消除电容电压系数对全差分SAR-ADC性能影响的方法

    公开(公告)号:CN108259040A

    公开(公告)日:2018-07-06

    申请号:CN201810153781.6

    申请日:2018-02-22

    IPC分类号: H03M1/06 H03M1/46

    摘要: 本发明公开了一种消除电容电压系数对全差分SAR‑ADC性能影响的方法。该方法包括以下步骤:提供一种全差分SAR‑ADC,其包括多个电容,所述多个电容包括第一电容和第二电容,且所述多个电容的电压二阶系数值包括正数和负数;将满足特定条件的第一电容和第二电容进行并联从而使并联后的电容的电压二阶系数为0,所述特定条件为A1K1+A2K2=0,其中A1为第一电容的电压二阶系数,A2为第二电容的电压二阶系数,K1是第一电容的理想电容值,K2是第二电容的理想电容值。该消除电容电压系数对全差分SAR‑ADC性能影响的方法能够消除或降低电容电压系数对全差分SAR‑ADC的性能影响,降低高精度SAR‑ADC的设计瓶颈。

    一种带隙基准参考源电路

    公开(公告)号:CN107608440A

    公开(公告)日:2018-01-19

    申请号:CN201711014994.2

    申请日:2017-10-25

    IPC分类号: G05F1/567

    摘要: 本发明公开了一种带隙基准参考源电路,包括:第一P型晶体管、第二P型晶体管、第三P型晶体管、第一三极管、第二三极管、第三三极管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻和差分放大器;差分放大器的第一端与第四电阻和第二电阻之间的连接节点相连,差分放大器的第二端与第五电阻和第一电阻之间的连接节点相连;差分放大器的第一端的电压与第二端的电压相同。该带隙基准参考源电路,通过选取适当的阻值,可以得到小于1V的带隙基准电压,并可以使得当VDD小于1V时也保证带隙基准参考源电路正常工作。同时,可以消除温度引起漏源电压变化,从而降低沟道调制效应的影响。

    用于检测环路振荡器锁定的电路

    公开(公告)号:CN112350723A

    公开(公告)日:2021-02-09

    申请号:CN202011290399.3

    申请日:2020-11-17

    IPC分类号: H03L7/099

    摘要: 本发明实施例提供一种用于检测环路振荡器锁定的电路,属于集成电路设计领域。所述电路包括:电荷泵和电容,其中所述电荷泵包括串联在一起的充电模块和放电模块,所述充电模块受充电控制信号的控制而对所述电容进行充电,其中所述充电控制信号经由所述环路振荡器的至少两级反相器的输出的逻辑运算而形成;所述放电模块受放电控制信号的控制而对所述电容进行放电,其中所述放电控制信号经由所述环路振荡器的至少两级反相器的输出的逻辑运算而形成;将所述电容与所述电荷泵相连的一端的信号检测为锁定信号,在所述锁定信号为高电平的情况下,指示所述环路振荡器锁定。其能够实时精确的检测环路振荡器的状态。

    消除电容电压系数对全差分SAR-ADC性能影响的方法

    公开(公告)号:CN108259040B

    公开(公告)日:2021-02-05

    申请号:CN201810153781.6

    申请日:2018-02-22

    IPC分类号: H03M1/06 H03M1/46

    摘要: 本发明公开了一种消除电容电压系数对全差分SAR‑ADC性能影响的方法。该方法包括以下步骤:提供一种全差分SAR‑ADC,其包括多个电容,所述多个电容包括第一电容和第二电容,且所述多个电容的电压二阶系数值包括正数和负数;将满足特定条件的第一电容和第二电容进行并联从而使并联后的电容的电压二阶系数为0,所述特定条件为A1K1+A2K2=0,其中A1为第一电容的电压二阶系数,A2为第二电容的电压二阶系数,K1是第一电容的理想电容值,K2是第二电容的理想电容值。该消除电容电压系数对全差分SAR‑ADC性能影响的方法能够消除或降低电容电压系数对全差分SAR‑ADC的性能影响,降低高精度SAR‑ADC的设计瓶颈。