- 专利标题: 用于在等离子体处理腔室中的原位腔室清洁效率提高的等离子体处理工艺
-
申请号: CN201780027736.X申请日: 2017-04-11
-
公开(公告)号: CN109075030A公开(公告)日: 2018-12-21
- 发明人: 张林 , 路雪松 , 安德鲁·V·勒 , 吴昌锡 , 鑫海·韩
- 申请人: 应用材料公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚州
- 专利权人: 应用材料公司
- 当前专利权人: 应用材料公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚州
- 代理机构: 北京律诚同业知识产权代理有限公司
- 代理商 徐金国; 赵静
- 优先权: 15/145,750 2016.05.03 US
- 国际申请: PCT/US2017/027020 2017.04.11
- 国际公布: WO2017/192249 EN 2017.11.09
- 进入国家日期: 2018-11-02
- 主分类号: H01L21/02
- IPC分类号: H01L21/02 ; H01L21/3065 ; H01L21/67 ; H01J37/32
摘要:
本公开内容的实施方式包括用于半导体基板制造工艺的等离子体处理腔室的原位腔室清洁效率提高工艺的方法。在一个实施方式中,用于在清洁等离子体工艺之后执行等离子体处理工艺的方法包括以下步骤:在没有设置在等离子体处理腔室上的基板的情况下,在等离子体处理腔室中执行清洁工艺;随后将包括至少含氢气体和/或含氧气体的等离子体处理气体混合物供应到等离子体处理腔室中;将RF源功率施加到处理腔室,以由等离子体处理气体混合物形成等离子体;和等离子体处理处理腔室的内表面。
公开/授权文献
- CN109075030B 用于在等离子体处理腔室中的原位腔室清洁效率提高的等离子体处理工艺 公开/授权日:2023-06-20
IPC分类: