发明授权
CN102147828B 体引出结构SOI场效应晶体管等效电学装置及建模方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 体引出结构SOI场效应晶体管等效电学装置及建模方法
- 专利标题(英): Equivalent electrical model of SOI field effect transistor of body leading-out structure and modeling method
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申请号: CN201110072207.6申请日: 2011-03-24
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公开(公告)号: CN102147828B公开(公告)日: 2013-06-26
- 发明人: 陈静 , 伍青青 , 罗杰馨 , 柴展 , 王曦
- 申请人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 申请人地址: 上海市长宁区长宁路865号
- 专利权人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 当前专利权人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 当前专利权人地址: 上海市长宁区长宁路865号
- 代理机构: 上海光华专利事务所
- 代理商 李仪萍
- 主分类号: G06F17/50
- IPC分类号: G06F17/50
摘要:
本发明公开了一种体引出结构的SOI场效应晶体管的等效电学模型及其建模方法,该等效电学模型由内部场效应晶体管和外部场效应晶体管并联组成,其中将所述体引出结构SOI场效应晶体管分为体引出部分和主体部分,内部场效应晶体管代表体引出部分的寄生晶体管,外部场效应晶体管代表主体部分的正常晶体管。本发明提出的等效电学模型完整地包括了体引出结构SOIMOSFET器件物理结构的各个部分,即体引出部分和主体部分对其电学特性的影响,提高了模型对器件电学特性的拟合效果。
公开/授权文献
- CN102147828A 体引出结构SOI场效应晶体管等效电学模型及建模方法 公开/授权日:2011-08-10