- 专利标题: 一种红外焦平面非均匀性指纹提取及图像校正方法
- 专利标题(英): Infrared focal plane non-uniformity fingerprint extraction and image correction method
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申请号: CN200910273529.X申请日: 2009-12-31
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公开(公告)号: CN101776487B公开(公告)日: 2011-05-18
- 发明人: 张天序 , 杨超 , 张春晓 , 桑红石 , 颜露新 , 袁雅婧 , 刘慧娜 , 施长城
- 申请人: 华中科技大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 代理机构: 华中科技大学专利中心
- 代理商 朱仁玲
- 主分类号: G01J5/52
- IPC分类号: G01J5/52 ; H04N5/33
摘要:
一种红外焦平面非均匀性指纹提取及图像校正方法,属于红外成像技术领域。由生产工艺决定,每个红外焦平面都有相对稳定的非均匀模式及其随温度变化的规律,这两者统称为指纹。本发明提出了非均匀性指纹的定义,并利用小波分解分析焦平面非均匀性在频域中所具有的特征,提炼出属于该焦平面的非均匀性指纹,然后存储在探测器的存储单元中。校正时以环境温度为输入参数,读取出该环境温度下的非均匀性指纹后,便可在指纹的约束下进行非均匀性校正。与常规方法相比较,本方法不需要每次校正时都要用均匀挡板去获取背景帧,校正思路简洁,简化了校正装置和校正过程,校正后的图像非均匀性有明显的改善。
公开/授权文献
- CN101776487A 一种红外焦平面非均匀性指纹提取及图像校正方法 公开/授权日:2010-07-14