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公开(公告)号：CN104008251B
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201410259480.3
申请日：2014-06-12
申请人： 北京华航无线电测量研究所
IPC分类号： G06F17/50
摘要： 本发明公开了一种基于正交试验的漏磁检测系统的磁路优化设计方法，该方法包括设计磁路仿真模型、编写仿真程序、设计影响因子水平表并生成正交试验表、执行仿真程序并得到仿真结果、计算漏磁信号、进行相关数据统计分析、得到最优磁路设计等步骤。本发明结合漏磁检测系统磁路优化设计，基于大量数学分析和仿真，提出了一种新的磁路优化方法，其能够在有限的试验次数获得与遍历试验相似的试验结果，节省了计算时间和大规模的数据处理，提高了磁路优化的准确性和效率。
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公开(公告)号：CN104820015A
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201510232392.9
申请日：2015-05-08
申请人： 北京华航无线电测量研究所
摘要： 本发明公开了一种金属表面缺陷检测系统及其检测方法，通过控制器产生方波信号以及发送给信号处理电路的控制信号；功率放大电路激发激励线圈在被测金属表面产生涡流效应；将差动线圈探头中的第一检测线圈和第二检测线圈产生感应信号通过信号处理电路进行做差、放大、滤波和峰值保持处理；输出直流电压信号；移动差动线圈探头的位置，重复上述过程，对被测金属表面进行扫描检测。本发明的金属表面缺陷检测系统及其检测方法能够对金属表面缺陷以较低的采样速度、较直观的检测结果进行检测，同时能够与漏磁检测方法进行集成复合检测，从而实现管道漏磁检测内外缺陷区分。
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公开(公告)号：CN104820015B
公开(公告)日：2018-05-15
申请号：CN201510232392.9
申请日：2015-05-08
申请人： 北京华航无线电测量研究所
摘要： 本发明公开了一种金属表面缺陷检测系统及其检测方法，通过控制器产生方波信号以及发送给信号处理电路的控制信号；功率放大电路激发激励线圈在被测金属表面产生涡流效应；将差动线圈探头中的第一检测线圈和第二检测线圈产生感应信号通过信号处理电路进行做差、放大、滤波和峰值保持处理；输出直流电压信号；移动差动线圈探头的位置，重复上述过程，对被测金属表面进行扫描检测。本发明的金属表面缺陷检测系统及其检测方法能够对金属表面缺陷以较低的采样速度、较直观的检测结果进行检测，同时能够与漏磁检测方法进行集成复合检测，从而实现管道漏磁检测内外缺陷区分。
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公开(公告)号：CN104008251A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201410259480.3
申请日：2014-06-12
申请人： 北京华航无线电测量研究所
IPC分类号： G06F17/50
摘要： 本发明公开了一种基于正交试验的漏磁检测系统的磁路优化设计方法，该方法包括设计磁路仿真模型、编写仿真程序、设计影响因子水平表并生成正交试验表、执行仿真程序并得到仿真结果、计算漏磁信号、进行相关数据统计分析、得到最优磁路设计等步骤。本发明结合漏磁检测系统磁路优化设计，基于大量数学分析和仿真，提出了一种新的磁路优化方法，其能够在有限的试验次数获得与遍历试验相似的试验结果，节省了计算时间和大规模的数据处理，提高了磁路优化的准确性和效率。
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