Invention Publication
- Patent Title: 氢终端金刚石基两步法介质层场效应晶体管及其制备方法
- Patent Title (English): Hydrogen terminal diamond-based two-step method dielectric layer field effect transistor, and preparation method
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Application No.: CN201910094128.1Application Date: 2019-01-30
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Publication No.: CN109920736APublication Date: 2019-06-21
- Inventor: 王宏兴 , 王艳丰 , 常晓慧 , 王玮 , 问峰 , 王若铮 , 侯洵
- Applicant: 西安交通大学
- Applicant Address: 陕西省西安市碑林区咸宁西路28号
- Assignee: 西安交通大学
- Current Assignee: 西安交通大学
- Current Assignee Address: 陕西省西安市碑林区咸宁西路28号
- Agency: 陕西增瑞律师事务所
- Agent 张瑞琪
- Main IPC: H01L21/336
- IPC: H01L21/336 ; H01L29/78

Abstract:
本发明公开了氢终端金刚石基两步法介质层场效应晶体管及其制备方法,在金刚石衬底1上生长出氢终端金刚石外延薄膜2,在氢终端金刚石外延薄膜2上制备出源极3和漏极4,沉积介质层5覆盖所有结构,对介质层5图形化处理,保留源极3、漏极4及其之间的介质层5,在源极3和漏极4之间的介质层5上沉积出栅极6;本发明采用两步法制备介质层,通过两个步骤完成介质层的制备,先使用低温工艺制备一层介质层保护氢终端金刚石的二维空穴气不被破坏,再使用高温工艺沉积高质量介质层改善器件性能,从而提升器件的电学特性,该两步法制备的氧化铝薄膜,既可以最大程度的保护氢终端金刚石的二维空穴气,又可以得到高质量的介质层氧化铝薄膜。
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IPC分类: