发明公开
- 专利标题: 基板处理装置及基板处理方法
- 专利标题(英): Substrate treatment device and substrate treatment method
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申请号: CN201710206347.5申请日: 2017-03-07
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公开(公告)号: CN107256823A公开(公告)日: 2017-10-17
- 发明人: 齐藤裕树 , 林航之介 , 大田垣崇 , 长岛裕次
- 申请人: 芝浦机械电子株式会社
- 申请人地址: 日本神奈川县
- 专利权人: 芝浦机械电子株式会社
- 当前专利权人: 芝浦机械电子株式会社
- 当前专利权人地址: 日本神奈川县
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 周欣; 陈建全
- 优先权: 2016-043869 20160307 JP 2017-027341 20170216 JP
- 主分类号: H01L21/02
- IPC分类号: H01L21/02 ; H01L21/67 ; H01L21/677
摘要:
本发明的基板处理装置及基板处理方法通过高效地生成亚硝酸,生成具有适合蚀刻的亚硝酸浓度的蚀刻液,提高了蚀刻的效率。该基板处理装置(10)使用含有氢氟酸及硝酸的蚀刻液(L)对半导体晶片(W)进行处理,其具备:储存蚀刻液(L)的储存箱(210)、测量蚀刻液(L)中的亚硝酸的浓度的浓度传感器(256)、向蚀刻液(L)供给IPA而将亚硝酸的浓度维持在规定值以上的醇供给部(310)、将储存箱(210)内的蚀刻液(L)向半导体晶片(W)供给的基板处理单元(100)。
公开/授权文献
- CN107256823B 基板处理装置及基板处理方法 公开/授权日:2021-06-11
IPC分类: