溅射装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1667155B

    公开(公告)日:2010-05-26

    申请号:CN200510052718.6

    申请日:2005-03-10

    IPC分类号: C23C14/34 C23C14/35

    摘要: 本发明的目的在于,提供一种可以减少异常放电和非腐蚀部,并能够形成膜厚分布均匀的膜的成膜装置。本发明的成膜装置(1)具有多个靶(31a~31f),对不同的靶(31a~31f)施加极性不同的交流电压。当一方的靶(31a~31f)置于负电位时,另一方的靶(31a~31f)置于正电位,并作为阳极起作用,所以,相邻靶(31a~31f)之间不必配置阳极。因相邻的靶(31a~31f)之间什么都不配置,故可以缩短靶(31a~31f)间的距离s,由于在配置了靶(31a~31f)的区域内不放射溅射粒子的面积的比例减小,故溅射粒子均匀地到达衬底(5),从而使膜厚分布变得均匀。

    溅射方法
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101871092B

    公开(公告)日:2012-07-18

    申请号:CN201010149872.6

    申请日:2010-04-19

    IPC分类号: C23C14/34

    摘要: 本发明提供一种反应性溅射方法,可不受靶的边缘区域上形成的绝缘膜的影响而维持高速率成膜。在向溅射室(11)内导入反应气体的同时,向该溅射室内与处理基板S相对设置的导电性靶(41)施加电力,在溅射室内形成等离子体气氛,对各个靶进行溅射,通过反应性溅射在所述处理基板表面形成规定的薄膜。在上述溅射方法中,通过向所述靶施加电力的溅射电源E监视累计投入电力,当该累计值达到规定值时,停止反应气体的导入,仅导入溅射气体对靶进行规定时间的溅射。

    溅射方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101871092A

    公开(公告)日:2010-10-27

    申请号:CN201010149872.6

    申请日:2010-04-19

    IPC分类号: C23C14/34

    摘要: 本发明提供一种反应性溅射方法,可不受靶的边缘区域上形成的绝缘膜的影响而维持高速率成膜。在向溅射室(11)内导入反应气体的同时,向该溅射室内与处理基板S相对设置的导电性靶(41)施加电力,在溅射室内形成等离子体气氛,对各个靶进行溅射,通过反应性溅射在所述处理基板表面形成规定的薄膜。在上述溅射方法中,通过向所述靶施加电力的溅射电源E监视累计投入电力,当该累计值达到规定值时,停止反应气体的导入,仅导入溅射气体对靶进行规定时间的溅射。

    薄膜形成方法及薄膜形成装置

    公开(公告)号:CN101528972A

    公开(公告)日:2009-09-09

    申请号:CN200780039552.1

    申请日:2007-10-12

    IPC分类号: C23C14/34

    摘要: 当隔一定间隔并列设置多个阴极靶,用溅镀形成规定薄膜的情况下,抑制在处理基板表面上形成的薄膜上产生波浪形的膜厚分布及膜质分布。当通过给溅射室11a内与处理基板S相向且隔规定间隔并列设置的多个阴极靶31a~31h投入电力,用溅镀形成规定的薄膜期间,使各阴极靶平行于处理基板以一定速度往返运动的同时,使各阴极靶的前面分别形成隧道形的磁力线M的磁铁组合件分别平行于各阴极靶,以一定速度往返运动。当各阴极靶到达往返运动的折返位置时,使各阴极靶的往返运动在规定的时间内停止。