发明授权
- 专利标题: 溅射方法
- 专利标题(英): Sputtering method
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申请号: CN201010149872.6申请日: 2010-04-19
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公开(公告)号: CN101871092B公开(公告)日: 2012-07-18
- 发明人: 大石祐一 , 清田淳也 , 新井真 , 石桥哲 , 小林大士
- 申请人: 株式会社爱发科
- 申请人地址: 日本神奈川县矛崎市秋园2500番地
- 专利权人: 株式会社爱发科
- 当前专利权人: 株式会社爱发科
- 当前专利权人地址: 日本神奈川县矛崎市秋园2500番地
- 代理机构: 北京英特普罗知识产权代理有限公司
- 代理商 齐永红
- 优先权: 2009-106979 2009.04.24 JP
- 主分类号: C23C14/34
- IPC分类号: C23C14/34
摘要:
本发明提供一种反应性溅射方法,可不受靶的边缘区域上形成的绝缘膜的影响而维持高速率成膜。在向溅射室(11)内导入反应气体的同时,向该溅射室内与处理基板S相对设置的导电性靶(41)施加电力,在溅射室内形成等离子体气氛,对各个靶进行溅射,通过反应性溅射在所述处理基板表面形成规定的薄膜。在上述溅射方法中,通过向所述靶施加电力的溅射电源E监视累计投入电力,当该累计值达到规定值时,停止反应气体的导入,仅导入溅射气体对靶进行规定时间的溅射。
公开/授权文献
- CN101871092A 溅射方法 公开/授权日:2010-10-27