发明授权
- 专利标题: 晶圆级芯片尺寸封装结构及其封装方法
- 专利标题(英): Encapsulation structure and encapsulation method for wafer-level die sizes
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申请号: CN201110240043.3申请日: 2011-08-19
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公开(公告)号: CN102280433B公开(公告)日: 2013-04-17
- 发明人: 张坚 , 杨红颖 , 王之奇 , 俞国庆 , 王宥军 , 王蔚
- 申请人: 苏州晶方半导体科技股份有限公司
- 申请人地址: 江苏省苏州市苏州工业园区汀兰巷29号
- 专利权人: 苏州晶方半导体科技股份有限公司
- 当前专利权人: 苏州晶方半导体科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省苏州市苏州工业园区汀兰巷29号
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 骆苏华
- 主分类号: H01L23/495
- IPC分类号: H01L23/495 ; H01L23/31 ; H01L21/60 ; H01L21/56
摘要:
本发明提供晶圆级芯片尺寸封装结构及其制作方法,晶圆级芯片尺寸封装结构包括:减薄晶圆,所述减薄晶圆一侧的表面形成多个芯片焊垫;保护层,至少覆盖于所述减薄晶圆形成有芯片焊垫的一侧的表面以及所述芯片焊垫的表面,所述保护层内与所述芯片焊垫对应的位置处形成有焊球开口;焊球,位于所述焊球开口内,所述焊球与所述芯片焊垫电连接。所述方法包括:提供减薄晶圆,所述减薄晶圆一侧的表面形成多个芯片焊垫;形成保护层,所述保护层至少覆盖所述减薄晶圆的形成有芯片焊垫一侧的表面以及所述芯片焊垫的表面;所述保护层内形成焊球开口;在所述焊球开口内形成焊球,所述焊球与所述芯片焊垫电连接。本发明获得的晶圆级芯片尺寸封装的厚度较小。
公开/授权文献
- CN102280433A 晶圆级芯片尺寸封装结构及其封装方法 公开/授权日:2011-12-14
IPC分类: