariant part of the measurement of the test surface is calculated at a plurality of radial values based on a combination of the relative surface measurements, the provided estimates, and a difference between the first and second relative positions.

Abstract translation: 测试对象的测试表面相对于参考表面被测量以产生第一相对表面测量，其中测试表面相对于参考表面处于第一位置。 相对于参考表面测量测试表面以产生第二相对表面测量，其中测试表面相对于与第一位置不同的参考表面处于第二位置。 提供了测试表面的测量的旋转变化部分和参考表面的测量的旋转变化部分的估计。 基于相对表面测量值，所提供的估计值和第一和第二相对位置之间的差值的组合，以多个径向值计算测试表面的测量的旋转不变部分的估计。