-
公开(公告)号：CN101776487A
公开(公告)日：2010-07-14
申请号：CN200910273529.X
申请日：2009-12-31
申请人： 华中科技大学
摘要： 一种红外焦平面非均匀性指纹提取及图像校正方法，属于红外成像技术领域。由生产工艺决定，每个红外焦平面都有相对稳定的非均匀模式及其随温度变化的规律，这两者统称为指纹。本发明提出了非均匀性指纹的定义，并利用小波分解分析焦平面非均匀性在频域中所具有的特征，提炼出属于该焦平面的非均匀性指纹，然后存储在探测器的存储单元中。校正时以环境温度为输入参数，读取出该环境温度下的非均匀性指纹后，便可在指纹的约束下进行非均匀性校正。与常规方法相比较，本方法不需要每次校正时都要用均匀挡板去获取背景帧，校正思路简洁，简化了校正装置和校正过程，校正后的图像非均匀性有明显的改善。
-
公开(公告)号：CN101776486B
公开(公告)日：2011-08-10
申请号：CN200910273496.9
申请日：2009-12-31
申请人： 华中科技大学
摘要： 一种基于红外焦平面非均匀性指纹模式的校正方法，属于红外成像技术领域。目的是在无背景帧的情况下，对非制冷红外焦平面探测器获取的红外图像进行非均匀性校正。本发明包括原始数据采集步骤、非均匀性指纹提取步骤、校正处理步骤。所谓非均匀性指纹，是指每个红外焦平面探测器都有相对稳定的非均匀性模式及其随温度变化的规律，这两者统称为非均匀性指纹。利用这些可以事先估算出来的非均匀性模式和规律，便可以在红外焦平面探测器获取实际红外图像后，对其进行非均匀性校正。与常规的红外焦平面非均匀性校正方法比较本发明能够有效地减小了探测装置的体积，也不需要像常规方法每次校正时都需要利用均匀挡板获取背景帧，从而大大简化了校正过程。
-
公开(公告)号：CN101776486A
公开(公告)日：2010-07-14
申请号：CN200910273496.9
申请日：2009-12-31
申请人： 华中科技大学
摘要： 一种基于红外焦平面非均匀性指纹模式的校正方法，属于红外成像技术领域。目的是在无背景帧的情况下，对非制冷红外焦平面探测器获取的红外图像进行非均匀性校正。本发明包括原始数据采集步骤、非均匀性指纹提取步骤、校正处理步骤。所谓非均匀性指纹，是指每个红外焦平面探测器都有相对稳定的非均匀性模式及其随温度变化的规律，这两者统称为非均匀性指纹。利用这些可以事先估算出来的非均匀性模式和规律，便可以在红外焦平面探测器获取实际红外图像后，对其进行非均匀性校正。与常规的红外焦平面非均匀性校正方法比较本发明能够有效地减小了探测装置的体积，也不需要像常规方法每次校正时都需要利用均匀挡板获取背景帧，从而大大简化了校正过程。
-
公开(公告)号：CN101776487B
公开(公告)日：2011-05-18
申请号：CN200910273529.X
申请日：2009-12-31
申请人： 华中科技大学
摘要： 一种红外焦平面非均匀性指纹提取及图像校正方法，属于红外成像技术领域。由生产工艺决定，每个红外焦平面都有相对稳定的非均匀模式及其随温度变化的规律，这两者统称为指纹。本发明提出了非均匀性指纹的定义，并利用小波分解分析焦平面非均匀性在频域中所具有的特征，提炼出属于该焦平面的非均匀性指纹，然后存储在探测器的存储单元中。校正时以环境温度为输入参数，读取出该环境温度下的非均匀性指纹后，便可在指纹的约束下进行非均匀性校正。与常规方法相比较，本方法不需要每次校正时都要用均匀挡板去获取背景帧，校正思路简洁，简化了校正装置和校正过程，校正后的图像非均匀性有明显的改善。
-
-
-
搜索结果
4 条记录 (耗时 0.027 秒)
