感光性樹脂組成物、硬化物、及び画像表示装置

    公开(公告)号:WO2023090286A1

    公开(公告)日:2023-05-25

    申请号:PCT/JP2022/042219

    申请日:2022-11-14

    Abstract: 本発明は、耐キズ性に優れる硬化物を形成できる感光性樹脂組成物を提供することを目的とする。また本発明は、前記特性に加えて低温硬化性及びフォトリソ性に優れる感光性樹脂組成物、前記感光性樹脂組成物から得られる硬化物、及び前記硬化物を含む画像表示装置を提供することを目的とする。本発明の感光性樹脂組成物は、下記一般式(1)で表される繰り返し構造単位Xを1種以上含むアルカリ可溶性樹脂、及び架橋剤を含む。  (式中、R1は水素又はメチル基であり、R2は炭素数が1以上の連結基であり、R3は前記連結基の炭素原子に結合する下記一般式(2)で表される有機基又はヒドロキシ基であり、R4は前記連結基の炭素原子に結合するヒドロキシ基又は有機基である。)  (式中、R5は母体の炭素数が2~7の炭化水素基、母体の炭素数が3~8であり、かつヘテロ原子を含む有機基、又は母体の炭素数が2~7であり、かつカルボキシ基を有する有機基である。)

    アルコキシ基含有レジスト下層膜形成用組成物

    公开(公告)号:WO2023085295A1

    公开(公告)日:2023-05-19

    申请号:PCT/JP2022/041632

    申请日:2022-11-09

    Abstract: 膜形成成分及び溶剤を含有し、 前記膜形成成分が、芳香族環を含有する第1構造及び窒素原子を含有する第2構造の少なくともいずれかを含む特定構造含有成分を、20質量%以上含み、 前記第1構造が、前記芳香族環に直結した下記式(1)で表される基を含み、 前記第2構造が、前記窒素原子に直結した下記式(1)で表される基を含む、 EB又はEUVリソグラフィー用レジスト下層膜形成用組成物。 (式(1)中、R1は、炭素原子数1~6のアルキレン基を表し、R2は、水素原子、炭素原子数1~6のアルキル基、又は総炭素原子数2~10のアルコキシアルキル基を表す。*は、結合手を表す。)

    レジスト組成物、レジストパターン形成方法、高分子化合物及び化合物

    公开(公告)号:WO2023063203A1

    公开(公告)日:2023-04-20

    申请号:PCT/JP2022/037395

    申请日:2022-10-06

    Abstract: 露光により酸を発生し、かつ、酸の作用により現像液に対する溶解性が変化するレジスト組成物であって、酸の作用により現像液に対する溶解性が変化する樹脂成分(A1)を含有し、前記樹脂成分(A1)は、下記一般式(a0)で表される化合物から誘導される構成単位(a0)を有する、レジスト組成物(式中、Wは重合性基である。Arは、芳香族炭化水素基である。-OHは、ヒドロキシ基である。La0は、2価の連結基である。Ya0は、単結合又は2価の連結基である。Ra01及びRa02は、それぞれ独立に、水素原子、フッ素原子又はフッ素化アルキル基である。n0は、1~4の整数である。mは1以上の整数であって、Mm+はm価の有機カチオンである)。

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