- 专利标题: 一种基于正交试验的漏磁检测系统的磁路优化设计方法
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申请号: CN201410259480.3申请日: 2014-06-12
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公开(公告)号: CN104008251B公开(公告)日: 2017-06-13
- 发明人: 高雯 , 郑莉 , 许振丰 , 徐玉峰
- 申请人: 北京华航无线电测量研究所
- 申请人地址: 北京市东城区和平里南街3号
- 专利权人: 北京华航无线电测量研究所
- 当前专利权人: 北京华航无线电测量研究所
- 当前专利权人地址: 北京市东城区和平里南街3号
- 代理机构: 北京天达知识产权代理事务所
- 代理商 胡时冶; 白海燕
- 主分类号: G06F17/50
- IPC分类号: G06F17/50
摘要:
本发明公开了一种基于正交试验的漏磁检测系统的磁路优化设计方法,该方法包括设计磁路仿真模型、编写仿真程序、设计影响因子水平表并生成正交试验表、执行仿真程序并得到仿真结果、计算漏磁信号、进行相关数据统计分析、得到最优磁路设计等步骤。本发明结合漏磁检测系统磁路优化设计,基于大量数学分析和仿真,提出了一种新的磁路优化方法,其能够在有限的试验次数获得与遍历试验相似的试验结果,节省了计算时间和大规模的数据处理,提高了磁路优化的准确性和效率。
公开/授权文献
- CN104008251A 一种基于正交试验的漏磁检测系统的磁路优化设计方法 公开/授权日:2014-08-27