- 专利标题: 消除电容电压系数对全差分SAR-ADC性能影响的方法
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申请号: CN201810153781.6申请日: 2018-02-22
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公开(公告)号: CN108259040B公开(公告)日: 2021-02-05
- 发明人: 杨小坤 , 原义栋 , 胡毅 , 何洋 , 李振国
- 申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- 专利权人: 北京智芯微电子科技有限公司,国网信息通信产业集团有限公司
- 当前专利权人: 北京智芯微电子科技有限公司,国网信息通信产业集团有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- 代理机构: 北京润平知识产权代理有限公司
- 代理商 王崇
- 主分类号: H03M1/06
- IPC分类号: H03M1/06 ; H03M1/46
摘要:
本发明公开了一种消除电容电压系数对全差分SAR‑ADC性能影响的方法。该方法包括以下步骤:提供一种全差分SAR‑ADC,其包括多个电容,所述多个电容包括第一电容和第二电容,且所述多个电容的电压二阶系数值包括正数和负数;将满足特定条件的第一电容和第二电容进行并联从而使并联后的电容的电压二阶系数为0,所述特定条件为A1K1+A2K2=0,其中A1为第一电容的电压二阶系数,A2为第二电容的电压二阶系数,K1是第一电容的理想电容值,K2是第二电容的理想电容值。该消除电容电压系数对全差分SAR‑ADC性能影响的方法能够消除或降低电容电压系数对全差分SAR‑ADC的性能影响,降低高精度SAR‑ADC的设计瓶颈。
公开/授权文献
- CN108259040A 消除电容电压系数对全差分SAR-ADC性能影响的方法 公开/授权日:2018-07-06